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來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-04-19

滲透探傷方法滲透探傷是利用毛細(xì)現(xiàn)象來(lái)進(jìn)行探傷的方法。對(duì)于表面光滑而清潔的零部件,用一種帶色(常為紅色)或帶有熒光的、滲透性很強(qiáng)的液體,涂覆于待探零部件的表面。若表面有肉眼不能直接察知的微裂紋,由于該液體的滲透性很強(qiáng),它將沿著裂紋滲透到其根部。然后將表面的滲透液洗去,再涂上對(duì)比度較大的顯示液(常為白色)。放置片刻后,由于裂紋很窄,毛細(xì)現(xiàn)象作用***,原滲透到裂紋內(nèi)的滲透液將上升到表面并擴(kuò)散,在白色的襯底上顯出較粗的紅線,從而顯示出裂紋露于表面的形狀,因此,常稱(chēng)為著色探傷。若滲透液采用的是帶熒光的液體,由毛細(xì)現(xiàn)象上升到表面的液體,則會(huì)在紫外燈照射下發(fā)出熒光,從而更能顯示出裂紋露于表面的形狀,故常常又將此時(shí)的滲透探傷直接稱(chēng)為熒光探傷。此探傷方法也可用于金屬和非金屬表面探傷。其使用的探傷液劑有較大氣味,常有一定毒性。 磁粉探傷也可用于棒材、坯料、鍛件、鑄件等半成品和原材料的檢驗(yàn),以發(fā)現(xiàn)存在的表面缺陷。上海熒光探傷劑價(jià)格

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金屬探傷是指探測(cè)金屬材料或部件內(nèi)部的裂紋或缺陷,例如砂眼、氣孔、白點(diǎn)等,以及焊縫是否合格、有無(wú)暗傷。隨著制造業(yè)的迅猛發(fā)展,對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)的要求越來(lái)越高,需要對(duì)越來(lái)越多的關(guān)鍵、復(fù)雜零部件甚至產(chǎn)品內(nèi)部缺陷進(jìn)行嚴(yán)格探傷和內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸精確測(cè)量。目前,對(duì)金屬材料的裂紋探傷檢測(cè),通常是采用各類(lèi)超聲波檢測(cè)儀器進(jìn)行的。按測(cè)量原理不同可以分為:數(shù)字式超聲波探傷義、磁粉探傷義、渦流探傷儀、射線探傷儀和熒光探傷儀等。探傷儀普遍體積龐大,攜帶不便,靈敏度低,無(wú)法到現(xiàn)場(chǎng)探傷或高空進(jìn)行探傷作業(yè),對(duì)不允許高電壓進(jìn)入設(shè)備內(nèi)探傷的場(chǎng)合無(wú)法使用。其中磁粉探傷儀雖然輕小,但只能對(duì)大型工件分段探傷,不能一次性檢測(cè)出多方面的裂紋,所以其探傷效率較低。 上海熒光探傷劑價(jià)格磁粉探傷的缺點(diǎn)也很明顯。它只適用于鐵磁性材料,只能顯示缺陷的長(zhǎng)度和形狀,但難以確定缺陷的深度。

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探針晶片尺寸探針晶片的形狀一般為圓形和方形。探頭的芯片尺寸對(duì)超聲波探傷結(jié)果有一定的影響,選擇時(shí)主要考慮以下因素。半擴(kuò)散角。根據(jù)擴(kuò)散角公式,隨著晶片尺寸的增大,半擴(kuò)散角減小,波束指向性好,超聲能量集中,有利于缺陷檢測(cè)。探傷近場(chǎng)區(qū)。根據(jù)近場(chǎng)長(zhǎng)度公式,近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度隨晶圓尺寸的增加而增大,不利于缺陷檢測(cè)。晶圓尺寸大,輻射超聲能量強(qiáng),探頭未顯影區(qū)掃描范圍大,遠(yuǎn)程缺陷檢測(cè)能力增強(qiáng)。對(duì)于探傷面積較大的工件,應(yīng)選用大型圓片探頭,以提高探傷效率;對(duì)于厚度較大的工件,應(yīng)采用大型圓片探頭,以便有效地檢測(cè)遠(yuǎn)距離缺陷;對(duì)于小型工件,為了提高缺陷的定位和定量精度,應(yīng)采用小型芯片探頭;對(duì)于表面不平整、曲率較大的工件,應(yīng)減少耦合損耗,應(yīng)選用小型芯片探頭。

