供貨總量:1臺
發(fā)貨地點(diǎn):廣東省深圳市
發(fā)布時間:2024-07-11
RT290是一組可進(jìn)行8翻轉(zhuǎn)觸點(diǎn)組單穩(wěn)和雙穩(wěn)繼電器器件的專用參數(shù)測試系統(tǒng)中的最新型號。注意到現(xiàn)有的繼電器測試設(shè)備的不同局限性和缺點(diǎn),RT290具有以下的優(yōu)點(diǎn):
全并行的測試結(jié)構(gòu)
精確的數(shù)字定時
全4線的開爾文器件測量
高可靠性- RT290全部使用固態(tài)開關(guān)
測試夾具的連續(xù)性測試
觸點(diǎn)負(fù)載可編程
內(nèi)部基準(zhǔn)可跟蹤
快速編譯軟件
沒有固件-所有的軟件都基于PC機(jī)
菜單式的編程
支持全自動的機(jī)械手和基于繞線的測試夾具
RT290中的一個關(guān)鍵設(shè)計(jì)是將高壓功能從系統(tǒng)中分離出去,使之成為分離的產(chǎn)品。雖然,一見之下集成了高壓功能的系統(tǒng)能夠顯得較有吸引力。但是在設(shè)計(jì)適用于參數(shù)測試和高壓測試的測試夾具上有極大的不同,因此將這兩種功能結(jié)合在一起是不可能的。
RT290利用一臺PC機(jī)平臺,通過專用的高速電路組成適用于繼電器測試所需的測試系統(tǒng)。
圖1表示了RT290所具有的功能。它包括了一個全并行的“翻轉(zhuǎn)組”結(jié)構(gòu),其中每個器件的觸點(diǎn)組都分配了自己專用的“繼電器測試”硬件。這些測試硬件的測試結(jié)果可以直接傳送到內(nèi)部PC機(jī)的I/O總線上,其傳送速度比使用類似IEEEE或RS232的系統(tǒng)快幾百倍。這一方法也取消了系統(tǒng)中的固件,使軟件升級變得十分容易。
待測繼電器位于圖中的底部,它的每個翻轉(zhuǎn)觸點(diǎn)都與單獨(dú)的時序、邏輯狀態(tài)監(jiān)測和觸點(diǎn)電阻測試硬件相連。由于不采用重復(fù)驗(yàn)證電路,這種并行結(jié)構(gòu)縮短了測試時間并且真正實(shí)現(xiàn)了觸點(diǎn)測試結(jié)果與高度模塊化的測試系統(tǒng)之間的有機(jī)結(jié)合,這使得RT290的功能可以很容易的適用于各種復(fù)雜的器件測試。
RT290提供三級器件測試。單穩(wěn)繼電器能夠被設(shè)置為默認(rèn)狀態(tài),雙穩(wěn)繼電器的控制通過一個附加的電源線圈選件提供。系統(tǒng)還提供“光MOS”測試功能。繼電器線圈將電源與器件連接起來,這種連接是通過直接插接在RT290前面的一個鉸接板上的一塊可移動插卡上的繞線抑制網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)的。用戶可以根據(jù)相應(yīng)的測試需要在插卡上設(shè)置抑制器件,例如一個簡單的二極管,一個R/C網(wǎng)絡(luò),或一個可變電阻。通過簡單的軟件控制可以在個別的測試中將這些網(wǎng)絡(luò)切入或斷開。所有繞線上的電源都通過一個軟件編程電源提供,這個軟件編程電源可以直接通過軟件控制電壓和電流條件。由于具有更多的先進(jìn)技術(shù),這種電源在“捕捉”其他觸點(diǎn)和繞線參數(shù)時能夠合成任意波形。
對于每一個器件的翻轉(zhuǎn)觸點(diǎn)在“觸點(diǎn)卡”上都提供了專門的硬件,觸點(diǎn)卡最多可支持8個翻轉(zhuǎn)觸點(diǎn)。每個觸點(diǎn)卡都有用于監(jiān)測開/關(guān)狀態(tài),常開點(diǎn)和常閉點(diǎn)的觸點(diǎn)電阻,和觸點(diǎn)時間參數(shù)的電路。在典型的器件測試過程中,所有的觸點(diǎn)卡一起進(jìn)行測試和測量。這一特點(diǎn)對于提高測試設(shè)備的測試量和測試數(shù)據(jù)的質(zhì)量有重要的好處,因?yàn)樗械臏y試結(jié)果都來自同一次器件操作而不是重復(fù)的機(jī)械循環(huán)。雖然這種結(jié)構(gòu)是很重要的,但基于這種物理結(jié)構(gòu)的良好的性能和易于維護(hù)的特性也是十分重要的。
