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對(duì)于PCIe來(lái)說(shuō),由于長(zhǎng)鏈路時(shí)的損耗很大,因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號(hào)質(zhì)量,在PCIe3.0時(shí)代,有些芯片廠商會(huì)用自己內(nèi)置 的工具來(lái)掃描接收到的信號(hào)質(zhì)量,但這個(gè)功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)范把 接收端的信號(hào)質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求,正式名稱(chēng)是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡(jiǎn)單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描,即通過(guò)調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時(shí)刻以及垂直方向的信號(hào)判決閾值,pcie3.0和pcie4.0物理層的區(qū)別在哪里?山西PCI-E測(cè)試推薦貨源
Cle4.0測(cè)試的CBB4和CLB4夾具無(wú)論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試,都需要被測(cè)件工作在特定速率的某些Preset下,要通過(guò)測(cè)試夾具控制被測(cè)件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是:在被測(cè)件插入測(cè)試夾具并且上電以后,可以通過(guò)測(cè)試夾具上的切換開(kāi)關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測(cè)試碼型。在切換測(cè)試夾具上的Toggle開(kāi)關(guān)時(shí),正常的PCle4.0的被測(cè)件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps吉林PCI-E測(cè)試故障為什么沒(méi)有PCIE轉(zhuǎn)DP或hdmi?
在2010年推出PCle3.0標(biāo)準(zhǔn)時(shí),為了避免10Gbps的電信號(hào)傳輸帶來(lái)的挑戰(zhàn),PCI-SIG 終把PCle3.0的數(shù)據(jù)傳輸速率定在8Gbps,并在PCle3.0及之后的標(biāo)準(zhǔn)中把8b/10b編碼 更換為更有效的128b/130b編碼,以提高有效的數(shù)據(jù)傳輸帶寬。同時(shí),為了保證數(shù)據(jù)傳輸 密度和直流平衡,還采用了擾碼的方法,即數(shù)據(jù)傳輸前先和一個(gè)多項(xiàng)式進(jìn)行異或,這樣傳輸 鏈路上的數(shù)據(jù)就看起來(lái)比較有隨機(jī)性,可以保證數(shù)據(jù)的直流平衡并方便接收端的時(shí)鐘恢復(fù)。 擾碼后的數(shù)據(jù)到了接收端會(huì)再用相同的多項(xiàng)式把數(shù)據(jù)恢復(fù)出來(lái)。
校準(zhǔn)完成后,在進(jìn)行正式測(cè)試前,很重要的一點(diǎn)就是要能夠設(shè)置被測(cè)件進(jìn)入環(huán)回模式。 雖然調(diào)試時(shí)也可能會(huì)借助芯片廠商提供的工具設(shè)置環(huán)回,但標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法還是要基于鏈 路協(xié)商和通信進(jìn)行被測(cè)件環(huán)回模式的設(shè)置。傳統(tǒng)的誤碼儀不具有對(duì)于PCle協(xié)議理解的功 能,只能盲發(fā)訓(xùn)練序列,這樣的缺點(diǎn)是由于沒(méi)有經(jīng)過(guò)正常的鏈路協(xié)商,可能會(huì)無(wú)法把被測(cè)件 設(shè)置成正確的狀態(tài)?,F(xiàn)在一些新型的誤碼儀平臺(tái)已經(jīng)集成了PCIe的鏈路協(xié)商功能,能夠 真正和被測(cè)件進(jìn)行訓(xùn)練序列的溝通,除了可以有效地把被測(cè)件設(shè)置成正確的環(huán)回狀態(tài),還可 以和對(duì)端被測(cè)設(shè)備進(jìn)行預(yù)加重和均衡的鏈路溝通。我的被測(cè)件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽金手指的接口,怎么進(jìn)行PCI-E的測(cè)試?
在之前的PCIe規(guī)范中,都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測(cè)試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測(cè)件提供參考時(shí)鐘,并且只需要對(duì) 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。而在PCIe4.0的規(guī)范中,新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱(chēng) 為Embeded RefClk)模式,這種情況下被測(cè)芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘,但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好,測(cè)試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出,采用類(lèi)似于主板測(cè)試中的Dual-port測(cè) 試方法。如果被測(cè)芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無(wú)法引出,則意味著被測(cè)件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式,需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。PCI-E硬件測(cè)試方法有那些辦法;山西PCI-E測(cè)試推薦貨源
PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么?山西PCI-E測(cè)試推薦貨源
PCIe4.0的物理層技術(shù)PCIe標(biāo)準(zhǔn)自從推出以來(lái),1代和2代標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)在PC和Server上使用10多年時(shí)間,正在逐漸退出市場(chǎng)。出于支持更高總線數(shù)據(jù)吞吐率的目的,PCI-SIG組織分別在2010年和2017年制定了PCIe3.0和PCIe4.0規(guī)范,數(shù)據(jù)速率分別達(dá)到8Gbps和16Gbps。目前,PCIe3.0和PCle4.0已經(jīng)在Server及PC上使用,PCIe5.0也在商用過(guò)程中。每一代PCIe規(guī)范更新的目的,都是要盡可能在原有PCB板材和接插件的基礎(chǔ)上提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率,同時(shí)保持和原有速率的兼容。別看這是一個(gè)簡(jiǎn)單的目的,但實(shí)現(xiàn)起來(lái)并不容易。山西PCI-E測(cè)試推薦貨源
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