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發(fā)布時(shí)間:2024-05-05
關(guān)于芯片測試座的八個(gè)特點(diǎn),Ic測試座的8個(gè)主要特點(diǎn)1、有自動,OK測試,F(xiàn)AIL測試三種模式選用2、測試機(jī)的接口信號高低電平可以由用戶設(shè)定3、有及暫停模式,分別用于檢修機(jī)器及臨時(shí)排除卡料之用4,深圳高端定制芯片測試哪里好、可顯示OK/FAIL料的測試數(shù)量及總測試次數(shù)5、FAIL料可以由用戶設(shè)定重測次數(shù)6、有一條進(jìn)料管,一條OK出料管及一條FALL出料管,由電磁鐵驅(qū)動分選棱到OK/FAIL管7,深圳高端定制芯片測試哪里好,深圳高端定制芯片測試哪里好、機(jī)械異常時(shí)由LED顯示異常代碼,方便用戶排除故障8、出料管滿管數(shù)量可由客戶自由設(shè)定我司主要從事半導(dǎo)體集成電路測試+燒錄代工服務(wù)。深圳高端定制芯片測試哪里好
IC測試程序繁瑣,要求很高。晶圓測試和成品測試本質(zhì)上都是集成電路的電學(xué)性能測試,包括芯片的電特性、電學(xué)參數(shù)和電路功能,其功能是器件的行為(能力),特性是器件行為的表現(xiàn),而特性參數(shù)是器件的主要特征。因此,電性能測試就是對集成電路的電特性、電參數(shù)和功能在不同條件下進(jìn)行的檢驗(yàn)。此外,在IC測試的過程中還會相應(yīng)地采取一系列測試規(guī)范以提高集成電路設(shè)計(jì)、工藝控制和使用水平,具體包括特性規(guī)范、生產(chǎn)規(guī)范、用戶規(guī)范和壽命終結(jié)規(guī)范,分別對應(yīng)芯片工作條件的容許限度和電路性能達(dá)標(biāo)的評價(jià)、生產(chǎn)過程中的在線測試、用戶驗(yàn)收測試、可靠性評估。 深圳高端定制芯片測試哪里好芯片測試是指對芯片進(jìn)行各種測試以確保其功能和性能符合設(shè)計(jì)要求。
測試機(jī)、探針臺、分選機(jī)所應(yīng)用的環(huán)節(jié)并不相同,其技術(shù)難度也是各有差異。測試機(jī)屬于定制化設(shè)備,探針臺、分選機(jī)則更加通用。
1.測試機(jī)屬于定制化設(shè)備,其主要是由測試機(jī)身和內(nèi)部的測試板卡構(gòu)成,均由測試機(jī)廠設(shè)計(jì)和制造。測試機(jī)機(jī)身是一種標(biāo)準(zhǔn)化的設(shè)備,內(nèi)部可以插入不同的測試板卡。每一種測試板卡可以滿足對某些功能的測試,測試廠在做芯片測試的時(shí)候,需要根據(jù)芯片的功能特性選擇不同的測試板卡進(jìn)行搭配。此外,每一種芯片都需要編寫一套特有的測試程序。因此,測試機(jī)的定制性主要體現(xiàn)在測試板卡的定制和測試程序的定制。當(dāng)一款芯片更新?lián)Q代時(shí),測試機(jī)的機(jī)身不需要更換,內(nèi)部的測試板卡則會根據(jù)接下來要測試的芯片做調(diào)整,測試程序則一定需要更新。探針臺和分選機(jī)則是相對通用設(shè)備,適用范圍較廣。
2.探針臺主要根據(jù)晶圓尺寸選型,
3.分選機(jī)主要根據(jù)芯片封裝方式和測試并行度要求選型。不同的晶圓和芯片,通常不需要對探針臺和分選機(jī)做太大改動。
