在橫波檢測(cè)中，探頭的K值對(duì)缺陷檢出率、檢測(cè)靈敏度、聲束軸線的方向，一次波的聲程（入射點(diǎn)至底面反射點(diǎn)的距離）有較大的影響。由K=tanβs可知，K越值大，βs也越大,一次波的聲程也就越大。因此在實(shí)際檢測(cè)中，當(dāng)工件厚度較小時(shí)，應(yīng)選用較大的K值，以便增加一次波的聲程,避免近場(chǎng)區(qū)檢測(cè)。當(dāng)工件厚度較大時(shí)，應(yīng)選用較小的K值，以減少聲程過大引起的衰減，便于發(fā)現(xiàn)深度較大處的缺陷。在焊縫檢測(cè)中，K值的選擇既要考慮到可能產(chǎn)生的缺陷與檢測(cè)面形成的角度，還要保證主聲束能掃查整個(gè)焊縫截面。為了檢測(cè)單面焊根部是否焊透，還應(yīng)考慮端角反射問題，使K=0.7～1.5，因?yàn)镵<0.7或K>1.5，端角反射率很低，容易引起漏檢。HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀常用參考試塊。南通探傷儀有哪些
詞義：①分辨率是指清晰度，分辨力指能力性能；②分辨率一般用于描述儀器顯示器的像素點(diǎn)；③分辨力分為有缺陷分辨力，橫向分辨力和縱向分辨力。
超聲波探頭的分辨力
1、缺陷分辨力----缺陷分辨力是能探測(cè)到物體的**小直徑的能力，分辨力的大小是由波的長(zhǎng)短來決定的。超聲波繞射現(xiàn)象，缺陷大于波長(zhǎng)的1/2時(shí)才能產(chǎn)生反射。
2、空間分辨力----空間分辨力是指能區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能力，根據(jù)空間位置的不同又分為橫向分辨力和縱向分辨力。橫向分辨力是指垂直于聲束軸線上，能分辨左右兩個(gè)缺陷間的**小距離，與聲束寬度有關(guān)?？v向分辨率是指在超聲傳播方向，能分辨不同聲程前后兩個(gè)缺陷間的**小距離，縱向分辨率與脈沖寬度有關(guān)，當(dāng)介質(zhì)中兩點(diǎn)間距大于脈沖寬度的1/2時(shí)，超聲才能分別產(chǎn)生兩個(gè)回聲。 威海探傷儀哪家好HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀耦合劑的選用技巧。
支柱瓷絕緣子及瓷套的超聲波探傷檢測(cè)主要采用下述三種方法，當(dāng)用一種方法探傷時(shí)如發(fā)現(xiàn)缺陷，可選用另一種方法驗(yàn)證，也可用參考試塊作比對(duì)試驗(yàn)，以提高檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性，探傷方法如下：1）支柱瓷絕緣子及瓷套法蘭膠裝區(qū)表面和近表面缺陷的超聲波探傷采用爬波法；2）支柱瓷絕緣子內(nèi)部和對(duì)稱側(cè)表面或近表面缺陷的超聲波探傷采用小角度縱波斜入射法；3）瓷套內(nèi)部和內(nèi)壁缺陷的超聲波探傷采用雙晶斜探頭橫波法。一、爬波法使用并聯(lián)式結(jié)構(gòu)爬波探頭。探頭頻率為2.5MHZ,晶片尺寸選用10×12雙晶片,移動(dòng)范圍較小時(shí)采用8×10或6×10雙晶片探頭。在探頭移動(dòng)范圍許可的情況下，宜選擇較大晶片探頭。探頭移動(dòng)時(shí)要求保持與檢測(cè)面的良好吻合，應(yīng)選用與試件曲面相匹配的探頭。二、小角度縱波法小角度縱波單晶斜探頭的選擇。在移動(dòng)范圍許可的情況下，宜選擇較大角度折射角探頭。選擇與被檢支柱瓷絕緣子曲面相近的探頭。探頭移動(dòng)時(shí)要求保持與檢測(cè)面的良好吻合，應(yīng)選用與試件曲面相匹配的探頭。三、雙晶斜探頭橫波法瓷套內(nèi)部和內(nèi)壁檢測(cè)采用雙晶橫波斜探頭。探頭頻率為5MHZ,晶片尺寸選用8×10雙晶片,橫波折射角35°-37°。探頭移動(dòng)時(shí)要求保持與檢測(cè)面的良好吻合。
無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段。實(shí)際的探傷過程，脈沖反射式超聲波探傷儀應(yīng)用的**為***。一般在均勻的材料中，缺陷的存在將造成材料的不連續(xù)，這種不連續(xù)往往又造成聲阻抗的不一致，由反射定理我們知道，超聲波在兩種不同聲阻抗的介質(zhì)的交界面上將會(huì)發(fā)生反射，反射回來的能量的大小與交界面兩邊介質(zhì)聲阻抗的差異和交界面的取向、大小有關(guān)。脈沖反射式超聲波探傷儀就是根據(jù)這個(gè)原理設(shè)計(jì)的。所謂A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測(cè)材料中的傳播時(shí)間或者傳播距離，縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。超探儀是一種便攜式工業(yè)無損探傷儀器，它能夠快速便捷、無損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷（焊縫、裂紋、夾雜、折疊、氣孔、砂眼等）的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。既可以用于實(shí)驗(yàn)室，也可以用于工程現(xiàn)場(chǎng)。繪環(huán)HUT-3X0系列超聲波探傷儀能夠***地應(yīng)用在制造業(yè)、鋼鐵冶金業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等需要缺陷檢測(cè)和質(zhì)量控制的領(lǐng)域，也廣泛應(yīng)用于航空航天、鐵路交通、鍋爐壓力容器等領(lǐng)域的在役安全檢查與壽命評(píng)估。它是無損檢測(cè)行業(yè)的必備。HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀帶延遲塊超聲波探頭的概述及應(yīng)用。
