揚(yáng)州石化探傷儀

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-05-14

鍛件中的缺陷主要有兩個(gè)來源:一種是由鑄錠中缺陷引起;另一種是鍛造過程及熱處理中產(chǎn)生。常見的缺陷有:1.縮孔縮孔是鑄錠冷卻收縮時(shí)在頭部形成的缺陷,多見于軸類鍛件的頭部。2.縮松縮松是在鑄錠凝固收縮時(shí)形成的孔隙和孔穴??s松缺陷多出現(xiàn)在大型鍛件中。3.夾雜物內(nèi)在非金屬夾雜物是鑄錠中包含的脫氧劑、合金元素等與氣體的反應(yīng)產(chǎn)物,常漂浮于熔液上,***集結(jié)在鑄錠中心及頭部。外來非金屬夾雜物是冶煉、澆注過程中混人的耐火材料或雜質(zhì),?;祀s于鑄錠下部。偶然落入的非金屬夾雜則無確定位置。金屬夾雜物是冶煉時(shí)加入合金較多且尺寸較大,或者澆注時(shí)飛濺小?;虍惙N金屬落人后未被全部熔化而形成的缺陷。4.裂紋裂紋的種類可大致分為以下幾種:因冶金缺陷在鍛造時(shí)擴(kuò)大形成的裂紋。因鍛造工藝不當(dāng)而形成的裂紋。熱處理過程中形成的裂紋?;鼗鸩患皶r(shí)或不當(dāng),由鍛件內(nèi)部殘余應(yīng)力引起的裂紋。5、折疊熱金屬的凸出部位被壓折并嵌入鍛件表面形成的缺陷稱為折疊,多發(fā)生在鍛件的內(nèi)圓角和尖角處。6、白點(diǎn)鋼鍛件中由于氫的存在所產(chǎn)生的小裂紋稱為白點(diǎn)。鋼材不允許白點(diǎn)存在。白點(diǎn)多在高碳鋼、馬氏體鋼和貝氏體鋼中出現(xiàn)!HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷儀參考試塊的用途。揚(yáng)州石化探傷儀

支柱瓷絕緣子及瓷套的超聲波探傷檢測(cè)主要采用下述三種方法,當(dāng)用一種方法探傷時(shí)如發(fā)現(xiàn)缺陷,可選用另一種方法驗(yàn)證,也可用參考試塊作比對(duì)試驗(yàn),以提高檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性,探傷方法如下:1)支柱瓷絕緣子及瓷套法蘭膠裝區(qū)表面和近表面缺陷的超聲波探傷采用爬波法;2)支柱瓷絕緣子內(nèi)部和對(duì)稱側(cè)表面或近表面缺陷的超聲波探傷采用小角度縱波斜入射法;3)瓷套內(nèi)部和內(nèi)壁缺陷的超聲波探傷采用雙晶斜探頭橫波法。一、爬波法使用并聯(lián)式結(jié)構(gòu)爬波探頭。探頭頻率為2.5MHZ,晶片尺寸選用10×12雙晶片,移動(dòng)范圍較小時(shí)采用8×10或6×10雙晶片探頭。在探頭移動(dòng)范圍許可的情況下,宜選擇較大晶片探頭。探頭移動(dòng)時(shí)要求保持與檢測(cè)面的良好吻合,應(yīng)選用與試件曲面相匹配的探頭。二、小角度縱波法小角度縱波單晶斜探頭的選擇。在移動(dòng)范圍許可的情況下,宜選擇較大角度折射角探頭。選擇與被檢支柱瓷絕緣子曲面相近的探頭。探頭移動(dòng)時(shí)要求保持與檢測(cè)面的良好吻合,應(yīng)選用與試件曲面相匹配的探頭。三、雙晶斜探頭橫波法瓷套內(nèi)部和內(nèi)壁檢測(cè)采用雙晶橫波斜探頭。探頭頻率為5MHZ,晶片尺寸選用8×10雙晶片,橫波折射角35°-37°。探頭移動(dòng)時(shí)要求保持與檢測(cè)面的良好吻合。安徽鍛件檢測(cè)儀使用教程超聲波數(shù)字檢測(cè)儀設(shè)備可以進(jìn)行多種聲波空間域的測(cè)量,提高檢測(cè)準(zhǔn)確度。

試塊的分類超聲檢測(cè)用試塊通常分為標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊和模擬試塊三大類。(1)標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊通常是由**機(jī)構(gòu)制定的試塊,其特性與制作要求有專門的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。標(biāo)準(zhǔn)試塊通常具有規(guī)定的材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài)。如IIW試塊,CBI,CBII;CSI.CSII,CSⅢ;CSK-IA,CSK-ⅡIA,CSK-ⅢA,CSK-ⅣA。(2)對(duì)比試塊對(duì)比試塊是以特定方法檢測(cè)特定工件時(shí)采用的試塊,含有意義明確的人工反射體(平底孔、槽等)。它與被檢工件材料聲學(xué)特性相似,其外形尺寸應(yīng)能**被檢工件的特征,試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。對(duì)比試塊主要用于檢測(cè)校準(zhǔn)以及評(píng)估缺陷的當(dāng)量尺寸,以及將所檢出的不連續(xù)信號(hào)與試塊中已知反射體產(chǎn)生的信號(hào)相比較。(3)模擬試塊模擬試塊是含模擬缺陷的試塊,可以是模擬工件中實(shí)際缺陷而制作的樣件,或者是在以往檢測(cè)中所發(fā)現(xiàn)含自然缺陷的樣件。模擬試塊主要用于檢測(cè)方法的研究、無損檢測(cè)人員資格考核和評(píng)定、評(píng)價(jià)和驗(yàn)證儀器探頭系統(tǒng)的檢測(cè)能力和檢測(cè)工藝等。

