超聲波探傷儀靈敏度余量的定義,主要有以下幾種:1)超聲波探傷儀的靈敏度一般是指整個(gè)探傷系統(tǒng)(超聲波探傷儀主機(jī)和超聲波探頭)發(fā)現(xiàn)非常小缺陷的能力,發(fā)現(xiàn)的缺陷越小,靈敏度就越高。2)超聲波探傷儀探頭的靈敏度常用靈敏度余量來衡量,靈敏度余量是指超聲波探傷儀較大輸出時(shí)(增益、發(fā)射強(qiáng)度較大,衰減和抑制為0),使規(guī)定反射體回波達(dá)基準(zhǔn)高所需衰減的衰減總量。靈敏度余量大,說明超聲波探傷儀與探頭的靈敏度高。靈敏度余量與超聲波探傷儀和探頭的綜合性能有關(guān),因此又叫儀器(超聲波探傷儀)與探頭的綜合靈敏度。3)靈敏度余量:超聲波探傷系統(tǒng)中,以一定電平表示的標(biāo)準(zhǔn)缺陷探測靈敏度與較大探測靈敏度之間的差值。HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀探頭的主要作用是什么及如何做使盲區(qū)盡可能小?臺(tái)州鋼結(jié)構(gòu)探傷儀按需定制
鈦合金鍛件中容易出現(xiàn)的缺陷一、偏析型缺陷除了β偏析、β斑、富鈦偏析及條狀α偏析外,**危險(xiǎn)的是間隙型α穩(wěn)定偏析(I型α偏析),其周圍常伴有細(xì)小的孔洞、裂紋,含有氧、氮等氣體,脆性較大。還有富鋁型α穩(wěn)定偏析(II型α偏析),也因伴有裂紋并有脆性而構(gòu)成危險(xiǎn)性缺陷。二.夾雜物夾雜物的存在容易導(dǎo)致裂紋的發(fā)生與擴(kuò)展,因此是不允許存在的缺陷。三.殘余縮孔四.孔洞孔洞不一定單個(gè)存在,也可能呈多個(gè)密集存在,會(huì)使低周疲勞裂紋擴(kuò)展速度加快,造成提前疲勞破壞。五.裂紋主要指鍛造裂紋。鈦合金的粘性大,流動(dòng)性差,加上導(dǎo)熱性不好,因而在鍛造變形過程中,由于表面摩擦力大,內(nèi)部變形不均勻性明顯以及內(nèi)外溫差大等,容易在鍛件內(nèi)部產(chǎn)生剪切帶(應(yīng)變線),嚴(yán)重時(shí)即導(dǎo)致開裂,其取向一般沿比較大變形應(yīng)力方向。六.過熱鈦合金的導(dǎo)熱性較差,在熱加工過程中除了加熱不當(dāng)造成鍛件或原材料過熱外,在鍛造過程中還容易因?yàn)樽冃螘r(shí)的熱效應(yīng)造成過熱,引起顯微組織變化,產(chǎn)生過熱魏氏組織。金華焊縫探傷儀直銷價(jià)格HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀表面波檢測中表面波的性質(zhì)及其產(chǎn)。
IIW2試塊IIW2試塊也是荷蘭**提出來的國際焊接學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)試塊,由于外形類似牛角,故又稱牛角試塊。與IIW試塊相比,IIW2試塊質(zhì)量輕、尺寸小、形狀簡單、容易加工和便于攜帶,但功能不及IIW試塊。IIW2試塊的材質(zhì)同IIW。當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn)R25時(shí),R25反射回波一部分被探頭接收,顯示B1另一部分反射至R50,然后又返回探頭,但這時(shí)不能被接收因此無回波。當(dāng)此反射波再次經(jīng)R25反射回到探頭時(shí)才能被接收,這時(shí)顯示B2,它與B的間距為R25+R50。以后各次回波間距均為R25+R50。IIW2試塊的主要用途如下:1)測定超聲波斜探頭的入射點(diǎn):利用R25與R50圓弧反射面測。2)測定超聲波斜探頭的折射角:利用φ5mm橫通孔測。3)測定超聲波探傷儀器水平、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍:利用厚度12.5測。4)調(diào)整檢測范圍和掃描速度:超聲波縱波直探頭利用12.5底面的多次反射波調(diào)整,超聲波橫波斜探頭利用R25和R50調(diào)整。5)測定超聲波探傷儀器和超聲波探頭的組合靈敏度:利用φ5mm或R50圓弧面測。
鍛件超聲檢測常用技術(shù)有:縱波直入射檢測、縱波斜入射檢測、橫波檢測。由于鍛件外形可能很復(fù)雜,有時(shí)為了發(fā)現(xiàn)不同取向的缺陷,在同一個(gè)鍛件上需同時(shí)采用縱波和橫波檢測。其中縱波直入射檢測是**基本的檢測方式。1.軸類鍛件的檢測方法軸類鍛件類缺陷的檢測以縱波直探頭從徑向檢測效果比較好。還應(yīng)輔以直探頭在端面的軸向檢測,必要時(shí)還應(yīng)附以斜探頭的徑向檢測及軸向檢測。(1)直探頭徑向和軸向檢測,用直探頭作徑向檢測時(shí)要將探頭置于軸的外圓作***掃查,以發(fā)現(xiàn)軸類鍛件中常見的縱向缺陷。用直探頭作軸向檢測時(shí),探頭置于軸的端面,并在軸端作***掃查,以檢出與軸線相垂直的橫向缺陷。