上海PCI-E測試安裝

來源: 發(fā)布時間:2023-03-07

PCIe4.0的物理層技術PCIe標準自從推出以來,1代和2代標準已經(jīng)在PC和Server上使用10多年時間,正在逐漸退出市場。出于支持更高總線數(shù)據(jù)吞吐率的目的,PCI-SIG組織分別在2010年和2017年制定了PCIe3.0和PCIe4.0規(guī)范,數(shù)據(jù)速率分別達到8Gbps和16Gbps。目前,PCIe3.0和PCle4.0已經(jīng)在Server及PC上使用,PCIe5.0也在商用過程中。每一代PCIe規(guī)范更新的目的,都是要盡可能在原有PCB板材和接插件的基礎上提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率,同時保持和原有速率的兼容。別看這是一個簡單的目的,但實現(xiàn)起來并不容易。網(wǎng)絡分析儀測試PCIe gen4和gen5,sdd21怎么去除夾具的值?上海PCI-E測試安裝

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PCIe5.0物理層技術PCI-SIG組織于2019年發(fā)布了針對PCIe5.0芯片設計的Base規(guī)范,針對板卡設計的CEM規(guī)范也在2021年制定完成,同時支持PCIe5.0的服務器產(chǎn)品也在2021年開始上市發(fā)布。對于PCIe5.0測試來說,其鏈路的拓撲模型與PCIe4.0類似,但數(shù)據(jù)速率從PCIe4.0的16Gbps提升到了32Gbps,因此鏈路上封裝、PCB、連接器的損耗更大,整個鏈路的損耗達到 - 36dB@16GHz,其中系統(tǒng)板損耗為 - 27dB,插卡的損耗為 - 9dB。.20是PCIe5 . 0的 鏈路損耗預算的模型。通信PCI-E測試規(guī)格尺寸PCIE 5.0,速率翻倍vs性能優(yōu)化;

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在之前的PCIe規(guī)范中,都是假定PCIe芯片需要外部提供一個參考時鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個低抖動的時鐘源給被測件提供參考時鐘,并且只需要對 數(shù)據(jù)線進行測試。而在PCIe4.0的規(guī)范中,新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式,這種情況下被測芯片有自己內(nèi)部生成的參考時鐘,但參考時鐘的 質量不一定非常好,測試時需要把參考時鐘也引出,采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內(nèi)嵌參考時鐘且參考時鐘也無法引出,則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式,需要另外的算法進行特殊處理。

如前所述,在PCle4.0的主板和插卡測試中,PCB、接插件等傳輸通道的影響是通過測 試夾具進行模擬并且需要慎重選擇ISI板上的測試通道,而對端接收芯片封裝對信號的影 響是通過軟件的S參數(shù)嵌入進行模擬的。測試過程中需要用示波器軟件或者PCI-SIG提 供的測試軟件把這個S參數(shù)文件的影響加到被測波形上。

PCIe4.0信號質量分析可以采用兩種方法: 一種是使用PCI-SIG提供的Sigtest軟件 做手動分析,另一種是使用示波器廠商提供的軟件進行自動測試。 PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么?

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(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過程會先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時鐘模式,還提供了收發(fā)端采用參考時鐘模式的支持。通過各種信號處理技術的結合,PCIe組織總算實現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插  件的基礎上,每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時收/發(fā)芯片會變  得更加復雜,系統(tǒng)設計的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性, 就成為設計和測試人員面臨的嚴峻挑戰(zhàn)。PCI-E 3.0數(shù)據(jù)速率的變化;設備PCI-E測試維修價格

PCI-E 3.0及信號完整性測試方法;上海PCI-E測試安裝

這個軟件以圖形化的界面指導用戶完 成設置、連接和測試過程,除了可以自動進行示波器測量參數(shù)設置以及生成報告外,還提供 了Swing、Common Mode等更多測試項目,提高了測試的效率和覆蓋率。自動測試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法,從而可以保證分析結果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動測試軟件的設置界面。

主板和插卡的測試項目針對的是系統(tǒng)設備廠商,需要使用PCI-SIG的測試夾具測 試,遵循的是CEM的規(guī)范。而對于設計PCIe芯片的廠商來說,其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范,并且需要自己設計針對芯片的測試板。16是一個典型的PCIe 芯片的測試板,測試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測信號引出并轉換成 同軸接口直接連接測試儀器。扇出通道的典型長度小于6英寸,對于16Gbps信號的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測試中可以對扇出通道的影響進行評估或者去嵌入,測試板上還應 設計和扇出通道疊層設計、布線方式盡量一致的復制通道(Replica Channel),復制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設計成同軸連接方式,這樣可以通過對復制通道直接進行測試 推測扇出通道的特性。 上海PCI-E測試安裝

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