探傷設(shè)備是一種常見(jiàn)的非破壞性檢測(cè)設(shè)備,廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)和科學(xué)研究領(lǐng)域。然而,由于操作不當(dāng)或者對(duì)設(shè)備原理不了解,很多人在使用探傷設(shè)備時(shí)會(huì)出現(xiàn)一些誤區(qū)。本文將介紹探傷設(shè)備的5個(gè)**常見(jiàn)的誤區(qū)及解決方法。誤區(qū)一:認(rèn)為探傷設(shè)備可以檢測(cè)所有材料事實(shí)上,不同的探傷設(shè)備適用于不同的材料和檢測(cè)目的。例如,超聲波探傷設(shè)備適用于金屬、塑料、陶瓷等材料的檢測(cè),而磁粉探傷設(shè)備適用于鐵、鋼等磁性材料的檢測(cè)。因此,在選擇探傷設(shè)備時(shí),需要根據(jù)材料的特性和檢測(cè)目的進(jìn)行選擇。誤區(qū)二:認(rèn)為探傷設(shè)備可以檢測(cè)所有缺陷探傷設(shè)備可以檢測(cè)出一些常見(jiàn)的缺陷,如裂紋、氣孔、夾雜等。但是,對(duì)于一些微小的缺陷或者深層的缺陷,探傷設(shè)備可能無(wú)法檢測(cè)出來(lái)。因此,在使用探傷設(shè)備時(shí),需要根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行判斷,不能過(guò)于依賴(lài)設(shè)備。接下來(lái)是熒光磁粉,在Fe3O4顆粒表面包覆熒光材料的熒光磁粉在紫外輻射下能發(fā)出黃綠色熒光。

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    磁粉無(wú)損檢測(cè):屬于無(wú)損探傷五大常用方法之一,簡(jiǎn)稱(chēng)MT(MagneticParticleTesting)對(duì)檢測(cè)材料內(nèi)部施加磁場(chǎng)使其磁化,然后在工件表面撒上磁粉觀察磁粉分布變化進(jìn)而達(dá)到對(duì)材料缺陷分析判斷的方法。優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單直觀,成本低。局限性:要求檢測(cè)材料具有鐵磁性,表面光滑,且只能檢測(cè)物體表面,近表面進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)范圍小,速度慢,對(duì)于材料內(nèi)部缺陷無(wú)法精細(xì)判斷。滲透檢測(cè)有些材料有些有毒,對(duì)人體有危害。滲透探傷:簡(jiǎn)稱(chēng):PT(penetranttesting)滲透檢測(cè)原理是基于液體的毛細(xì)現(xiàn)象,和固體染料在一定條件下的發(fā)光現(xiàn)象為基礎(chǔ),進(jìn)而進(jìn)行對(duì)檢測(cè)工件表面缺陷分析判斷。在毛細(xì)作用下,經(jīng)過(guò)一定時(shí)間,滲透劑可以滲入表面開(kāi)口缺陷中;去除工件表面多余的滲透劑,經(jīng)過(guò)干燥后,再在工件表面施涂吸附介質(zhì)——顯像劑,測(cè)出缺陷的形貌及分布狀態(tài)。優(yōu)點(diǎn):方便便宜,對(duì)檢測(cè)環(huán)境要求低,對(duì)材料物理化學(xué)性質(zhì)無(wú)要求,對(duì)材料表面缺陷敏感。缺點(diǎn),成像不直觀,對(duì)材料內(nèi)部缺陷無(wú)法判定。 對(duì)于形狀復(fù)雜的零件也可采用滲透探傷進(jìn)行檢測(cè),整體檢驗(yàn)可一次完成。臺(tái)州LY探傷劑哪家好

盡管如此,與射線照相或超聲波檢測(cè)相比,滲透檢測(cè)的靈敏度仍然很高,至少高出一個(gè)數(shù)量級(jí)。上海熒光探傷劑價(jià)格

    液體浸透檢測(cè)液體浸透檢測(cè)的根本原理,零件外表被施涂含有熒光染料或著色染料后,在一段時(shí)間的毛細(xì)管作用下,浸透液能夠浸透進(jìn)外表啟齒缺陷中;經(jīng)去除零件外表多余的浸透液后,再在零件外表施涂顯像劑,同樣,在毛細(xì)管的作用下,顯像劑將吸收缺陷中保存的浸透液,浸透液回滲到顯像劑中,在一定的光源下(紫外線光或白光),缺陷處的浸透液痕跡被理想,(黃綠色熒光或鮮艷紅色),從而探測(cè)出缺陷的形貌及散布狀態(tài)。浸透檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)有:1、可檢測(cè)各種資料;2、具有較高的靈活度;3、顯現(xiàn)直觀、操作便當(dāng)、檢測(cè)費(fèi)用低。而浸透檢測(cè)的缺陷有:1、不適于檢查多孔性疏松資料制成的工件和外表粗糙的工件;2、浸透檢測(cè)只能檢出缺陷的外表散布,難以肯定缺陷的實(shí)踐深度,因此很難對(duì)缺陷做出定量評(píng)價(jià)。檢出結(jié)果受操作者的影響也較大。 上海熒光探傷劑價(jià)格

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