江蘇微觀應變分析XRD衍射儀哪里好

來源: 發(fā)布時間:2024-05-05

XRD檢測聚合物結晶度測定引言聚合物的結晶度是與其物理性質有很大關系的結構參數。有時,可以通過評估結晶度來確定剛度不足,裂紋,發(fā)白和其他缺陷的原因。通常,測量結晶度的方法包括密度,熱分析,NMR、IR以及XRD方法。這里將給出通過X射線衍射技術加全譜擬合法測定結晶度的方法的說明以及實例。結晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,其散射信號來源于兩部分:晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值:UMC樣品臺通常用于分析大塊樣品、掃描測量應用和涂層分析,也能測量多個小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實驗。江蘇微觀應變分析XRD衍射儀哪里好

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X射線衍射(XRD)和反射率是對薄層結構樣品進行無損表征的重要方法。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析:掠入射衍射(GID):晶相表面靈敏識別及結構性質測定,包括微晶尺寸和應變。X射線反射率測量(XRR):用于提取從簡單的基底到高度復雜的超晶格結構等多層樣品的厚度、材料密度和界面結構信息。高分辨率X射線衍射(HRXRD):用于分析外延生長結構:層厚度、應變、弛豫、鑲嵌、混合晶體的成分分析。應力和織構(擇優(yōu)取向)分析。珠海購買XRD衍射儀配件PATHFINDERPlus光學器件有一個確保測得強度的線性的自動吸收器,并可在以下之間切換:電動狹縫,分光晶體。

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不論您的預算如何,D8ADVANCEECO系列都能通過儀器配置為您帶來好的性能。由于降低了對水和電力等資源的需求,其運營成本降低。出色的儀器質量為可靠性提供了保證,同時布魯克還為之提供組件質量保證。無外部供水成本1kW高效發(fā)生器降低電力成本,無外部冷卻器耗電延長了X射線管的使用壽命X射線管質量保證:D8ADVANCEECO可用的所有高亮度X射線源均享有3年保修測角儀質量保證:測角儀采用免維護的堅固設計,可為您帶來機械強度和較長的使用壽命,因此能夠為您提供好的數據質量。其中,布魯克提供10年保修。儀器準直保證探測器質量保證

多層膜XRR引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度、膜厚、粗糙度等結構參數的有效無損檢測手段。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。無論面對何種應用,DIFFRAC.DAVINCI都會指引用戶選擇較好的儀器配置。

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石油和天然氣D2PHASER是一種移動式的臺式X射線衍射儀(XRD),可用于鑒定地質樣品中的塊狀和黏土礦物。此外,X射線衍射(XRD)是分析頁巖層所必不可少的技術,可進行礦物學定性和定量表征。X射線衍射在石化業(yè):使用D2PHASER識別膨脹性粘土(PDF)X射線衍射在石化業(yè):使用D2PHASER對頁巖層進行井場礦物學分析(PDF)無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本,可通過使用的是標準D8測角儀還是ATLAS測角儀進行區(qū)分。珠海上海XRD衍射儀哪里好

殘余應力分析、織構和極圖、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)。江蘇微觀應變分析XRD衍射儀哪里好

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上。常規(guī)的XRD測試,X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米,這遠遠大于薄膜的厚度,導致薄膜的信號會受到襯底的影響(圖1)。另外,如果衍射簡單較高,那么X射線只能輻射到部分樣品,無法利用整個樣品的體積,衍射信號弱。薄膜掠入射衍射(GID:GrazingIncidenceX-RayDiffraction)很好的解絕了以上問題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角(<5°)照射到薄膜上,小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,同時增加衍射顆粒的數目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點說明:GID需要硬件配置;常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,不適合單晶外延膜。江蘇微觀應變分析XRD衍射儀哪里好