USB測試眼圖測試保養(yǎng)

（5）眼圖測量中需要疊加的波形或比特的數(shù)量：在眼圖測量中，疊加的波形或比特的數(shù)量不一樣，可能得到的眼圖結(jié)果會有細(xì)微的差異。由于隨機(jī)噪聲和隨機(jī)抖動的存在，疊加波形或比特數(shù)量越多，眼的張開程度就會越小，就越能測到是惡劣的情況，但相應(yīng)的測試時間也會變成。為了在測量結(jié)果的可靠性以及測量時間上做一個折中，有些標(biāo)準(zhǔn)會規(guī)定眼圖測量需要疊加的波形或比特數(shù)量，比如需要疊加1000個波形或者疊加1Mbit。

（6）眼圖位置的選擇:當(dāng)數(shù)字信號進(jìn)行波形或者比特疊加后，形成的不只是一個眼圖，而是一個個連續(xù)的眼圖。如果疊加的波形或者比特數(shù)量足夠，這些眼圖都是很相似的，因此可以對其中任何一個眼圖進(jìn)行測量。 眼圖是什么?通過示波器如何測量眼圖?USB測試眼圖測試保養(yǎng)

克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室眼圖測試測量方法編輯 播報眼圖測試是高速串行信號物理層測試的一個重要項目。眼圖是由多個比特的波形疊加后的圖形，從眼圖中可以看到:數(shù)字信號1電平、0電平，信號是否存在過沖、振鈴，抖動是否很大，眼圖的信噪比，上升/下降時間是否對稱(占空比)。眼圖反映了大數(shù)據(jù)量時的信號質(zhì)量，可以直觀地描述高速數(shù)字信號的質(zhì)量與性能。傳統(tǒng)眼圖測量方法用中文來理解是8個字:“同步觸發(fā)+疊加顯示”，現(xiàn)代眼圖測量方法用中文來理解也是8個字:“同步切割+疊加顯示”。兩種方法的差別就4個字:觸發(fā)、切割，傳統(tǒng)的是用觸發(fā)的方法，現(xiàn)代的是用切割的方法?！巴健笔菧?zhǔn)確測量眼圖的關(guān)鍵，傳統(tǒng)方法和現(xiàn)代方法同步的方法是不一樣的?！隘B加顯示”就是用模擬余輝的方法不斷累積顯示。傳統(tǒng)的眼圖方法就是同步觸發(fā)一次，然后疊加一次。每觸發(fā)一次，眼圖上增加了一個UI，每個UI的數(shù)據(jù)是相對于觸發(fā)點排列的，每觸發(fā)一次眼圖上只增加了一個比特位。  USB測試眼圖測試保養(yǎng)眼圖示波器系統(tǒng)及眼圖測試方法？

DDR4眼圖測試1-2是德科技ADS仿真軟件的DDR4總線仿真器，提供了統(tǒng)計眼圖分析的功能，能夠在短時間內(nèi)統(tǒng)計計算在極低誤碼率(1e-16)下的DQ眼圖，根據(jù)規(guī)范判斷模板是否違規(guī)。另外基于總線的仿真，也很易于仿真基于串?dāng)_因素下的眼圖質(zhì)量?；谑静ㄆ鞯腄DR4信號實測，可以利用大家熟悉的InfiniiScan區(qū)域觸發(fā)功能，很容易分離出“寫”信號，再通過Gating功能對Burst寫信號做時鐘恢復(fù)和眼圖重建，再進(jìn)行EyeContour測量，并驗證1e-16誤碼率下的眼圖模板是否違規(guī)。如果是使用一致性測試軟件，就不用手動操作，軟件會自動跟蹤和分離波形并實現(xiàn)眼圖測試