使用表面波進(jìn)行檢測(cè)的方法,稱為表面波法。對(duì)于近表面缺陷的檢測(cè),表面波是有效的檢測(cè)方法。1.表面波的性質(zhì)表面波只在物體表面下幾個(gè)波長(zhǎng)的范圍內(nèi)傳播。當(dāng)其沿表面?zhèn)鞑サ倪^程中遇到表面裂紋時(shí),(1)一部分聲波在裂紋開口處仍以表面波的型式被反射,并沿物體表面返回。(2)一部分聲波仍以表面波的形式沿裂紋表面繼續(xù)向前傳播,傳播到裂紋頂端時(shí),部分聲波被反射而返回,部分聲波繼續(xù)以表面波的形式沿裂紋表面向前傳播。(3)一部分聲波在表面轉(zhuǎn)折處或裂紋頂端轉(zhuǎn)變?yōu)樽冃慰v波和變形橫波,在物體內(nèi)部傳播。在表面波檢測(cè)中,主要利用表面波的上述特性來檢測(cè)表面和近表面裂紋。2.表面波的產(chǎn)生產(chǎn)生表面波的方法較多,檢測(cè)中較實(shí)用的兩種方法:Y切石英法和縱波折射法,在實(shí)際應(yīng)用中靈敏度大體上相同!繪環(huán)HUT-3X0系列手持?jǐn)?shù)字超聲波探傷主要應(yīng)用場(chǎng)合。

掃描范圍(mm):0~9999mm垂直線性誤差:<2.5%水平線性誤差:<0.1%探傷靈敏度余量:≥65dB(2.5PΦ20-200mmΦ2.0mm平底孔)動(dòng)態(tài)范圍:>40dB分辨率:>36dB(2.5PΦ20)頻率范圍(MHz):0.5~15MHz增益調(diào)節(jié)(dB):0~130dB(0.1dB,2dB,6dB,12dB可調(diào)步距)材料聲速(m/s):1000~9999脈沖移位:0~1000mm回波抑制:0~90%電噪聲電平:<10%適用探頭:直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭閘門類型:a閘門和b閘門連續(xù)可調(diào)顯示方式:5.0″真彩顯示報(bào)警方式:聲(蜂鳴器)光(LED指示燈)組合報(bào)警工作溫度(℃):-25℃~50℃工作電壓:8.4VDC連續(xù)工作時(shí)間:>10小時(shí)外形尺寸(mm):220mm(長(zhǎng))Χ148mm(寬)Χ45mm(高)重量(Kg):1Kg(含電池)標(biāo)準(zhǔn)配置:主機(jī)、斜探頭1只、直探頭1只、充電器、BNC電纜2根、通訊軟件、TF卡、讀卡器超聲波數(shù)字檢測(cè)儀可以進(jìn)行多角度、多方向的檢測(cè),提高檢測(cè)準(zhǔn)確率。徐州模具鋼超聲波檢測(cè)儀維修

超聲波數(shù)字檢測(cè)儀可以進(jìn)行多種聲波波形的選擇,適應(yīng)不同的檢測(cè)要求。揚(yáng)州石化探傷儀

詞義:①分辨率是指清晰度,分辨力指能力性能;②分辨率一般用于描述儀器顯示器的像素點(diǎn);③分辨力分為有缺陷分辨力,橫向分辨力和縱向分辨力。超聲波探頭的分辨力1、缺陷分辨力----缺陷分辨力是能探測(cè)到物體的**小直徑的能力,分辨力的大小是由波的長(zhǎng)短來決定的。超聲波繞射現(xiàn)象,缺陷大于波長(zhǎng)的1/2時(shí)才能產(chǎn)生反射。2、空間分辨力----空間分辨力是指能區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能力,根據(jù)空間位置的不同又分為橫向分辨力和縱向分辨力。橫向分辨力是指垂直于聲束軸線上,能分辨左右兩個(gè)缺陷間的**小距離,與聲束寬度有關(guān)??v向分辨率是指在超聲傳播方向,能分辨不同聲程前后兩個(gè)缺陷間的**小距離,縱向分辨率與脈沖寬度有關(guān),當(dāng)介質(zhì)中兩點(diǎn)間距大于脈沖寬度的1/2時(shí),超聲才能分別產(chǎn)生兩個(gè)回聲。揚(yáng)州石化探傷儀

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