器件測試
適配器連續(xù)性;線圈電阻;觸點(diǎn)電阻;觸點(diǎn)電阻穩(wěn)定性;動作和釋放時間;二極管檢測;動作和釋放電壓Vramp;動作和釋放電流Iramp;V功能測試V脈沖測試;觸點(diǎn)組短路;磁性電路測試*抗電強(qiáng)度DWV和絕緣阻抗IR測試(RT900 option)
系統(tǒng)性能指標(biāo)
觸點(diǎn)電阻測量
FSD 范圍 |
分辨率 |
精確度 |
測試電壓(注1) |
測試電流 |
測試頻率 |
100mR |
0.015mR |
0.2% + 1mR |
10mV |
10mA |
AC 1kHz |
1R |
0.15mR |
0.2% + 3mR |
10mV |
10mA |
AC 1kHz |
10R |
1.5mR |
0.2% + 0.03R |
10mV |
1mA |
AC 1kHz |
100R |
15mR |
0.4% + 0.3R |
100mV |
1mA |
DC |
1kR |
0.15R |
0.3% + 3R |
1V |
1mA |
DC |
10kR |
1.5R |
0.3% + 30R |
100mV |
10uA |
DC |
100kR |
15R |
0.5% + 300R |
1V |
10uA |
DC |
1MR |
150R |
1.5% + 3kR |
1V |
1uA |
DC |
觸點(diǎn)負(fù)載
負(fù)載 |
說明 |
開路電壓 |
短路電流 |
DCN |
無負(fù)載干電路 |
NA (1) |
NA (1) |
CA0 |
零觸點(diǎn)應(yīng)用 |
與CR的范圍相同(2) |
與CR的范圍相同(2) |
L1 |
內(nèi)部負(fù)載1 |
6V DC |
100Ma (3) |
L2 |
內(nèi)部負(fù)載2 |
6V DC |
1A (3) |
L3 |
外部負(fù)載1 |
6 - 10V |
基于50R負(fù)載電阻- 參見注4 |
L4 |
外部負(fù)載2 |
6 - 10V |
基于50R負(fù)載電阻- 參見注5 |
注1:干電路負(fù)載在觸點(diǎn)終端與小于100R且不帶負(fù)載電壓的電阻有效短接時切換。
注2:零觸點(diǎn)應(yīng)用在觸點(diǎn)進(jìn)行編程CR測量情況時切換。
注3:實(shí)際的短路電流會被RT290和器件之間的任何繞線電阻減小。
注4:實(shí)際的短路電流由施加的電壓減1V與40R的負(fù)載電阻加上RT290和器件之間的任何繞線電阻來確定。
注5:實(shí)際的短路電流由施加的電壓減1V與4R的負(fù)載電阻加上RT290和器件之間的任何繞線電阻來確定。
線圈電源
電壓范圍FSD |
分辨率 |
典型錯誤 |
最大功率 |
1 – 70V |
6.1mV |
0.2% + 10mV |
1..50V, 250mA RMS 50V-80V, 8W |
5 – 370V (選件) |
24.4mV |
0.2% + 0.2V |
60mA |
線圈電阻
期望電阻 |
編程測試電壓舉例(2) |
編程電流限制(1) |
精度 |
10R |
1V |
200mA |
0.4% +/- 0.1R |
100R |
1V |
20mA |
0.3% +/- 0.2R |
1kR |
10V |
20mA |
0.3% +/- 2R |
10kR |
20V |
20mA |
0.3% +/- 20R |
100kR |
60V |
10mA |
0.3% +/- 200R |
時間測量
時基周期(分辨率) |
典型最大測試周期(2) |
數(shù)字精度(1) |
200ns |
6.4ms |
0.1% +/-200ns |
500ns |
16ms |
0.1% +/-500ns |
1us |
32ms |
0.1% +/-1us |
2us |
64ms |
0.1% +/-10us |
5us |
160ms |
0.1% +/-5us |
10us |
320ms |
0.1% +/-10us |
20us |
640ms |
0.1% +/-20us |
50us |
1.6s |
0.1% +/-50us |
100us |
3.2s |
0.1% +/-100us |