山東電子廠房環(huán)境檢測方便客戶

B.1.2.2空氣懸浮粒子計數(shù)規(guī)程將離散粒子計數(shù)器的采樣探頭放在預定位置，設定計數(shù)器的流量，選擇符合GB/T25915.1-2010規(guī)定的粒徑閾值。在單向流區(qū)域，所選擇的采樣探頭應接近等動力采樣[1]，進入采樣探頭的風速與被采空氣的風速偏差不應超過20%。若無法做到這一點，將采樣口正對氣流的主方向。在風速不受控或不可預測(例如非單向流)的采樣點，采樣口應豎直向上。采樣口至粒子計數(shù)器傳感器的連接管應盡量短。采樣粒子大于或等于1μm時，連接管的長度和直徑不應超過制造商的建議值。采樣過程中，因擴散造成的小粒子損失、因沉降與撞擊造成的大粒子損失所產(chǎn)生的采樣誤差不應大于5%。蔚亞科技提供科學、公正、具有法律效力的檢測數(shù)據(jù)和報告。山東電子廠房環(huán)境檢測方便客戶

4.5.1有微振控制要求的潔凈廠房設計應符合下列規(guī)定：1在結(jié)構(gòu)選型、隔振縫設置、壁板與地面、壁板與頂棚連接處，應按微振控制要求設計。2潔凈室與周圍輔助性站房內(nèi)有強烈振動的設備及連接管道應采取主動隔振措施。3應測定潔凈廠房內(nèi)、外各類振源對潔凈廠房精密設備、精密儀器儀表位置處的綜合振動影響，以決定是否采取被動隔振措施。4.5.2精密設備、精密儀器儀表的容許振動值應由生產(chǎn)工藝和設備制造部門提供。當生產(chǎn)工藝和設備制造部門難以提供容許振動值時，可按現(xiàn)行國家標準《隔振設計規(guī)范》GB50463的有關規(guī)定執(zhí)行。福建潔凈室檢測值得推薦通過定期檢測，可以及時發(fā)現(xiàn)并解決潔凈室中的污染問題。

5.3.1潔凈廠房的建筑圍護結(jié)構(gòu)和室內(nèi)裝修,應選用氣密性良好,且在溫度和濕度變化時變形小、污染物濃度符合現(xiàn)行國家有關標準規(guī)定限值的材料。潔凈室裝飾材料及密封材料不得采用釋放對室內(nèi)各種產(chǎn)品品質(zhì)有影響物質(zhì)的材料。5.3.2潔凈室內(nèi)墻壁和頂棚的裝修應符合下列規(guī)定:1潔凈室內(nèi)墻壁和頂棚的表面應平整、光滑、不起塵、避免眩光,便于除塵,并應減少凹凸面。2踢腳不應突出墻面。3潔凈室不宜采用砌筑墻抹灰墻面,當必須采用時宜采用干燥作業(yè),抹灰應采用符合現(xiàn)行國家標準《建筑裝飾裝修工程質(zhì)量驗收規(guī)范》GB50210中高級抹灰的要求。墻面抹灰后應刷涂料面層,并應選用難燃、不開裂、耐腐蝕、耐清洗,表面光滑、不易吸水變質(zhì)發(fā)霉的涂料。

②沉降菌的測試對單向流如5級凈化房間內(nèi)及層流工作臺測試應在凈化空調(diào)系統(tǒng)正常運行不少于10分鐘后開始；對非單向流如7級、8級以上的凈化房間測試應在凈化空調(diào)系統(tǒng)正常運行不少于30分鐘開始。a.采樣方法：將已制備好的培養(yǎng)皿放置在預先確定的取樣點，打開培養(yǎng)皿蓋使培養(yǎng)基表面暴露0.5小時再將培養(yǎng)皿蓋上蓋后倒置。b.培養(yǎng)全部采樣結(jié)束，將培養(yǎng)皿倒置于恒溫培養(yǎng)箱中培養(yǎng)。在30-35℃培養(yǎng)時間不少于48小時。每批培養(yǎng)基應有對照試驗檢查培養(yǎng)基本身是否污染可每批選定3只培養(yǎng)皿作對照培養(yǎng)。c.菌落計數(shù)用肉眼直接計數(shù)然后用5-10倍放大鏡檢查有否遺漏。若培養(yǎng)皿上有2個或2個以上菌落重疊可分辨時仍以2個或2個以上的菌落計數(shù)。由于排風量大造成新風量大，故新風處理所需冷量消耗大。

潔凈室、潔凈區(qū)的潔凈度主要是靠送入足夠量的潔凈空氣，以排替、稀釋室內(nèi)產(chǎn)生的顆粒污染物來實現(xiàn)的。為此，測定潔凈室或潔凈設施的送風量、平均風速、送風均勻性、氣流流向及流型等項目十分必要。單向流主要是依靠潔凈氣流推擠、排替室內(nèi)、區(qū)內(nèi)的污染空氣以維持室內(nèi)、區(qū)內(nèi)的潔凈度。因此，其送風斷面風速及均勻性是影響潔凈度的重要參數(shù)。較高的、較均勻的斷面風速能更快、更有效地排除室內(nèi)工藝過程產(chǎn)生的污染物，因此它們是主要關注的檢測項目。層流罩一種可提供局部高清潔環(huán)境的空氣凈化設備。它主要有箱體，風機，初效空氣過濾器，高效空氣過濾器。山東電子廠房環(huán)境檢測方便客戶

它不僅對室內(nèi)空氣的溫度、濕度、風速有一定要求，而且對空氣中的含塵粒數(shù)、細菌濃度等均有較高的要求。山東電子廠房環(huán)境檢測方便客戶

B.2.1.2計數(shù)效率測量U描述符所用體系的計數(shù)效率應落在圖B.1的陰影之內(nèi)[1]。該陰影區(qū)為性能達標區(qū)，其中心對應的選定粒徑超微粒子的計數(shù)效率為50%，粒徑示為U。超微粒徑U的允差為土10%，見圖B.1中的1.1U和0.9U。這一計數(shù)效率允差的規(guī)定，是基于對擴散元件透過率的計算，該擴散元件對粒徑大于選定超微粒徑10%的粒子的透過率不低于40%，對粒徑小于選定超微粒徑10%的粒子的透過率不高于60%。若離散粒子計數(shù)器（DPC）或凝聚核計數(shù)器（CNC）的計數(shù)效率曲線落在圖B.1陰影區(qū)之外的右側(cè)，則不能用其測量或驗證U描述符。若曲線落在陰影區(qū)之外的左側(cè)，則可使用B.2.1.3介紹的粒徑限制器來降低計數(shù)效率。此時，經(jīng)改進的離散粒子計數(shù)器或凝聚核計數(shù)器的計數(shù)效率就成為原計數(shù)器的計數(shù)效率與粒徑限制器透過率的乘積。山東電子廠房環(huán)境檢測方便客戶