(2)斜探頭周向及軸向檢測,需要使用適當(dāng)折射角的斜探頭作周向及軸向檢測。考慮到缺陷的取向,檢測時(shí)探頭應(yīng)作正、反兩個(gè)方向的***掃查。2.餅類、碗類鍛件的檢測餅類和碗類鍛件用直探頭在端面檢測是檢出缺陷的比較好方法。對(duì)于某些重要的餅類、碗類鍛件或厚度大的鍛件,應(yīng)從兩個(gè)端面進(jìn)行檢測,此外有時(shí)還需從外圓面進(jìn)行徑向檢測。3.筒形或環(huán)形鍛件的檢測筒形或環(huán)形鍛件的鍛造類鍛件的檢測既需要進(jìn)行縱波直人射檢測,還應(yīng)進(jìn)行橫波斜探頭檢測。HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀缺陷回波的判別。
引起超聲波衰減的主要原因是波束擴(kuò)散、晶粒散射和介質(zhì)吸收。1.擴(kuò)散衰減超聲波在傳播過程中,由于波束的擴(kuò)散,使超聲波的能量隨距離增加而逐漸減弱的現(xiàn)象稱為擴(kuò)散衰減。超聲波的擴(kuò)散衰減*取決于波陣面的形狀,與介質(zhì)的性質(zhì)無關(guān)。平面波波陣面為平面,波束不擴(kuò)散,不存在擴(kuò)散衰減。柱面波波陣面為同軸圓柱面。波束向四周擴(kuò)散,存在擴(kuò)散衰減,聲壓與距離的平方根成反比。球面波波陣面為同心球面,波束向四面八方擴(kuò)散,存在擴(kuò)散衰減,聲壓與距離成反比。2.散射衰減超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),遇到聲阻抗不同的界面產(chǎn)生散亂反射引起衰減的現(xiàn)象,稱為散射衰減。散射衰減與材質(zhì)的晶粒密切相關(guān),當(dāng)材質(zhì)晶粒粗大時(shí),散射衰減嚴(yán)重,被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播到探頭,在示波屏上引起草狀回波(又叫草波),使信噪比下降,嚴(yán)重時(shí)噪聲會(huì)淹沒缺陷波。3.吸收衰減超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí),由于介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)間內(nèi)摩擦(即黏滯性)和熱傳導(dǎo)引起超聲波的衰減,稱為吸收衰減或黏滯衰減。除了以上三種衰減外,還有位錯(cuò)引起的衰減,磁疇壁引起的衰減和殘余應(yīng)力引起的衰減等。通常所說的介質(zhì)衰減是指吸收衰減與散射衰減,不包括擴(kuò)散衰減。HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀公司官網(wǎng)。聊城陶瓷絕緣子檢測探傷儀哪家便宜
HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀AVG曲線、DAC曲線的區(qū)別及使用方法。臺(tái)州鋼結(jié)構(gòu)探傷儀按需定制
在用超聲波探傷儀進(jìn)行探傷時(shí),當(dāng)工件中缺陷尺寸大于聲束截面時(shí),一般采用測長法來確定缺陷的長度。測長法是根據(jù)缺陷波高與探頭移動(dòng)距離來確定缺陷的尺寸。根據(jù)測定缺陷長度時(shí)的靈敏度基準(zhǔn)不同將測長法分為相對(duì)靈敏度法、***靈敏度法和端點(diǎn)峰值法。1、相對(duì)靈敏度測長法相對(duì)靈敏度測長法是以缺陷比較高回波為相對(duì)基準(zhǔn)、沿缺陷的長度方向移動(dòng)探頭,降低一定的dB值來測定缺陷的長度。常用的是6dB法和端點(diǎn)6dB法。2、***靈敏度測長法***靈敏度測長法是在儀器靈敏度一定的條件下,探頭沿缺陷長度方向平行移動(dòng),當(dāng)缺陷波高降到規(guī)定位置時(shí),探頭移動(dòng)的距離,即為缺陷的指示長度。***靈敏度測長法測得的缺陷指示長度與測長靈敏度有關(guān)。測長靈敏度高,缺陷長度大。在自動(dòng)探傷中常用***靈敏度法測長。3、端點(diǎn)峰值法探頭在測長掃查過程中,如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波峰值起伏變化,有多個(gè)高點(diǎn)時(shí),則可以缺陷兩端反射波極大值之間探頭的移動(dòng)長度來確定為缺陷指示長度。這種方法稱為端點(diǎn)峰值法。端點(diǎn)峰值法測得的缺陷長度比端點(diǎn)6dB法測得的指示長度要小一些。端點(diǎn)峰值法只適用于測長掃查過程中,缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)的情況。臺(tái)州鋼結(jié)構(gòu)探傷儀按需定制
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