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SKYSCAN2214功能原位試驗臺SKYSCAN2214擁有高度準確的樣品臺，支持直徑達到300mm和重量達到20kg的物體?？諝鈶腋∈叫D(zhuǎn)馬達能以非常高的準確度準確地旋轉(zhuǎn)樣品位置，集成的精密定位平臺能保證樣品完全對準。SKYSCAN2214擁有一個很大的且使用方便的樣品室，方便掃描大型物體和安裝可選的試驗臺。它有足夠的空間可供容納其他設備。布魯克的材料試驗臺可以進行較大4400N的壓縮試驗和較大440N的拉伸試驗。所有試驗臺都能通過系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)臺自動聯(lián)系到一起，而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件，可以設置預定掃描試驗。布魯克的加熱臺和冷卻臺可以達到較高+80oC或較低低于環(huán)境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗臺一樣，加熱和冷卻臺也不需要任何額外的連接，系統(tǒng)可以自動地識別不同的試驗臺。通過使用加熱臺和冷卻臺，可在非環(huán)境條件下檢測樣品，從而評估溫度對樣品微觀結(jié)構(gòu)的影響。SKYSCAN2214與DEBEN試驗臺可以完全兼容。借助自帶的適配器，DEBEN試驗臺可以很容易地被安裝到SKYSCAN2214的旋轉(zhuǎn)臺上。借助“飛行記錄器”功能，只需選擇多個關鍵幀，并在中間自動插值，就可以快速創(chuàng)建動畫。黑龍江發(fā)展顯微CT調(diào)試

SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動選擇參數(shù)。只需單擊一下，即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。而且，由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源，它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因，SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS泡沫材料重建數(shù)據(jù)的多體積圖像和彩色編碼結(jié)構(gòu)分離同時顯示了泡沫泡孔的直徑以及開孔泡沫鎳支柱的中空特征。像素大小1.0μm泡沫材料在工業(yè)上有許多的應用。根據(jù)泡沫的材質(zhì)和結(jié)構(gòu)特性，可以用作隔熱或隔音材料，也可以用作保護或過濾裝置中的減震結(jié)構(gòu)……XRM可以無損地實現(xiàn)泡沫內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維可視化。1.確定局部結(jié)構(gòu)的厚度2.確定結(jié)構(gòu)間隔以實現(xiàn)空隙網(wǎng)絡的可視化3.通過壓縮和拉伸臺進行原位力學試驗4.確定開孔孔隙度和閉孔孔隙度。福建包含什么顯微CT哪里好巖心和大尺寸巖石可以在不進行物理切片的情況下進行檢測，這使得樣品能夠保持原始狀態(tài)。

SkyScan2214為油氣勘探，復合材料，鋰電池，燃料電池，電子組件等材料的三維成像和精確建模提供了獨特的解決方案。該儀器可接受300mm大小的物體，并為小尺寸和中等尺寸（10cm范圍左右）樣品掃描提供亞微米級的分辨率。該系統(tǒng)可選擇圓形和螺旋掃描軌跡進行樣品掃描，并提供世界上甚快的分層重建（InstaRecon®）軟件，和獲得特有技術（許可）的精確的螺旋重建算法，為精細測量提供高精度信息?！ら_放式納米焦點金剛石光源，降低使用成本··多探測器自動切換（甚多可選4個），可選擇適用于中小尺寸樣品成像的高靈敏度CCD探測器和適用于大尺寸樣品、快速掃描的高分辨率CMOS平板探測器··11軸高精度定位系統(tǒng)，精度優(yōu)于50nm··三維空間分辨率優(yōu)于500nm，甚小像素尺寸優(yōu)于60nm

SKYSCAN1273的大樣品室能容納的樣品，比通過單個探測器視場所能掃描的范圍還要大。通過分段式掃描和探測器偏置掃描，SKYSCAN1273可以掃描直徑達到250mm和長度達到250mm的大型物體。3D.SUITE可自動和無縫地將超大尺寸的圖像拼接到一起。SKYSCAN1273醫(yī)療器械和藥品包裝設計和檢測包裝對于確保藥品能以正確和安全的方式送達患者非常重要。XRM能以無損的和無菌條件下進行快速檢測以實現(xiàn)質(zhì)量控制，確保生產(chǎn)過程中和生產(chǎn)出的產(chǎn)品都能符合要求。1.醫(yī)療器械的高通量掃描，以實現(xiàn)質(zhì)量控制。2.檢查比較大尺寸達到20cmx20cmx20cm的藥品包裝的完整性3.監(jiān)測和控制內(nèi)部金屬和塑料組件的質(zhì)量及一致性4.測量內(nèi)部和外部尺寸，并檢測缺陷。Bruker Micro-CT 提供完整的分析軟件包，涵蓋CT分析所需的所有軟件，并可一直free升級。

MicroCT作為樣品三維結(jié)構(gòu)的較好（極大程度保證完整性的）成像工具，可以用于任意形狀樣品的掃描。如下圖中的巖石，布魯克Bruker臺式x射線三維顯微鏡呈現(xiàn)出的CT圖像具有復雜的邊界形狀，x射線顯微技術在進行定量分析（如孔隙率的計算）時，需要選擇一個具有代表性的計算區(qū)域，即Rangeofinterest(ROI)。高分辨率三維顯微CT通常的處理方式是在樣品內(nèi)部選擇一個矩形或圓形區(qū)域來進行分析。對于ROI具有特殊要求的分析而言，這樣的方式就難以滿足要求。布魯克skyscan高分辨率顯微CT定量分析軟件CTAn內(nèi)部集成的ROIShrink-wrap與PrimitiveROI功能，可以幫助我們根據(jù)樣品輪廓自動設置ROI，如下圖所示，具體細節(jié)可參考我們的手冊“MN121”多功能VOI選擇工具支持關鍵切片感興趣區(qū)的手繪、標準形狀選擇和編輯，并自動插入到整體中。安徽進口顯微CT調(diào)整

各項異性就是在進行平滑處理時各個方向并不相同，就垂直于邊界的區(qū)域進行平滑處理，保持邊界不會變的模糊。黑龍江發(fā)展顯微CT調(diào)試

SKYSCAN1272CMOS憑借Genius模式可自動選擇參數(shù)。只需單擊一下，即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。而且，由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源，它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因，SKYSCAN1272CMOS的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)較為多可快5倍。SKYSCAN1272CMOS纖維和復合材料FFP2口罩的三維渲染，根據(jù)局部取向?qū)w維進行彩色編碼通過將材料組合成復合材料，獲得的組件可以擁有更高的強度，同時大為減輕重量。而要想進一步優(yōu)化組件性能，就必須確保組成成分的方向能被優(yōu)化。較為常用的組分之一是纖維，有混凝土中的鋼筋，電子元件中的玻璃纖維，還有航空材料中的碳納米管。XRM可用于檢測纖維和復合材料，而無需進行橫切，從而確保樣品狀態(tài)不會在制備樣品的過程中受到影響。1.嵌入對象的方向2.層厚、纖維尺寸和間隔的定量分析3.采用原位樣品臺檢測溫度和物理性質(zhì)。黑龍江發(fā)展顯微CT調(diào)試

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