非接觸激光干涉儀色散共焦

“光伏效應(yīng)”。指光照使不均勻半導(dǎo)體或半導(dǎo)體與金屬結(jié)合的不同部位之間產(chǎn)生電位差的現(xiàn)象。它首先是由光子（光波）轉(zhuǎn)化為電子、光能量轉(zhuǎn)化為電能量的過程；其次，是形成電壓過程。有了電壓，就像筑高了大壩，如果兩者之間連通，就會形成電流的回路。光伏發(fā)電，其基本原理就是“光伏效應(yīng)”。太陽能**的任務(wù)就是要完成制造電壓的工作。因為要制造電壓，所以完成光電轉(zhuǎn)化的太陽能電池是陽光發(fā)電的關(guān)鍵。簡單來說就是在光作用下能使物體產(chǎn)生一定方向電動勢的現(xiàn)象。基于該效應(yīng)的器件有光電池和光敏二極管、三極管。三坐標(biāo)測量機和加工中心的校準(zhǔn)。非接觸激光干涉儀色散共焦

激光干涉儀系統(tǒng)可同步測量大型龍門移動式數(shù)控機床:雙軸定位精度的檢測及其自動補償雷尼紹雙激光干涉儀系統(tǒng)可同步測量大型龍門移動式數(shù)控機床，由雙伺服驅(qū)動某一軸向運動的定位精度，而且還能通過RS232接口，自動對兩軸線性誤差分別進(jìn)行補償。數(shù)控機床動態(tài)性能檢測利用RENISHAW動態(tài)特性測量與評估軟件，可用激光干涉儀進(jìn)行機床振動測試與分析（FFT），滾珠絲杠的動態(tài)特性分析，伺服驅(qū)動系統(tǒng)的響應(yīng)特性分析，導(dǎo)軌的動態(tài)特性（低速爬行）分析等。安徽激光干涉儀膠路檢測在測量軟件WAVE的FFT圖中，實時顯示位移數(shù)據(jù)，可快速簡便地進(jìn)行頻譜分析，以識別共振頻率。

干涉儀技術(shù)參數(shù)：5D/6D標(biāo)準(zhǔn)型：1.線性：0.5ppm.2.測量范圍：40米（1D可選80米）3.線性分辨力：0.001um.4.偏擺角和俯仰角的精度：（1.0+0.1/m）角秒或1%顯示較大值5.比較大范圍：800角秒6.滾動角精度：1.0角秒7.直線度精度：（1.0+0.2/m）um或1%顯示較大值8.直線度比較大范圍：500um9.垂直度精度：1角秒10.溫度精度：0.2攝氏度11.濕度精度：5%12.壓力精度：1mmHg

從激光器發(fā)出的光束，經(jīng)擴束準(zhǔn)直后由分光鏡分為兩路，并分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產(chǎn)生干涉條紋。

精密機械技術(shù)

專科大學(xué)的專業(yè)課程

精密機械技術(shù)是一個大學(xué)專業(yè)課程，培養(yǎng)掌握精密機械與儀器的基礎(chǔ)理論和專業(yè)知識，事精密儀器與機械的設(shè)計制造，以及設(shè)備的測量控制和維護管理的高級技術(shù)應(yīng)用性專門人才。

中樞能力：精密機械設(shè)計制造、信息處理、測量和控制的技能。

專業(yè)中樞課程與主要實踐環(huán)節(jié)：機械設(shè)計基礎(chǔ)、電工與電子學(xué)、互換性和技術(shù)測量、微機原理與應(yīng)用、傳感器、信號分析與處理、控制工程基礎(chǔ)、工程光學(xué)基礎(chǔ)、精密機械與儀器設(shè)計、精密機械制造工藝學(xué)、精密測量與控制、金工實習(xí)、電工電子實習(xí)、測試與檢測實習(xí)、精密機械課程設(shè)計、畢業(yè)實習(xí)（設(shè)計）等，以及各校的主要特色課程和實踐環(huán)節(jié)。 熱力或磁力應(yīng)變作為ΔL與初始長度（Lo）之間的比率。

半導(dǎo)體應(yīng)變片:用于車輛等機械量測量的元件.半導(dǎo)體應(yīng)變片是將單晶硅錠切片、研磨、腐蝕壓焊引線，結(jié)尾粘貼在鋅酚醛樹脂或聚酰亞胺的襯底上制成的。是一種利用半導(dǎo)體單晶硅的壓阻效應(yīng)制成的一種敏感元件。利用半導(dǎo)體單晶硅的壓阻效應(yīng)制成的一種敏感元件，又稱半導(dǎo)體應(yīng)變片。壓阻效應(yīng)是半導(dǎo)體晶體材料在某一方向受力產(chǎn)生變形時材料的電阻率發(fā)生變化的現(xiàn)象（見壓阻式傳感器）。半導(dǎo)體應(yīng)變片需要粘貼在試件上測量試件應(yīng)變或粘貼在彈性敏感元件上間接地感受被測外力。2000轉(zhuǎn)/分時的總振動高于150納米，可能導(dǎo)致電機 故障。非接觸激光干涉儀深度測量

超精密和非接觸式表面分析。非接觸激光干涉儀色散共焦

波長的測量任何一個以波長為單位測量標(biāo)準(zhǔn)米尺的方法也就是以標(biāo)準(zhǔn)米尺為單位來測量波長的方法。以國際米為標(biāo)準(zhǔn)，利用干涉儀可精確測定光波波長。法布里-珀luo gan 涉儀（標(biāo)準(zhǔn)具）曾被用來確定波長的初級標(biāo)準(zhǔn)（鎘紅譜線波長）和幾個次級波長標(biāo)準(zhǔn)，從而通過比較法確定其他光譜線的波長。檢驗光學(xué)元件泰曼干涉儀被普遍用來檢驗平板、棱鏡和透鏡等光學(xué)元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評估透鏡的波像差。非接觸激光干涉儀色散共焦