渾身是寶的CSK-IA超聲波試塊CSK-IA試塊是超聲波檢測(cè)較常用的試塊之一，標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試塊的定義分為標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊，其中CSK-IA試塊穩(wěn)居標(biāo)準(zhǔn)試塊行列已有15年之久。針對(duì)CSK-IA試塊的各部分功能進(jìn)行描述（1）采用R=50mm，R=100mm弧，可用于測(cè)定聲速、探頭的入射點(diǎn)（前沿、探頭延遲），如果只采用單?。?0mm或100mm）可測(cè)定探頭的入射點(diǎn)，聲速可以手動(dòng)輸入。建議可采用單弧測(cè)試，測(cè)定聲速為CSK-IA試塊的聲速。（2）可采用三個(gè)不同深度的臺(tái)階底面（85mm、91mm、100mm）用于測(cè)定直探頭的分辨力，測(cè)試結(jié)果可做參考NB/T47013要求測(cè)試方法參考JB/T9214。(3)可采用40mm、44mm、50mm三個(gè)階梯孔測(cè)定斜探頭的分辨力，此處測(cè)試結(jié)果可做參考，NB/T47013要求測(cè)試方法參考JB/T9214。另外可采用50mm圓孔測(cè)試斜探頭K值，K2、K2.5、K3探頭布置在上表面，K1、K1.5探頭布置在下表面。采用50mm圓孔還可測(cè)試直探頭的盲區(qū)，探頭位置分別布置在試塊上表面及側(cè)面，此處測(cè)試結(jié)果也作為參考，具體方法應(yīng)參照J(rèn)B/T9214。（4）φ1.5mm橫孔可用于測(cè)試斜探頭K值。（5）將CSK-IA試塊平置，可用25mm大平底，測(cè)試水平線性、垂直線性，垂直線性測(cè)試結(jié)果可作參考，具體方法參照J(rèn)B/T9214。另外可用大平底校準(zhǔn)直探頭 HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀公司官網(wǎng)。上海陶瓷絕緣子探傷儀生產(chǎn)企業(yè)
HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀檢測(cè)的鍛件缺陷的形成以及種類。南通探傷儀有哪些
在用超聲波探傷儀進(jìn)行探傷時(shí)，當(dāng)工件中缺陷尺寸大于聲束截面時(shí)，一般采用測(cè)長(zhǎng)法來確定缺陷的長(zhǎng)度。測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)缺陷波高與探頭移動(dòng)距離來確定缺陷的尺寸。根據(jù)測(cè)定缺陷長(zhǎng)度時(shí)的靈敏度基準(zhǔn)不同將測(cè)長(zhǎng)法分為相對(duì)靈敏度法、***靈敏度法和端點(diǎn)峰值法。1、相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法是以缺陷比較高回波為相對(duì)基準(zhǔn)、沿缺陷的長(zhǎng)度方向移動(dòng)探頭，降低一定的dB值來測(cè)定缺陷的長(zhǎng)度。常用的是6dB法和端點(diǎn)6dB法。2、***靈敏度測(cè)長(zhǎng)法***靈敏度測(cè)長(zhǎng)法是在儀器靈敏度一定的條件下，探頭沿缺陷長(zhǎng)度方向平行移動(dòng),當(dāng)缺陷波高降到規(guī)定位置時(shí)，探頭移動(dòng)的距離，即為缺陷的指示長(zhǎng)度。***靈敏度測(cè)長(zhǎng)法測(cè)得的缺陷指示長(zhǎng)度與測(cè)長(zhǎng)靈敏度有關(guān)。測(cè)長(zhǎng)靈敏度高，缺陷長(zhǎng)度大。在自動(dòng)探傷中常用***靈敏度法測(cè)長(zhǎng)。3、端點(diǎn)峰值法探頭在測(cè)長(zhǎng)掃查過程中，如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)時(shí)，則可以缺陷兩端反射波極大值之間探頭的移動(dòng)長(zhǎng)度來確定為缺陷指示長(zhǎng)度。這種方法稱為端點(diǎn)峰值法。端點(diǎn)峰值法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度比端點(diǎn)6dB法測(cè)得的指示長(zhǎng)度要小一些。端點(diǎn)峰值法只適用于測(cè)長(zhǎng)掃查過程中，缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)的情況。南通探傷儀有哪些
南通繪環(huán)電子科技有限公司致力于儀器儀表，是一家其他型公司。公司自成立以來，以質(zhì)量為發(fā)展，讓匠心彌散在每個(gè)細(xì)節(jié)，公司旗下超聲波探傷儀，便攜式超聲波探傷儀，焊縫檢測(cè)探傷儀，超聲波測(cè)厚儀深受客戶的喜愛。公司秉持誠(chéng)信為本的經(jīng)營(yíng)理念，在儀器儀表深耕多年，以技術(shù)為先導(dǎo)，以自主產(chǎn)品為重點(diǎn)，發(fā)揮人才優(yōu)勢(shì)，打造儀器儀表良好品牌。繪環(huán)電子立足于全國(guó)市場(chǎng)，依托強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力，融合前沿的技術(shù)理念，飛快響應(yīng)客戶的變化需求。