光斑大小光斑分析儀光斑測試 深圳市維度科技股份供應(yīng) 深圳市維度科技股份供應(yīng)

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發(fā)布時間:2025-04-10

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Dimension-Labs 維度光電相機式與狹縫式光斑分析儀的選擇需基于應(yīng)用場景的光斑尺寸、功率等級、脈沖特性及形態(tài)復(fù)雜度。相機式基于面陣傳感器成像,可測大10mm 光斑(受限于 sensor 尺寸),小光斑為 55μm(10 倍 5.5μm 像元),結(jié)合 6 片衰減片(BeamHere 標配)實現(xiàn) 1W 功率測量,適合大光斑、脈沖激光(觸發(fā)模式同步捕獲單脈沖)及非高斯光束(如貝塞爾光束)檢測,通過面陣實時反饋保留復(fù)雜形態(tài)細節(jié)。狹縫式采用正交狹縫掃描,刀口模式可測小 2.5μm 光斑,創(chuàng)新狹縫物理衰減機制允許直接測量近 10W 高功率激光,適合亞微米光斑、高功率及高斯光斑檢測,但需嚴格匹配掃描頻率與激光重頻以避免脈沖丟失,且復(fù)雜光斑會因狹縫累加導(dǎo)致能量分布失真。維度光電 BeamHere 系列提供雙技術(shù)方案,用戶可根據(jù)光斑尺寸(亞微米選狹縫,大光斑選相機)、功率等級(高功率選狹縫,微瓦級選相機)及光斑類型(復(fù)雜形態(tài)選相機,高斯光斑選狹縫)靈活選擇,實現(xiàn)光斑檢測全場景覆蓋。

維度光電BeamHere 光斑分析儀系列,提供全場景激光光束質(zhì)量分析解決方案。產(chǎn)品覆蓋 190-2700nm 光譜,包括掃描狹縫式和相機式技術(shù),實現(xiàn)亞微米至毫米級光斑測量。掃描狹縫式支持 2.5μm-10mm 光斑檢測,具備 0.1μm 分辨率,適用于高功率激光。相機式提供 400-1700nm 響應(yīng),實現(xiàn) 2D/3D 成像分析,測量功率范圍 1μW-1W。M 因子測試模塊基于 ISO 11146 標準,評估光束質(zhì)量。軟件提供自動化分析和標準化報告。技術(shù)創(chuàng)新包括正交狹縫轉(zhuǎn)動輪結(jié)構(gòu)和適應(yīng)復(fù)雜光斑的面陣傳感器。產(chǎn)品適用于光束整形檢驗、光鑷系統(tǒng)檢測和準直監(jiān)測。結(jié)構(gòu)設(shè)計優(yōu)化,通過 CE/FCC 認證,應(yīng)用于多個領(lǐng)域,助力光束質(zhì)量分析和工藝優(yōu)化。

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