平行光管光電測試系統品牌

TCB系列黑體是差分面源黑體，旨在模擬低溫和適宜的常溫目標。使用熱電元件控制散熱器溫度。黑體散熱器的溫度通常從0℃至100℃可調節(jié)，但范圍可擴展到-40℃至180℃。黑體發(fā)射面（從50x50mm到500x500mm），也可以拓展到更大的發(fā)射器，高達1000x1000mm的尺寸。

用于典型溫度范圍為0℃至100℃的小型50x50mm發(fā)射面的TCB-2D黑體被用作測試熱像儀的DT/MS系統的模塊。具有更大發(fā)射面和其他溫度范圍的黑體都可以作為其他各種應用的單獨模塊提供。

Inframet可以提供高達500x500mm的發(fā)射面的TCB黑體（型號TCB-2oD）。但是，應該注意的是，典型的小黑體TCB-2D/TCB-4D黑體與TCB-12D/TCB-2OD之間存在很大差異。后者的黑體要大得多，需要更大的功率，升溫更慢，更昂貴。因此建議您選擇自己合適的發(fā)射面尺寸即可。 光電系統應用于科研，守護安全的技術盾牌。平行光管光電測試系統品牌

MAB黑體是在整個太赫茲和亞太赫茲頻譜帶中商用的并且具有高發(fā)射率的大面積寬帶黑體。此黑體已經由Inframet研究團隊進行了幾年的實驗研究。

主要特性

寬泛的頻譜范圍涵蓋了THz和亞THz頻帶；大面積高達1mx1m；Thz/亞THz波段的高發(fā)射率；大面積輻射面上具有良好的熱均勻性；高溫度分辨率1mK和溫度穩(wěn)定性10mK；高速，易于PC控制；緊湊可靠的設計（黑體與控制器集成）。

在國際市場提供的典型面源黑體（包括Inframet提供的TCB/MTB黑體）被優(yōu)化，以模擬在常用的紅外輻射光譜帶中的黑體目標：約1μm至約15μm。 這種黑體的發(fā)射面的高發(fā)射率是通過溫度受控的金屬板，與其涂覆的高吸收性涂料薄層來實現。 平行光管光電測試系統品牌應用于半導體檢測，明策光電技術領航行業(yè)標準。

這些黑體的設計基于針對THz范圍優(yōu)化的特殊澆注材料吸收體涂層，大面積均勻發(fā)射面板和控制電子元件。MAB黑體具有不同發(fā)射器面積，不同溫度范圍的一系列版本，并針對不同的光譜帶進行了優(yōu)化。MAB黑體的特征在于具有良好的溫度分辨率、溫度穩(wěn)定性、溫度均勻性、溫度不確定性和高發(fā)射率。所有這些功能使得MAB黑體被用作測試/校準太赫茲/亞太赫茲成像儀或其他這種輻射儀系統中的參考源的理想選擇。

MAB黑體有一系列的版本。有三個重點參數指標：黑體發(fā)射面的大小、光譜帶和溫度范圍。發(fā)射面尺寸由黑體代碼表示：MAB-XD其中X是發(fā)射器的平方近似尺寸，單位為英寸。

通常提供以下型號：MAB-6D，MAB-12D，MAB-16D，MAB-2OD，MAB-24，MAB-50?？梢钥闯?，MAB黑體提供大至1000x1000mm的發(fā)射器（型號MAB-50D）。MAB黑體可針對不同的光譜范圍進行優(yōu)化：A-從0.1mm到1mm（0.3-3THz）；B-從0.5mm到4mm（75GHz-1.5THz）；C-從2mm到10mm（30GHz-150GHz）；D-從0.5mm到10mm（30GHz-1.5THz）；E-從0.5mm到30mm（10GHz-1.5THz）；ka-從7.5mm到1.1mm（26.5-40GHz）。

DTR短焦熱像儀測試系統是傳統DT熱像儀測試系統的一個特殊版本。這兩個系統都是將一系列的標準靶標投影出去，被測熱像儀接收成像。DT系統使用了較長焦距和大孔徑的離軸反射式光管，而DTR系統則使用較短焦距和小孔徑的透射式光管。因此，相同的紅外靶標由DTR系統投射后，被測熱像儀接收的圖像比由DT系統透射出的要更大。從數學上講，DTR系統可以投射出比典型DT系統空間頻率要低幾倍的4桿靶圖像。

DTR測試系統在測試過程中，被測熱像儀的奈奎斯特空間頻率(等于1/2IFOV)可低至0.02lp/mrad(熱像儀的探測器像元尺寸17um，物鏡焦距0.68mm)，可滿足市場上大多數大視場熱像儀的測量需求。另外DTR測試系統提供2個不同焦距和視場的光管供選擇，可根據被測熱像儀的分辨率和視場來選擇適用的光管。通常DTR測試系統提供測試長波熱像儀的配置，可選配測量中波熱像儀。 光電測試，守護食品安全，提升檢測標準。

一系列不同的輻射源可以用在投影系統中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統中的靶標也可用于測量。測量成像整機系統軸校準：電控的測試系統生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場下的光軸；b)相機在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機之間的光軸。激光系統軸對準：計算機控制的測量系統分析激光系統在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統光軸。注意：MS系統可以進行激光測距儀發(fā)射光軸的校準。這里假定激光測距儀發(fā)射光軸與接收已經調整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統軸的能力。測量SWIR相機：SIWR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標；測量不同圖像格式的熱像儀：當采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數字輸出傳感器。Inframet OPO 望遠瞄準測試系統，提升電子產品生產線質量控制。平行光管光電測試系統品牌

JT400多傳感器軸對準測試系統，保障電子元件性能穩(wěn)定。平行光管光電測試系統品牌

可見光靶標主要分為兩類：A)反射式靶標，B）透射式靶標。反射式靶標無法提供高精度的靶標圖形因此只能用于可見光成像系統簡單的評估測試。透射式靶標的精度可以達到次微米級，通常采用在干凈的玻璃基板上光刻的方法而得到。Inframet采用USAF 1951靶標，其具備很好的通用性，既支持低分辨率相機測試，也同時支持高分辨率相機測試。

產品參數：

參數：數值

圖案類型：3桿

圖案組數：0到7(可選0-8)

空間頻率范圍：1-228lp/mm(可選1-456lp/mm)

對比度：百分之二到100%

基板：鈉鈣玻璃(可選石英)

圖形鍍膜：鉻

靶標板尺寸：23x23mm 平行光管光電測試系統品牌