DDR 系統(tǒng)概述
DDR 全名為 Double Data Rate SDRAM ,簡稱為 DDR。DDR 本質(zhì)上不需要提高時鐘頻率就能加倍提高 SDRAM 的速度,它允許在時鐘的上升沿和下降沿讀/寫數(shù)據(jù),因而其數(shù)據(jù)速率是標(biāo)準(zhǔn) SDRAM 的兩倍,至于地址與控制信號與傳統(tǒng) SDRAM 相同,仍在時鐘上升沿進(jìn)行數(shù)據(jù)判決。 DDR 與 SDRAM 的對比DDR 是一個總線系統(tǒng),總線包括地址線、數(shù)據(jù)信號線以及時鐘、控制線等。其中數(shù)據(jù)信號線可以隨著系統(tǒng)吞吐量的帶寬而調(diào)整,但是必須以字節(jié)為單位進(jìn)行調(diào)整,例如,可以是 8 位、16 位、24 位或者 32 位帶寬等。 所示的是 DDR 總線的系統(tǒng)結(jié)構(gòu),地址和控制總線是單向信號,只能從控制器傳向存儲芯片,而數(shù)據(jù)信號則是雙向總線。
DDR 總線的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)DDR 的地址信號線除了用來尋址以外,還被用做控制命令的一部分,因此,地址線和控制信號統(tǒng)稱為地址/控制總線。DDR 中的命令狀態(tài)真值表??梢钥吹?,DDR 控制器對存儲系統(tǒng)的操作,就是通過控制信號的狀態(tài)和地址信號的組合來完成的。 DDR 系統(tǒng)命令狀態(tài)真值表 如何確保DDR3一致性測試的可靠性和準(zhǔn)確性?機(jī)械DDR3測試
多數(shù)電子產(chǎn)品,從智能手機(jī)、PC到服務(wù)器,都用著某種形式的RAM存儲設(shè)備。由于相 對較低的每比特的成本提供了速度和存儲很好的結(jié)合,SDRAM作為大多數(shù)基于計算機(jī)產(chǎn)品 的主流存儲器技術(shù)被廣泛應(yīng)用于各種高速系統(tǒng)設(shè)計中。
DDR是雙倍數(shù)率的SDRAM內(nèi)存接口,其規(guī)范于2000年由JEDEC (電子工程設(shè)計發(fā)展 聯(lián)合協(xié)會)發(fā)布。隨著時鐘速率和數(shù)據(jù)傳輸速率不斷增加帶來的性能提升,電子工程師在確 保系統(tǒng)性能指標(biāo),或確保系統(tǒng)內(nèi)部存儲器及其控制設(shè)備的互操作性方面的挑戰(zhàn)越來越大。存 儲器子系統(tǒng)的信號完整性早已成為電子工程師重點(diǎn)考慮的棘手問題。 機(jī)械DDR3測試在DDR3一致性測試期間能否繼續(xù)進(jìn)行其他任務(wù)?
閉賦模型窗口,在菜單中選擇 Analyze-*Preferences..,在 InterconnectModels 項(xiàng) 目欄中設(shè)置與提取耦合線模型相關(guān)的參數(shù),如圖1?125所示。改變Min Coupled Length的值為 lOOmil,也就是說當(dāng)耦合線長度超過lOOmil時,按耦合模型提取,少于lOOmil時,按單線模 型提取。
單擊Via modeling setup按鈕,在過孔模型設(shè)置界面將Target Frequency設(shè)置成533 MHz (因?yàn)橐抡娴臅r鐘頻率是533MHz)。
單擊OK按鈕,關(guān)閉參數(shù)設(shè)置窗口。在菜單中選擇Analyze-*Probe..,在彈出的窗 口中單擊Net Browser..菜單,選擇DDR1_CK這個網(wǎng)絡(luò)(或者可以直接在Allegro界面中選取 網(wǎng)絡(luò))??梢钥吹揭?yàn)橐呀?jīng)設(shè)置好差分線和差分模型,所以會自動帶出差分線DDRl_NCKo
