光測量積分球測試

積分球均勻光源，積分球均勻光源普遍應用于相機校準、衛(wèi)星遙感校準測量、輻亮度/輻照度校準測量、夜視系統(tǒng)、安全攝像頭及高靈敏度成像儀、CMOS/CCD光譜響應測試校準測試等領域。iSphere高光譜響應光學積分球，高光譜響應積分球系列，主要針對光學性能響應高的透射、反射、激光功率、紅外光譜分析等應用的需求，采用進口的PTFE光學材料，獨有內膽光學工藝，PTFE粉料經(jīng)過特殊工藝改性鑄模，再機械加工成球殼形，然后經(jīng)拋光、清洗而成。其較大優(yōu)點是涂層壁厚，絕不脫落。我司積分球光學性能高、加工精度高，外形多樣，可以適用于各種儀器光路設計，在各類光學儀器中得到普遍應用。積分球內壁的材料選擇對光線的反射效率至關重要。光測量積分球測試

積分球球體倍增因子對表面反射率極為敏感。選擇漫反射涂層或材料會對給定設計的輻射度產(chǎn)生很大影響（如圖3所示）。所示的兩種涂層都具有高反射率，在350至1350 nm范圍內的反射率超過95%。因此，對于相同的積分球，人們可能預期不會有明顯的輻射度增加。然而，輻射度的相對增加大于反射率的相對增加，其系數(shù)等于球體倍增因子。雖然其中一種涂層在一定波長范圍內比另一種提供2%到15%的反射率增加，但相同的積分球設計將導致輻射度增加40%至240%。較大的增加發(fā)生在1400納米以上的近紅外光譜區(qū)域。試驗積分球定制積分球的應用領域不斷擴大，為光學測量提供了更多可能性。

技術特性:積分球的基本原理:積分球又稱為光通球，是一個中空的完整球殼。內壁涂白色漫反射層，且球內壁各點漫射均勻。光源S在球壁上任意一點 B上產(chǎn)生的光照度是由多次反射光產(chǎn)生的光照度疊加而成的。由積分學原理可得，球面上任意一點B的光照度為:公式(1)中，E1 為光源S直接照在 B點上的光照度，E1的大小不僅與B點的位置有關，也與光源在球內的位置有關。如果在光源S和B點間放一擋屏，擋去直接射向 B點的光，則E1=0，因而在 B點的光照度為:公式(1)公式(2)中，R為積分球半徑、p為積分球內壁反射率。R和p均為常數(shù)，因此在球壁上任意位置的光照度E(擋去直接光照后)與燈的光通量 中成正比。通過測量球壁窗口上的光照度E，就可求出光源的光通量 Ф。

入射到整個積分球體表面的總通量的n次反射的交換可以用冪級數(shù)來建模，并簡化為一個簡單的輻射方程:式中Φ為入射到積分球內的光，As為積分球壁面積，p為積分球壁反射率，f為開口端口面積占比。簡化的輻射度方程可用于模擬光和LED測量應用的光學效率。這些應用包括用于激光表征的光學衰減，進入光纖或安裝在積分球體上的探測器表面的通量，用于圖像傳感器的光譜輻射度和用于非成像光學傳感傳感器的光譜輻照度，或積分球體應用所需的其他許多輻射和光度參數(shù)。積分球的內壁應是良好的球面，通常要求它相對于理想球面的偏差應不大于內徑的0.2%。

較常見的積分球結構測色儀器為d/8結構，也有d/0結構。關于d/8結構測色儀，有兩種丈量模式SCI和SCE；采用SCI丈量色彩能夠有用的消除去物體外表紋路對色彩丈量的影響，進而取得物體的真實色彩特征。抱負積分球的條件：A、積分球內外表為一完整的幾何球面，半徑處處持平；B、球內壁是中性均勻漫射面，關于各種波長的入射光線具有相同的漫反射比；C、球內沒有任何物體，光源也看作只發(fā)光而沒有什物的抽象光源。影響積分球丈量精度的因素：A、球內壁是均勻的抱負漫射層，服從朗伯定則；B、球內壁各點的反射率持平；C、球內壁白色涂層的漫射是中性的；D、球半徑處處持平，球內除燈外無其他物體存在；所以，積分球內壁起球，剝落，黃變都會影響其丈量精度。利用積分球的高反射內壁，可以實現(xiàn)光線的均勻分布。Spectra-CT 色溫可調Helios標準光源檢測儀

積分球還可以用于光源的校準，通過將光源放置在球內，可以消除光源的方向性。光測量積分球測試

產(chǎn)品簡介:積分球又稱為光通球，是一個中空的完整球殼,內壁涂白色漫反射層,且球內各點漫射均勻。產(chǎn)品簡介:積分球又稱為光通球，是一個中空的,內壁涂一層平整的漫反射材料的完整球殼，其典型的功能就是收集光，收集的光被用作一個散射光源或作為測量用，例如色彩的測量，光源燈光的光度測定，熒光研究，鏡子反射系數(shù)，拉漫散射樣品研究，激光&LED 的測量等。積分球的涂層分類:積分球涂層反射率 P(入)和積分球等效透過率T(入)是積分球較重要的質量指標。我們公司可提供三種涂層，以滿足用戶不同的測試需要。遠方公司積分球均為良好漫反射體， 采用特殊工藝噴涂，涂層不易脫落，化學穩(wěn)定性好，日久不易泛黃。光測量積分球測試