青海設(shè)備PCI-E測試

測試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測試眼寬：41.25ps+0/—2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：46mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV主板RX測試眼寬：45ps+0/-2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：50mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV 校準(zhǔn)時，信號的參數(shù)分析和調(diào)整需要反復(fù)進(jìn)行，人工操作非常耗時耗力。為了解決這個 問題，接收端容限測試時也會使用自動測試軟件，這個軟件可以提供設(shè)置和連接向?qū)?、控?誤碼儀和示波器完成自動校準(zhǔn)、發(fā)出訓(xùn)練碼型把被測件設(shè)置成環(huán)回狀態(tài)，并自動進(jìn)行環(huán)回數(shù) 據(jù)的誤碼率統(tǒng)計。圖4 . 18是典型自動校準(zhǔn)和接收容限測試軟件的界面，以及相應(yīng)的測試如果被測件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口，如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析？青海設(shè)備PCI-E測試

隨著數(shù)據(jù)速率的提高，在發(fā)送端對信號高頻進(jìn)行補償還是不夠，于是PCIe3.0及 之后的標(biāo)準(zhǔn)中又規(guī)定在接收端(RX端)還要對信號做均衡(Equalization),從而對線路的損 耗進(jìn)行進(jìn)一步的補償。均衡電路的實現(xiàn)難度較大，以前主要用在通信設(shè)備的背板或長電纜 傳輸?shù)膱龊?，近些年也逐漸開始在計算機、消費類電子等領(lǐng)域應(yīng)用，比如USB3.0、SATA 6G、DDR5中也均采用了均衡技術(shù)。圖4 .4分別是PCIe3 .0和4 .0標(biāo)準(zhǔn)中對CTLE均衡器 的頻響特性的要求?？梢钥吹剑馄鞯膹娙跻灿泻芏鄵蹩蛇x，在Link Training階段TX 和RX端會協(xié)商出一個比較好的組合(參考資料： PCI ExpressR Base Specification 4 .0)。貴州PCI-E測試保養(yǎng)被測件發(fā)不出標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E的一致性測試碼型，為什么？

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室致敬信息論創(chuàng)始人克勞德·艾爾伍德·香農(nóng)，以成為高數(shù)信號傳輸測試界的帶頭者為奮斗目標(biāo)?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室重心團隊成員從業(yè)測試領(lǐng)域10年以上。實驗室配套KEYSIGHT/TEK主流系列示波器、誤碼儀、協(xié)議分析儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀及附件，使用PCIE/USB-IF/WILDER等行業(yè)指定品牌夾具。堅持以專業(yè)的技術(shù)人員，嚴(yán)格按照行業(yè)測試規(guī)范，配備高性能的權(quán)能測試設(shè)備，提供給客戶更精細(xì)更權(quán)能的全方面的專業(yè)服務(wù)?？藙诘赂咚贁?shù)字信號測試實驗室提供具深度的專業(yè)知識及一系列認(rèn)證測試、預(yù)認(rèn)證測試及錯誤排除信號完整性測試、多端口矩陣測試、HDMI測試、USB測試，PCI-E測試等方面測試服務(wù)。

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的  特點進(jìn)行了重新設(shè)計，上層的事務(wù)層(Transaction)和總線拓?fù)涠寂c早期的PCI類似，典型  的設(shè)備有根設(shè)備(Root Complex) 、終端設(shè)備(Endpoint), 以及可選的交換設(shè)備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴展出來的，根設(shè)備在北橋芯片內(nèi)部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內(nèi)部，成為CPU重要的外部擴展總線。PCIe  總線協(xié)議層的結(jié)構(gòu)以及相關(guān)規(guī)范涉及的主要內(nèi)容。多個cpu socket的系統(tǒng)時，如何枚舉的？

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個參考時鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個低抖動的時鐘源給被測件提供參考時鐘，并且只需要對 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測芯片有自己內(nèi)部生成的參考時鐘，但參考時鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測試時需要把參考時鐘也引出，采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內(nèi)嵌參考時鐘且參考時鐘也無法引出，則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。3090Ti 始發(fā)支持 PCIe5.0 顯卡供電接口怎么樣？青海設(shè)備PCI-E測試

PCI-E測試和協(xié)議調(diào)試；青海設(shè)備PCI-E測試

其中，電氣(Electrical) 、協(xié)議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為，這些要求合在一起稱為Base規(guī)范，用于指導(dǎo)芯片設(shè)計；基于Base規(guī)范，PCI-SIG還會 再定義對于板卡設(shè)計的要求，比如板卡的機械尺寸、電氣性能要求，這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規(guī)范，用以指導(dǎo)服務(wù)器、計算機和插卡等系統(tǒng)設(shè)計人員的開 發(fā)。除了針對金手指連接類型的板卡，針對一些新型的連接方式，如M.2、U.2等，也有一 些類似的CEM規(guī)范發(fā)布。青海設(shè)備PCI-E測試

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