"DDRx"是一個通用的術(shù)語,用于表示多種類型的動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(DRAM)標(biāo)準(zhǔn),包括DDR2、DDR3和DDR4等。這里的"x"可以是任意一個數(shù)字,了不同的DDR代數(shù)。每一代的DDR標(biāo)準(zhǔn)在速度、帶寬、電氣特性等方面都有所不同,以適應(yīng)不斷增長的計算需求和技術(shù)發(fā)展。下面是一些常見的DDR標(biāo)準(zhǔn):DDR2:DDR2是第二代DDR技術(shù),相比于DDR,它具有更高的頻率和帶寬,以及更低的功耗。DDR2還引入了一些新的技術(shù)和功能,如多通道架構(gòu)和前瞻性預(yù)充電(prefetch)。DDR3:DDR3是第三代DDR技術(shù),進(jìn)一步提高了頻率和帶寬,并降低了功耗。DDR3內(nèi)存模塊具有更高的密度和容量,可以支持更多的內(nèi)存。DDR4:DDR4是第四代DDR技術(shù),具有更高的頻率和帶寬,較低的電壓和更高的密度。DDR4內(nèi)存模塊相對于之前的DDR3模塊來說,能夠提供更大的容量和更高的性能。每一代的DDR標(biāo)準(zhǔn)都會有自己的規(guī)范和時序要求,以確保DDR內(nèi)存模塊的正常工作和兼容性。DDR技術(shù)在計算機(jī)系統(tǒng)、服務(wù)器、嵌入式設(shè)備等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用,能夠提供快速和高效的數(shù)據(jù)訪問和處理能力。DDR3一致性測試可以幫助識別哪些問題?
DDR3一致性測試是一種用于檢查和驗(yàn)證DDR3內(nèi)存模塊在數(shù)據(jù)操作和傳輸方面一致性的測試方法。通過進(jìn)行一致性測試,可以確保內(nèi)存模塊在工作過程中能夠按照預(yù)期的方式讀取、寫入和傳輸數(shù)據(jù)。
一致性測試通常涵蓋以下方面:
電氣特性測試:對內(nèi)存模塊的電壓、時鐘頻率、時序等電氣特性進(jìn)行測試,以確保其符合規(guī)范要求。
讀寫測試:驗(yàn)證內(nèi)存模塊的讀取和寫入功能是否正常,并確保數(shù)據(jù)的正確性和一致性。
數(shù)據(jù)一致性檢查:通過檢查讀取的數(shù)據(jù)與預(yù)期的數(shù)據(jù)是否一致來驗(yàn)證內(nèi)存模塊的數(shù)據(jù)傳輸準(zhǔn)確性。
時序一致性測試:確認(rèn)內(nèi)存模塊的時序設(shè)置是否正確,并檢查內(nèi)存模塊對不同命令和操作的響應(yīng)是否符合規(guī)范。
并發(fā)訪問測試:測試內(nèi)存模塊在并發(fā)訪問和多任務(wù)環(huán)境下的性能和穩(wěn)定性。
一致性測試有助于檢測潛在的內(nèi)存問題,如數(shù)據(jù)傳輸錯誤、時序不一致、并發(fā)訪問等,以確保內(nèi)存模塊在計算機(jī)系統(tǒng)中的正常運(yùn)行。這種測試可以提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性、可靠性,并減少不一致性可能帶來的數(shù)據(jù)損壞或系統(tǒng)故障。 是否可以使用多個軟件工具來執(zhí)行DDR3一致性測試?機(jī)械DDR3測試
DDR3一致性測試是否適用于工作站和游戲電腦?機(jī)械DDR3測試
高速DDRx總線系統(tǒng)設(shè)計
首先簡要介紹DDRx的發(fā)展歷程,通過幾代DDR的性能及信號完整性相關(guān)參數(shù)的 對比,使我們對DDRx總線有了比較所有的認(rèn)識。隨后介紹DDRx接口使用的SSTL電平, 以及新一代DDR4使用的POD電平,這能幫助我們在今后的設(shè)計中更好地理解端接匹配、拓 撲等相關(guān)問題。接下來回顧一下源同步時鐘系統(tǒng),并推導(dǎo)源同步時鐘系統(tǒng)的時序計算方法。 結(jié)果使用Cadence的系統(tǒng)仿真工具SystemSI,通過實(shí)例進(jìn)行DDRx的信號完整性仿真和時序 分析。 機(jī)械DDR3測試