山東光電測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高

UHT系列黑體是高溫，腔式黑體，溫度范圍1550℃。黑體的特點(diǎn)在于發(fā)射腔的25mm的較大孔徑。黑體發(fā)射體是使用底端封閉圓筒腔體的概念設(shè)計(jì)的。可以在0.2μm至超過200μm（可至500μm）的超寬光譜范圍內(nèi)中提供高發(fā)射率。這種超寬譜帶使得可以將UHT黑體作為UV、可見光、紅外波段和THz波段的標(biāo)準(zhǔn)輻射源。UHT黑體可以直接從內(nèi)部鍵盤控制，也可以使用標(biāo)準(zhǔn)USB端口從PC遠(yuǎn)程控制。

主要特性

25mm的較大孔徑；

提供從0.2到超過200的高發(fā)射率；

可以內(nèi)部鍵盤控制，也可以使用USB端口從PC遠(yuǎn)程控制。 光電測(cè)試，為航空器部件檢測(cè)提供可靠數(shù)據(jù)。山東光電測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高

INFRAMET DT 熱成像光電測(cè)試系統(tǒng)是用千實(shí)驗(yàn)室條件下對(duì)熱像儀各項(xiàng)性能檢測(cè)的設(shè)備。 如果需要的話DT設(shè)備還可以檢測(cè)TV/LLLTV成像，或者熱像儀和TV/LLLTV成像之間的光軸校正。 注：推薦用MS設(shè)備來檢測(cè)和校準(zhǔn)感應(yīng)器比較多的系統(tǒng)。

DT系列設(shè)備應(yīng)該是INFRAMET成熟的設(shè)備，這個(gè)已經(jīng)得到了來自全球各地客戶的寬泛認(rèn)可。中長(zhǎng)紅外光譜帶的敏感熱成像技術(shù)是項(xiàng)很重要的科研和安全技術(shù)，這些成像儀也取得了大規(guī)模的應(yīng)用。所以檢測(cè)這些熱成像儀對(duì)生產(chǎn)、維護(hù)和使用都有著不同的重要的作用。因此高科技的校準(zhǔn)和檢測(cè)對(duì)這些昂貴的熱像儀的生產(chǎn)、維護(hù)、培訓(xùn)、采購(gòu)優(yōu)化都有著重要的意義。 高精度光電測(cè)試系統(tǒng)工作原理INFRAMET LAFT 熱成像光電測(cè)試系 統(tǒng)助力科研，精細(xì)測(cè)量技術(shù)參數(shù)無憂。

HTB系列黑體是高溫腔式黑體爐，溫度范圍高達(dá)1200°C。該系列黑體的優(yōu)勢(shì)在于發(fā)射腔直徑較大，為25mm。黑體腔體是使用底端封閉圓筒的腔體的概念設(shè)計(jì)的。黑體提供高發(fā)射率，超寬光譜帶：從0.4μm到超過30μm。 這種寬光譜帶使得可以使用HTB黑體作為標(biāo)準(zhǔn)輻射源，其范圍從可見光波段到LWIR波段。 HTB黑體可以直接從內(nèi)部鍵盤控制，也可以使用標(biāo)準(zhǔn)USB端口從PC遠(yuǎn)程控制。

主要特性

25mm的較大孔徑；

提供從0.4到超過30的高發(fā)射率；

可以內(nèi)部鍵盤控制，也可以使用USB端口從PC遠(yuǎn)程控制。

靶標(biāo)是用于測(cè)試光電成像系統(tǒng)時(shí)創(chuàng)建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標(biāo)可分為兩類:1)無源靶標(biāo)，2)有源靶標(biāo)。無源靶標(biāo)需要由黑體或標(biāo)定光源產(chǎn)生均勻光束照射，生成參考圖像模式的圖像。這些靶標(biāo)通常是大型測(cè)試系統(tǒng)位于平行光管焦平面的小模塊。無源靶標(biāo)的工作不需要電力供應(yīng)。這些標(biāo)準(zhǔn)的小尺寸靶標(biāo)作為Inframet制造的大型模塊化測(cè)試系統(tǒng)(如DT,TAIM,TVT,MS)的一部分。有源靶標(biāo)是通過其自身的熱輻射或由人造光源發(fā)出的反射光創(chuàng)建參考圖案。這些目標(biāo)通常是大型的單獨(dú)模塊（尺寸從500mm到3000mm），需要電才能正常工作。被測(cè)光電成像儀可直接看到有源靶標(biāo)。這些靶標(biāo)用于測(cè)試融合成像儀的融合算法或作為熱像儀/VIS-NIR相機(jī)分辨率靶標(biāo)的流行解決方案。FUT系列靶標(biāo)是有源靶標(biāo)，通常用于測(cè)試融合成像系統(tǒng)或熱像儀。經(jīng)典熱圖像與可見光圖像的融合成像系統(tǒng)擁有更強(qiáng)的監(jiān)視能力。融合系統(tǒng)通常使用一個(gè)多傳感器成像系統(tǒng)，由一個(gè)熱像儀和一個(gè)可見光相機(jī)(或夜視設(shè)備和可見光相機(jī))組成，圖像的融合可以采用光學(xué)方法或數(shù)字圖像處理方法。光電精細(xì)測(cè)試，助力智能建筑節(jié)能減排。

靶標(biāo)是用于測(cè)試光電成像系統(tǒng)時(shí)創(chuàng)建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標(biāo)可分為兩類:1)無源靶標(biāo)，2)有源靶標(biāo)。無源靶標(biāo)需要由黑體或標(biāo)定光源產(chǎn)生均勻光束照射，生成參考圖像模式的圖像。這些靶標(biāo)通常是大型測(cè)試系統(tǒng)位于平行光管焦平面的小模塊。無源靶標(biāo)的工作不需要電力供應(yīng)。

版本型號(hào)：

FUT以下列不同標(biāo)準(zhǔn)尺寸的形式提供：FUT118：輻射源尺寸1100x800mm（11x8個(gè)100mm大小正方形區(qū)域）；FUT1511：輻射源尺寸1500x1100mm（15x11個(gè)100mm大小正方形區(qū)域）；FUT2020：輻射源尺寸1900x1900mm（19x19個(gè)100mm大小正方形區(qū)域）；FUT2216：輻射源尺寸2200x1600mm（22x16個(gè)100mm大小正方形區(qū)域）。還可以定制化交付不同尺寸和圖案的定制化FUT靶標(biāo)。 LS-SAL 短波紅外光源，精確測(cè)試，引導(dǎo)航天工業(yè)新高度。山東光電測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高

光電技術(shù)，為智能交通系統(tǒng)提供可靠信號(hào)檢測(cè)。山東光電測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高

TCB面源黑體用于典型溫度范圍為0℃至100℃的小型50x50mm發(fā)射面的TCB-2D黑體被用作測(cè)試熱像儀的DT/MS系統(tǒng)的模塊。具有更大發(fā)射面和其他溫度范圍的黑體都可以作為其他各種應(yīng)用的單獨(dú)模塊提供。Inframet可以提供高達(dá)500x500mm的發(fā)射面的TCB黑體（型號(hào)TCB-2oD）。

但是，應(yīng)該注意的是，典型的小黑體TCB-2D/TCB-4D黑體與TCB-12D/TCB-2oD之間存在很大差異。后者的黑體要大得多，需要更大的功率，升溫更慢，更昂貴。因此建議您選擇自己合適的發(fā)射面尺寸即可。 山東光電測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高