模具表面溫度監(jiān)控

來源: 發(fā)布時間:2024-09-24

在檢測金屬雙極板時,馬波斯可提供界面接觸電阻檢測方案以助力新能源電動車行業(yè)。從適用范圍的角度來看,馬波斯提供的這款界面接觸電阻檢測方案可用于檢測金屬雙極板的質(zhì)量,同時預(yù)測GDL膜壓緊并裝入PEM燃料電池堆后的電氣特性。對于金屬雙極板的檢測而言,馬波斯提供的檢測方案提供的壓緊力值為40kN。在進行檢測的過程中,馬波斯提供的這款界面接觸電阻檢測方案也能調(diào)整壓縮順序。同時,界面接觸電阻檢測方案可保證測試檢具可換,并提供高分辨率的電阻測。Marposs為齒輪變速箱売體提供量身定制的泄漏測試解決方案,可滿足行業(yè)內(nèi)手動或全自動的多選項解決方案。模具表面溫度監(jiān)控

檢測設(shè)備

泄漏測試是電池pack裝配過程中的基本要求,用于檢查電池pack的氣密性,以防止水、濕氣、灰塵或其他外部污染物進入,這些會導(dǎo)致pack內(nèi)部的高壓零部件出現(xiàn)短路。MARPOSS可以用累積室中的氦氣對電池PACK進行泄漏測試。在量產(chǎn)期間進行100%質(zhì)量檢查,需要使用整體泄漏測試方法以很大程度地縮短測試時間。當(dāng)無法采用空氣法(壓降法或質(zhì)量流量法)時,因為它們無法滿足測試規(guī)范要求,累積室中的氦氣示蹤法是比較好的測量方案,其具有比較高的測試靈敏度和很短的循環(huán)周期。內(nèi)蒙古變速器檢測設(shè)備局部放電測試法能識別潛在絕緣缺陷的方法,潛在的絕緣缺陷會使產(chǎn)品運行短時間后產(chǎn)生故障。

模具表面溫度監(jiān)控,檢測設(shè)備

Optoquick是Marposs公司產(chǎn)品線專門用于生產(chǎn)環(huán)境中對工件進行精確測量的設(shè)備。Optoquick在測量性能、速度和柔性之間實現(xiàn)比較好平衡。它在準(zhǔn)確性、重復(fù)性與穩(wěn)定性方面體現(xiàn)出****的測量性能。Optoquick車間型精密測量單元,在生產(chǎn)過程中可對凸輪軸、曲軸、齒輪軸以及傳動軸進行高精度測量。其典型測量包括任務(wù)尺寸、位置與形狀測量。Optoquick幫助操作人員直接在生產(chǎn)機床旁,進行快速與準(zhǔn)確的質(zhì)量檢查。通過減少工件物流等待的時間,而優(yōu)化了工藝流程。

MARPOSS累積室中的氦氣對電池PACK進行泄漏測試,該技術(shù)在此漏率范圍內(nèi)取得了非常好的測試結(jié)果,并且方案簡單可靠。通過空氣泄漏測試方法(壓降法或質(zhì)量流量法)檢查組裝好的冷卻回路。檢測泄漏精度高達(dá)10-4SCC/sec該方法不受待測產(chǎn)品和環(huán)境溫度影響適用于大體積和外殼會變形的產(chǎn)品的測試測試節(jié)拍可優(yōu)化,不受密封邊長短的影響按照客戶的規(guī)格要求定制方案或通用化的解決方案結(jié)構(gòu)堅固。另外,全自動方案或手動上料方案、高可靠性低、使用成本檢測泄漏、精度高達(dá)10-4SCC/sec都是該測試的優(yōu)勢。無論定子是哪種型號, Marposs都可以提供多種產(chǎn)品和應(yīng)用,以滿足整個制造鏈的過程控制。

模具表面溫度監(jiān)控,檢測設(shè)備

OPTOFLASH柔性光學(xué)測量機,是馬波斯公司測量機部門的產(chǎn)品。Optoflash不僅能在實驗室里,也能在生產(chǎn)現(xiàn)場環(huán)境下進行快速、精細(xì)的質(zhì)量控制。該系統(tǒng)提供了一套種類齊全、應(yīng)用的測量軟件,可以輕松地解決各種常見的測量問題,包括靜態(tài)和動態(tài)旋轉(zhuǎn)模式下的尺寸、位置和形狀測量。此外,它還具有獨特的螺紋參數(shù)測量功能。Optoflash測量系統(tǒng)應(yīng)用了全球關(guān)鍵的光電技術(shù),能以前所未有的快速度,對各類軸類件進行微米級精度的測量。Optoflash機器上所集成的一個或多個固定式光學(xué)傳感器,可以覆蓋整個測量范圍。該設(shè)計具有突出的優(yōu)點,即無論是光學(xué)系統(tǒng),還是被測量的零件,兩者都無需沿軸向進行移動。馬波斯電機檢測解決方案旨在通過使用識別電機內(nèi)部潛在趨勢的設(shè)備來檢查電機的完整性。電線電纜直徑檢測儀

Hetech Marposs系統(tǒng)都具備很多優(yōu)勢,首先是有兩個泵送系統(tǒng),一個真空泵送系統(tǒng)和一個分析泵送系統(tǒng)。模具表面溫度監(jiān)控

對于半導(dǎo)體行業(yè)來說,圓晶測量和缺陷檢測都是半導(dǎo)體生產(chǎn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié),檢測和控制生產(chǎn)中的每一步生產(chǎn)質(zhì)量。為了顯微測量,馬波斯提供2D光譜共焦線掃相機。在超高分辨率和超大景深應(yīng)用中,可在Z軸上準(zhǔn)確聚焦。因此,這是檢測圓晶缺陷的理想選擇,例如,圓晶沿的檢測和封裝期間的檢測。這些傳感器都允許集成在測量和檢測設(shè)備中。馬波斯和STIL在數(shù)十年的發(fā)展中積累了豐富的經(jīng)驗,可為用戶提供量身定制解決方案和的光學(xué)設(shè)計。馬波斯的小橫向分辨率為0.4μm*0.4μm,大傾斜角為+/-45°,0.75數(shù)值孔徑。模具表面溫度監(jiān)控