廣東美國(guó)IONPURE EDI模塊推薦廠家

IONPUREEDI模塊作為超純水設(shè)備的主要部件，一旦損壞將直接造成拋光混床樹(shù)脂的壽命縮短，增加運(yùn)行成本，嚴(yán)重影響生產(chǎn)。

導(dǎo)致IONPUREEDI模塊故障的主要原因：

  1、IONPUREEDI模塊長(zhǎng)期在大電流，低于額定流量情況下運(yùn)行，極板側(cè)積聚的熱量得不到有效散發(fā)，造成EDI接近兩極的膜片和隔網(wǎng)較早發(fā)熱變形,EDI濃水壓差增大，水質(zhì)和水量下降，嚴(yán)重會(huì)碳化漏水。

  2、IONPUREEDI模塊長(zhǎng)期沒(méi)有清洗保養(yǎng)，EDI的膜片和通道結(jié)垢，進(jìn)出水壓差增大，造成產(chǎn)水水質(zhì)下降，電流無(wú)法調(diào)節(jié)，電壓上升。 美國(guó)IONPURE EDI模塊上海純超環(huán)保專業(yè)人員給出建議。廣東美國(guó)IONPURE EDI模塊推薦廠家

美國(guó)IONPURE IP-LXM30ZEDI模塊設(shè)備進(jìn)水指標(biāo)要求

◎通常為單級(jí)反滲透或二級(jí)反滲透的滲透水

◎TEA（總可交換陰離子，以CaCO3計(jì)）：<25ppm。

◎電導(dǎo)率：<40μS/cm

◎PH：6.0～9.0。當(dāng)總硬度低于0.1ppm時(shí)，EDI比較好工作的pH范圍為8.0～9.0。

◎溫度： 5～35℃。

◎進(jìn)水壓力：<4bar（60psi）。

◎硬度：（以CaCO3計(jì)）：<1.0ppm。

◎有機(jī)物（TOC）：<0.5ppm。

◎氧化劑：Cl2<0.05ppm，O3<0.02ppm。

◎變價(jià)金屬： Fe<0.01ppm，Mn<0.02ppm。

◎H2S：<0.01ppm。

◎二氧化硅：<0.5ppm。

◎色度：<5APHA。

◎二氧化碳的總量：<10ppm

◎ SDI15min：<1.0。 浙江直銷美國(guó)IONPURE EDI模塊推薦廠家美國(guó)IONPURE EDI模塊請(qǐng)使用正規(guī)產(chǎn)品。

離子進(jìn)入濃水室后，由于陽(yáng)離子無(wú)法穿過(guò)陰離子交換膜，因此其將被截留在濃水室，同樣，陰離子無(wú)法穿過(guò)陽(yáng)離子交換膜，被截留在濃水室，這樣陰陽(yáng)離子將隨濃水流被排出模塊；此外，由于進(jìn)水中的離子被不斷地去除，那么淡水的純度將不斷提高，在由模塊出來(lái)的時(shí)候，其純度可以達(dá)到接近理論純水的水平。

     c.  水分子在電的作用下被不斷地離解為H+和OH-和OH- 將分別使得被消耗的陽(yáng)/陰樹(shù)脂連續(xù)再生。

過(guò)程a和過(guò)程c是樹(shù)脂的消耗和再生的兩個(gè)相反過(guò)程，這兩者會(huì)在模塊內(nèi)部形成一個(gè)動(dòng)態(tài)平衡。

淡水可從模塊底部進(jìn)入淡水室，從頂部出來(lái)；淡水也可從模塊頂部進(jìn)入模塊，則從模塊底部出來(lái)；極水的進(jìn)水與淡水進(jìn)水同為一水流，只是分別進(jìn)入不同的室（極水室和濃水室），并從模塊頂部排出。

3、超濾系統(tǒng)控制余氯等氧化劑不當(dāng)，進(jìn)EDI氧化劑超量，導(dǎo)致EDI樹(shù)脂破碎，堵塞產(chǎn)水通道，水量下降。

  4、采用不當(dāng)?shù)那逑春拖荆苯訉?dǎo)致EDI樹(shù)脂破碎，進(jìn)出水壓差增大，造成產(chǎn)水水質(zhì)和水量全部下降。

  5、西門(mén)子EDI模塊系統(tǒng)手動(dòng)運(yùn)行時(shí)，在缺水狀態(tài)下加電，直接導(dǎo)致膜片和樹(shù)脂的發(fā)熱碳化，清洗無(wú)效，無(wú)法使用。

  6、西門(mén)子EDI模塊進(jìn)水前無(wú)保安濾器，或安裝時(shí)沒(méi)有徹底清洗管道和水箱，導(dǎo)致異物堵塞EDI通道，進(jìn)出水壓差增大，造成產(chǎn)水水量嚴(yán)重下降，清洗無(wú)效。

  7、出廠時(shí)產(chǎn)品不合格，使用一段時(shí)間不明原因的漏水。

  8、電流電壓超出額定值或人為誤操作。 美國(guó)IONPURE EDI模塊上海純超環(huán)保信譽(yù)保證。

西門(mén)子EDI模塊作為超純水設(shè)備的主要部件，一旦損壞將直接造成拋光混床樹(shù)脂的壽命縮短，增加運(yùn)行成本，嚴(yán)重影響生產(chǎn)。

導(dǎo)致西門(mén)子EDI模塊故障的主要原因：

  1、西門(mén)子EDI模塊長(zhǎng)期在大電流，低于額定流量情況下運(yùn)行，極板側(cè)積聚的熱量得不到有效散發(fā)，造成EDI接近兩極的膜片和隔網(wǎng)較早發(fā)熱變形,EDI濃水壓差增大，水質(zhì)和水量下降，嚴(yán)重會(huì)碳化漏水。

  2、西門(mén)子EDI模塊長(zhǎng)期沒(méi)有清洗保養(yǎng)，EDI的膜片和通道結(jié)垢，進(jìn)出水壓差增大，造成產(chǎn)水水質(zhì)下降，電流無(wú)法調(diào)節(jié)，電壓上升。

  美國(guó)IONPURE EDI模塊上海純超環(huán)保廠家供應(yīng)。浙江廠家直供美國(guó)IONPURE EDI模塊種類

美國(guó)IONPURE EDI模塊上海純超環(huán)保質(zhì)量材質(zhì)上乘。廣東美國(guó)IONPURE EDI模塊推薦廠家

美國(guó)Ionpure EDI模塊混床在運(yùn)行過(guò)程中，其內(nèi)部的樹(shù)脂分為飽和區(qū)，交換區(qū)，新生區(qū)。飽和區(qū)的樹(shù)脂已經(jīng)被離子飽和，不再具有從進(jìn)水中交換離子的功能；交換區(qū)的樹(shù)脂處于部分飽和狀態(tài)，離子交換主要在交換區(qū)完成；新生區(qū)的樹(shù)脂尚未發(fā)生離子交換。隨著混床的運(yùn)行，飽和區(qū)和交換區(qū)將逐步向上移動(dòng)，新生區(qū)的空間將減少，直到被穿透。新生區(qū)的存在是產(chǎn)水的保證，而新生區(qū)被穿透的時(shí)候，也就意味著混床產(chǎn)水水質(zhì)將下降，混床是需要用藥品再生。廣東美國(guó)IONPURE EDI模塊推薦廠家

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