所以， 雙光子顯微鏡比單光子顯微鏡更適合用來(lái)觀察厚標(biāo)本、 更適合
用來(lái)觀察活細(xì)胞、 或用來(lái)進(jìn)行定點(diǎn)光漂白實(shí)驗(yàn)。
利用雙光子顯微鏡， 我們可以對(duì)腦科學(xué)的幾個(gè)前沿領(lǐng)域進(jìn)行更加
深入的研究。 利用雙光子顯微鏡的光遺傳學(xué)操作能力， 我們可以對(duì)某
類神經(jīng)元和失活進(jìn)行高精度的操作， 對(duì)這些神經(jīng)元的特殊功能的進(jìn)
行研究。 我們可以對(duì)皮層在清醒、 靜息狀態(tài)下就存在有組
織的腦功能活動(dòng)進(jìn)行觀察， 從而加深我們對(duì)大腦在內(nèi)外環(huán)境的監(jiān)測(cè)、 情節(jié)
記憶及自我意識(shí)方面的理解。 利用雙光子顯微鏡的多點(diǎn)光能力，
我們可以研究多個(gè)神經(jīng)細(xì)胞之間的連接和控制， 來(lái)更好的了解神經(jīng)信號(hào)之
間復(fù)雜動(dòng)態(tài)的編碼過(guò)程。 目前國(guó)內(nèi)沒(méi)有同類產(chǎn)品， 其他設(shè)備在各個(gè)技術(shù)層
面都無(wú)法滿足我單位要求， 為更好的開展神經(jīng)學(xué)研究， 故申請(qǐng)購(gòu)置此套設(shè)
備。 激光掃描共聚焦顯微鏡保養(yǎng)。黑龍江掃描探針顯微鏡生產(chǎn)廠家哪家好
SPM(Scanning Probe Microscope) 是掃描隧道顯微鏡
STM及原子力顯微鏡AFM， 激光力顯微鏡LFM， 磁力
顯微鏡MFM等的統(tǒng)稱， 國(guó)際上近年發(fā)展起來(lái)的表面分析
儀器。
控制探針在被檢測(cè)樣品的表面進(jìn)行掃描， 同時(shí)記錄下
掃描過(guò)程中探針前列和樣品表面的相互作用， 就能得到
樣品表面的相關(guān)信息。
利用這種方法得到被測(cè)樣品表面信息的分辨率取決于
控制掃描的定位精度和探針作用前列的大?。刺结樀?
尖銳度） 。
原子級(jí)**辨率 ；
實(shí)空間中表面的三維圖像 ；
觀察單個(gè)原子層的局部表面結(jié)構(gòu) ;
可在真空、 大氣、 常溫等不同環(huán)境下工作;
可以得到有關(guān)表面結(jié)構(gòu)的信息， 例如表面不同
層次的態(tài)密度、 表面電子阱、 電荷密度波、 表
面勢(shì)壘的變化和能隙結(jié)構(gòu)等 。
貴州**顯微鏡聯(lián)系方式雙光子顯微鏡常見(jiàn)故障及相應(yīng)解決方法。
雙色激發(fā)比雙光子激發(fā)的優(yōu)勢(shì)并不在于較高的分辨率， 而是在于小目
標(biāo)物經(jīng)過(guò)較大散射媒質(zhì)后更容易觀察。 事實(shí)上， 與雙光子激發(fā)比較， 雙色
激發(fā)在焦點(diǎn)內(nèi)熒光散射增加， 而干擾背景熒光只有很小增加。
結(jié)合多光子熒光技術(shù)， 多光子共聚焦顯微鏡（Multiphoton Excitation
－MPE） 的發(fā)展成功的解決了傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡（單光子共聚焦顯微鏡）
所存在的問(wèn)題， MPE 的激光源是超快激光器（多為鈦寶石激光器， 可以達(dá)
到皮秒或者飛秒級(jí)的掃描速度）， 具有非常高的峰值功率和較低的平均功
率， 從而可以減小或者消除光漂白和光毒作用。 多光子的吸收現(xiàn)象是非線
性效應(yīng)， 只發(fā)生在聚焦焦點(diǎn)處， 不需要共聚焦孔徑光闌濾光， 從而**提
高成像亮度和信噪比。 在傳統(tǒng)激光共聚焦顯微鏡中， 光通過(guò)出的所有樣品
都被激發(fā)， 所以必須用孔徑光闌來(lái)選取焦點(diǎn)處樣品發(fā)出的熒光。 孔徑光闌
不僅遮擋了焦點(diǎn)以外樣品發(fā)出的熒光， 而且也遮擋了焦點(diǎn)處散射和漫反射
的熒光。 在 MPE 中， 焦點(diǎn)處發(fā)出的所有熒光， 包括散射和漫反射的熒光都
可以被收集并探測(cè)到。 并且由于多光子實(shí)驗(yàn)所用的激發(fā)光的波長(zhǎng)較長(zhǎng)， 激
發(fā)光的散射損失很小， 軸向分辨率更高， 樣品的穿透能力更強(qiáng)
通常來(lái)說(shuō)國(guó)產(chǎn)顯微鏡與進(jìn)口顯微鏡有如下不同之處：
