平行光管熱成像校準系統(tǒng)哪個好

InframetMTB面源黑體有優(yōu)異的溫度分辨率，時間穩(wěn)定性，很高的溫度均勻性和優(yōu)異的溫度精度。所有這些功能使MTB系列黑體作為國家標準實驗室或工業(yè)實驗室溫度標準的理想選擇。

高分辨率的溫度調(diào)節(jié)（0.01oC，優(yōu)于市場上其他的黑體，通常這些黑體分辨率為0.1oC）；非常好的時間穩(wěn)定性（0.1oC，優(yōu)于市場上提供的其他黑體，通常為0.5oC）；良好的溫度均勻性（1oC@125oC，市場上其他黑體通常為3oC@300x300mm）；所有的MTB黑體都由PC使用先進的溫度穩(wěn)定算法進行控制。 科技引航， INFRAMET SIM 熱成像光電測試系統(tǒng)，讓監(jiān)控更精確高效！平行光管熱成像校準系統(tǒng)哪個好

Ls-dAL光源是多通道標準光源，有四種工作模式，具有的動態(tài)范圍、可連續(xù)調(diào)節(jié)光強度（能夠模擬超亮的白天和黑夜）、計算機化設(shè)計，可用于測試可見光-短波紅外相機（彩色/單色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相機、短波紅外相機），用于中/遠程監(jiān)測應(yīng)用。

工作模式①鹵素燈，色溫2856K，模擬夜晚和典型的白天②白光LED，色溫超過5000K，模擬極亮的白天③鎬強度紫外LED，檢測抗紫外線的能力

總量度范圍10mcd/m2-10kcd/m2–D（白天版本）10μcd/m2-10kcd/m2–DN（白天/夜晚版本）（注：亮度范圍可以擴展） 海南熱成像校準系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)科技守護，熱成像校準系統(tǒng)，基數(shù)參數(shù)優(yōu)化，安全盡在掌握！

BLIQ黑體作為TCB系列特殊版本，可以彌補TCB其他型號的不足：大尺寸面源，需要降溫到零下-40℃的溫度。BLIQ也有一些限制條件：需要連接BLIQ黑體的安全罩（Inframet可提供）。覆蓋罩須裝充有干燥的氮氣，以保護黑體發(fā)射器免受結(jié)霜或濕氣冷凝。用戶需要提供干燥的氮氣。安全罩不能有任何漏洞以免潮濕熱氣體進入罩內(nèi)。測試成像儀的光學鏡頭必須完全覆蓋在罩中的輸入孔中。罩長必須至少等于黑體發(fā)射面的大小。這意味著被測試的成像儀不能位于距BLIQ黑體發(fā)射器很短的距離。

NVS夜視設(shè)備多功能測試系統(tǒng)是一個模塊化的測試系統(tǒng)，可測試長程夜視瞄準設(shè)備，同時支持測試短程夜視鏡及雙目夜視鏡。因此NVS測試系統(tǒng)是一個多功能測試系統(tǒng)。NVS測試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計，包括一組可切換的透射式光管、可移動的光源和一組靶標等模塊。

NVS測量系統(tǒng)的蕞大優(yōu)點就是通過采用不同的透射式平行光管和一組靶標，能夠測量所有類型的夜視儀。必須在測量前準備合適的平行光管，靶標和對準被測夜視器件。如果只測試短程夜視鏡以及小型夜視設(shè)備的情況下推薦NVT/NV14測試 熱成像新視界，基數(shù)參數(shù)精細校準，夜視能力再創(chuàng)新高！

TCB是由黑體發(fā)射器集成控制器電路構(gòu)建的電腦化的黑體。TCB黑體作為單一模塊交付使用。 用戶只需連接兩根標準電纜（電源和RS232電纜），就可以從PC控制黑體。該解決方案提高了TCB黑體更高的可靠性，對電磁干擾的抵抗力，并簡化了其操作。

優(yōu)良的溫度分辨率；時間穩(wěn)定性；溫度均勻性和溫度不確定性。

黑體TCB-2D/TCB-4D黑體與TCB-12D/TCB-2OD之間存在很大差異。后者的黑體要大得多，需要更大的功率，升溫更慢，更昂貴。因此建議您選擇自己合適的發(fā)射面尺寸即可。 專業(yè)校準，Inframet DTR短焦熱像儀測試系統(tǒng)熱成像更出色，基數(shù)參數(shù)優(yōu)化，安全升級！平行光管熱成像校準系統(tǒng)哪個好

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LAFT移動式熱像儀測試系統(tǒng)，可以將目標圖像直接投射到被測熱像儀。熱像儀輸出對應(yīng)圖像，根據(jù)圖像即可評價熱像儀的性能。推薦在外場條件下使用LAFT，如果在實驗室/倉庫條件下，此時可以使用長走廊作為測試場所。在適當?shù)臏y量條件下，LAFT測試系統(tǒng)的測量精度與實驗室級DT系列測試系統(tǒng)的測量精度相同。野外和實驗室內(nèi)應(yīng)用的多功能測量工具可以裝在箱子里運輸?shù)饺魏蔚胤娇梢酝瑫r測量幾個熱像儀（同時投影到幾個熱像儀上成像）產(chǎn)品參數(shù)LAFT-A：MRTD，MDTDLAFT-B：MRTD，MDTD，MTF，NETD，F(xiàn)PN，非均勻性，SiTF，畸變，F(xiàn)OV，部分輪廓靶的探測、識別和辨別平行光管熱成像校準系統(tǒng)哪個好