在誤碼率（BER）的測試中，碼型發(fā)生器會生成數(shù)十億個數(shù)據(jù)比特，并將這些數(shù)據(jù)比特發(fā)送給輸入設(shè)備，然后在輸出端接收這些數(shù)據(jù)比特。然后，誤碼分析儀將接收到的數(shù)據(jù)與發(fā)送的原始數(shù)據(jù)一位一位進(jìn)行對比，確定哪些碼接收錯誤，隨后會給出一段時間內(nèi)內(nèi)計算得到的BER。考慮誤碼率測試的需要，我們以下面的實際測試眼圖為參考，以生成BER圖，BER圖是樣點時間位置BER(t)的函數(shù)，稱為BERT掃描圖或浴缸曲線。簡而言之，它是在相對于參考時鐘給定的額定取樣時間的不同時間t上測得的BER。參考時鐘可以是信號發(fā)射機(jī)時鐘，也可以是從接收的信號中恢復(fù)的時鐘，具體取決于測試的系統(tǒng)。以上述的眼圖為參考，眼睛張開度與誤碼率的關(guān)系以及其BER圖克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室眼圖是在示波器的橫軸上把一串串比特周期疊加，形成眼樣波形。

由于眼圖是用一張圖形就完整地表征了串行信號的比特位信息，所以成為了衡量信號質(zhì)量的重要工具，眼圖測量有時侯就叫“信號質(zhì)量測試”。此外，眼圖測量的結(jié)果是合格還是不合格，其判斷依據(jù)通常是相對于“模板（Mask）”而言的。模板規(guī)定了串行信號“1”電平的容限，“0”電平的容限，上升時間、下降時間的容限。所以眼圖測量有時侯又被稱為“模板測試（MaskTest）”。模板的形狀也各種各樣，通常的NRZ信號的模板如圖五和圖八藍(lán)色部分所示。在串行數(shù)據(jù)傳輸?shù)牟煌?jié)點,眼圖的模板是不一樣的，所以在選擇模板時要注意具體的子模板類型。如果用發(fā)送端的模板來作為接收端眼圖模板，可能會一直碰模板。但象以太網(wǎng)信號、E1/T1的信號，不是NRZ碼形，其模板比較特別。當(dāng)有比特位碰到模板時，我們就認(rèn)為信號質(zhì)量不好，需要調(diào)試電路。有的產(chǎn)品要求100%不能碰模板，有的產(chǎn)品是允許碰模板的次數(shù)在一定的概率以內(nèi)。示波器中有測量參數(shù)可自動統(tǒng)計出碰到模板的次數(shù)。此外，根據(jù)“侵犯”模板的位置就能知道信號的哪方面有問題從而指導(dǎo)調(diào)試。如圖九表明信號的問題主要是下降沿太緩，圖十表明1電平和0電平有“塌陷”，可能是ISI問題導(dǎo)致的。眼圖參數(shù)有很多，如眼高、眼寬、眼幅度、眼交叉比、“1”電平，“0”電平，消光比，Q因子，平均功率等。USB測試眼圖測試保養(yǎng)

眼圖測試(信號完整性測試)-HDMI 2.1。USB測試眼圖測試保養(yǎng)

    對于DDR源同步操作，必然要求DQS選通信號與DQ數(shù)據(jù)信號有一定建立時間tDS和保持時間tDH要求，否則會導(dǎo)致接收鎖存信號錯誤，DDR4信號速率達(dá)到了，單一比特位寬為，時序裕度也變得越來越小，傳統(tǒng)的測量時序的方式在短時間內(nèi)的采集并找到tDS/tDH差值，無法大概率體現(xiàn)由于ISI等確定性抖動帶來的對時序惡化的貢獻(xiàn)，也很難準(zhǔn)確反映隨機(jī)抖動Rj的影響。在DDR4的眼圖分析中就要考慮這些抖動因素，基于雙狄拉克模型分解抖動和噪聲的隨機(jī)性和確定性成分，外推出基于一定誤碼率下的眼圖張度。JEDEC協(xié)會在規(guī)范中明確了在DDR4中測試誤碼率為1e-16的眼圖輪廓，確保滿足在Vcent周圍Tdivw時間窗口和Vdivw幅度窗口范圍內(nèi)模板內(nèi)禁入的要求。 USB測試眼圖測試保養(yǎng)