1、 價(jià)格， 國(guó)產(chǎn)顯微鏡價(jià)格低廉， 一般從幾千到幾萬(wàn)價(jià)格不等， 比較適合檢驗(yàn)要求不高，
設(shè)備資金有限的中小企業(yè)。 進(jìn)口顯微鏡通常是從幾萬(wàn)到幾十萬(wàn)， 因廠家和型號(hào)的不同價(jià)格變
化較大， 主要使用于檢驗(yàn)要求較高采購(gòu)資金比較充裕的中大型企業(yè)。
2、 產(chǎn)品質(zhì)量， 雖然國(guó)產(chǎn)設(shè)備還在發(fā)展進(jìn)步， 但真實(shí)的講產(chǎn)品質(zhì)量和技術(shù)方面與國(guó)外進(jìn)
口的差距還是很大的， 個(gè)人認(rèn)為短期內(nèi)是無(wú)法追趕上了。
3、 光學(xué)系統(tǒng)： 國(guó)產(chǎn)顯微鏡大多數(shù)采用的是有限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)， 因此產(chǎn)品的功能都比較簡(jiǎn)
單， 部分**產(chǎn)品采用的是無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)， 但相關(guān)技術(shù)還不是很成熟。 進(jìn)口廠家采用的都
是無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)， 其中德國(guó)蔡司公司的 ICCS 光學(xué)系統(tǒng)**為先進(jìn)。 雙光子顯微鏡使用時(shí)，需要注意哪些問(wèn)題呢？
STM所具有的獨(dú)特優(yōu)點(diǎn)
（l） 具有原子級(jí)的**辨率。 STM在平行和
垂直樣品表面方向的分辨率分別可達(dá)0.1nm
和0.01nm， 即可以分辨出單個(gè)原子。
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（2） 可實(shí)時(shí)地得到在實(shí)空間中表面的準(zhǔn)三維
圖象， 可用于具有周期性或不具備周期性的
表面結(jié)構(gòu)研究。
（3） 可以觀察單個(gè)原子層的局部表面結(jié)構(gòu)，
而不是體相或整個(gè)表面的平均性質(zhì)。
4） 可在真空、 大氣、 常溫等不同環(huán)境下工作，
甚至可將樣品浸在水和其它溶液中， 不需要特別
的制樣技術(shù)， 且探測(cè)過(guò)程對(duì)樣品無(wú)損傷。
（ 5） 配合掃描隧道譜 STS（ Scanning Tunneling
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（ 5） 配合掃描隧道譜 STS（ Scanning Tunneling
Spectroscopy） 可以得到有關(guān)表面電子結(jié)構(gòu)的信息，
例如表面不同層次的態(tài)密度、 表面電子阱、 電荷
密度波、 表面勢(shì)壘的變化和能隙結(jié)構(gòu)等。
（6） 在納米鑷子幫助下可實(shí)現(xiàn)原子的操縱和加工，
所以被認(rèn)為開始了納米科技的新時(shí)代。
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3.偏置電壓的控制
在 SPM 內(nèi)， 電壓過(guò)高電場(chǎng)強(qiáng)度增大， 可以增強(qiáng)原子遷移， 然后場(chǎng)強(qiáng)過(guò)大時(shí)， 針尖與樣
品之間會(huì)產(chǎn)生復(fù)雜的化學(xué)反應(yīng)， 影響觀察效果同時(shí)導(dǎo)致原子操縱過(guò)程變得復(fù)雜。
4.從圖像中去處儀器震蕩影響
探針前列的軌跡**終實(shí)際是樣品表面起伏輪廓與超出電子學(xué)反饋系統(tǒng)的附加擾動(dòng)的疊
加。 程序本身從數(shù)據(jù)開始逆過(guò)程反映出樣品表面的情況這一過(guò)程是很難綜合考慮擾動(dòng)情況
的。 因此從擾動(dòng)本身出發(fā)盡量消除震動(dòng)情況是很需要的。
5.接觸面的接觸距離
好的接觸距離可以提高顯微鏡的分辨率， 然而當(dāng)接觸距離達(dá)到某個(gè)值時(shí)， 接觸面處的原
子會(huì)有突變， 對(duì)于測(cè)量結(jié)果有很大的影響。 黑龍江掃描探針顯微鏡生產(chǎn)廠家哪家好
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