對于芯片來說,有兩種類型的測試,抽樣測試和生產(chǎn)全測。抽樣測試,比如設(shè)計(jì)過程中的驗(yàn)證測試,芯片可靠性測試,芯片特性測試等等,這些都是抽測,主要目的是為了驗(yàn)證芯片是否符合設(shè)計(jì)目標(biāo),比如驗(yàn)證測試就是從功能方面來驗(yàn)證是否符合設(shè)計(jì)目標(biāo),可靠性測試是確認(rèn)z終芯片的壽命以及是否對環(huán)境有一定的魯棒性,而特性測試測試驗(yàn)證設(shè)計(jì)的冗余度。而生產(chǎn)全測的測試,這種是需要100%全測的,這種測試就是把缺陷挑出來,分離壞品和好品的過程。在芯片的價(jià)值鏈中按照不同階段又分成晶圓測試和Z終測試一顆芯片要做到終端產(chǎn)品上,一般要經(jīng)過芯片設(shè)計(jì)、晶圓制造、晶圓測試、封裝、成品測試、板級封裝等環(huán)節(jié)。
1)隨著集成電路應(yīng)用越趨于廣,需求量越來越大,對測試成本要求越來越高,因此對測試機(jī)的測試速度要求越來越高(如源的響應(yīng)速度要求達(dá)到微秒級);
2)由于集成電路參數(shù)項(xiàng)目越來越多,如電壓、電流、時(shí)間、溫度、電阻、電容、頻率、脈寬、占空比等,對測試機(jī)功能模塊的需求越來越多;
3)狀態(tài)、測試參數(shù)監(jiān)控、生產(chǎn)質(zhì)量數(shù)據(jù)分析等方面,結(jié)合大數(shù)據(jù)的應(yīng)用,對測試機(jī)的數(shù)據(jù)存儲、采集、分析方面提出了較高的要求。
4)客戶對集成電路測試精度要求越來越高(微伏、微安級精度),如對測試機(jī)鉗位精度要求從1%提升至0.25%、時(shí)間測量精度提高到微秒級,對測試機(jī)測試精度要求越趨嚴(yán)格;
5)集成電路產(chǎn)品門類的增加,要求測試設(shè)備具備通用化軟件開發(fā)平臺,方便客戶進(jìn)行二次應(yīng)用程序開發(fā),以適應(yīng)不同產(chǎn)品的測試需求;測試設(shè)備供應(yīng)商對設(shè)備 為您提供完整芯片測試開發(fā)及量產(chǎn)一站式服務(wù)。深圳本地芯片測試哪里好
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芯片測試座的三大作用:芯片測試座檢查在線的單個(gè)元器件以和各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況,具有操作簡單、故障定位準(zhǔn)確,快捷迅速等特點(diǎn)。簡單點(diǎn)描述就是一個(gè)連接導(dǎo)通的插座;作用一:來料檢測,采購回來的IC在使用前有時(shí)會進(jìn)行品質(zhì)檢驗(yàn),找出不良品,從而提高SMT的良品率。IC的品質(zhì)光憑肉眼是看不出來的,必須通過加電檢測,用常用的方法檢測IC的電流、電壓、電感、電阻、電容也不能完全判斷IC的好壞;通過IC測試夾具應(yīng)用功能跑程序,可以判斷IC的好壞。作用二:返修檢測,有時(shí)生產(chǎn)過程中主板出了問題,倒底是哪里出了問題?不好判斷!有了IC測試治具什么都好說,把拆下的IC放到測試座內(nèi)通過測試就能排除是否IC方面的原因。作用三:IC分檢,返修的IC,在拆下的過程有可能損壞,用IC測試治具可以將壞的IC分檢出來,可以節(jié)省很多人力、物力,從而減小各項(xiàng)成本。拿BGA封裝的IC來說,如果IC沒有分檢,壞的IC貼上經(jīng)過FCT測試檢查出來后,把IC拆下來,要烘烤、清洗,很麻煩,還有可能損壞相關(guān)器件。用IC測試夾具檢測就可以大減少出現(xiàn)上述問題的機(jī)率。深圳高端定制芯片測試哪里好
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