湖南光電測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

TAIM可以對不超過120mm的光學瞄準鏡和熱夾鉗提供擴展的測試和視線?？梢允褂脤碾娮虞敵霾东@的圖像或從被測設備的顯示器捕獲的圖像進行分析來執(zhí)行測試。

總測試功能:1.蕞小可分辨溫差MRTD測量2.圖像偏轉(zhuǎn)角度和熱像儀夾像旋轉(zhuǎn)測量3.屈光度調(diào)節(jié)范圍、目鏡度數(shù)和屈光度刻度精度測量4.在電子輸出和光學輸出（顯示器）上測量MTF，NETD，F(xiàn)PN，非均勻性，F(xiàn)OV，失真，放大倍數(shù)。注意：噪聲參數(shù)只在電子輸出端測量。

選配：1.檢查從無限遠對焦到短距離對焦是否有圖像偏移 光電測試，助力風電行業(yè)，提升葉片質(zhì)量檢測。湖南光電測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

HTB系列黑體是高溫腔式黑體爐，溫度范圍高達1200°C。該系列黑體的優(yōu)勢在于發(fā)射腔直徑較大，為25mm。黑體腔體是使用底端封閉圓筒的腔體的概念設計的。黑體提供高發(fā)射率，超寬光譜帶：從0.4μm到超過30μm。 這種寬光譜帶使得可以使用HTB黑體作為標準輻射源，其范圍從可見光波段到LWIR波段。 HTB黑體可以直接從內(nèi)部鍵盤控制，也可以使用標準USB端口從PC遠程控制。

主要特性

25mm的較大孔徑；

提供從0.4到超過30的高發(fā)射率；

可以內(nèi)部鍵盤控制，也可以使用USB端口從PC遠程控制。 湖南光電測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家光電精細測試，助力智能建筑節(jié)能減排。

SAFT是專業(yè)用來測量成像距離只有幾米的短距熱像儀的小型模塊化設備。絕大多數(shù)的商用熱像儀屬于這一范疇SAFT不使用折射光管作為投射裝置，所以分辨率片到被測成像儀的距離須比較短。所以SAFT一般推薦用來檢測上面提到的小型短距，小口徑，寬FOV的熱像儀。如果需要測試大口徑或者比較窄視野的熱像儀時，我們也提供額外的折射光管供客戶選擇。由于SAFT把一系列的分辨率片裝在了電動光柵上所以它可以快速地測量熱像儀的各種參數(shù)。一般SAFT由TCB-2D黑體，一組分辨率片，ARC-500屏蔽裝置，PC，抓幀器，TAM軟件，還有一些可選模塊組成。SAFT可以直接投射不同的分辨率片到被測熱像儀上，根據(jù)被測熱像儀所產(chǎn)生的扭曲圖像副本再結(jié)合軟件或者主觀判斷我們可以衡量出該被測熱像儀的性能，另外熱像儀的一些重要參數(shù)也都包含在了測量項目中。

這些黑體的設計基于針對THz范圍優(yōu)化的特殊澆注材料吸收體涂層，大面積均勻發(fā)射面板和控制電子元件。MAB黑體具有不同發(fā)射器面積，不同溫度范圍的一系列版本，并針對不同的光譜帶進行了優(yōu)化。MAB黑體的特征在于具有良好的溫度分辨率、溫度穩(wěn)定性、溫度均勻性、溫度不確定性和高發(fā)射率。所有這些功能使得MAB黑體被用作測試/校準太赫茲/亞太赫茲成像儀或其他這種輻射儀系統(tǒng)中的參考源的理想選擇。

MAB黑體有一系列的版本。有三個重點參數(shù)指標：黑體發(fā)射面的大小、光譜帶和溫度范圍。發(fā)射面尺寸由黑體代碼表示：MAB-XD其中X是發(fā)射器的平方近似尺寸，單位為英寸。

通常提供以下型號：MAB-6D，MAB-12D，MAB-16D，MAB-2OD，MAB-24，MAB-50。可以看出，MAB黑體提供大至1000x1000mm的發(fā)射器（型號MAB-50D）。MAB黑體可針對不同的光譜范圍進行優(yōu)化：A-從0.1mm到1mm（0.3-3THz）；B-從0.5mm到4mm（75GHz-1.5THz）；C-從2mm到10mm（30GHz-150GHz）；D-從0.5mm到10mm（30GHz-1.5THz）；E-從0.5mm到30mm（10GHz-1.5THz）；ka-從7.5mm到1.1mm（26.5-40GHz）。 應用于半導體檢測，明策光電技術領航行業(yè)標準。

Inframet生產(chǎn)的離軸反射式平行光管采用垂直結(jié)構(gòu)，平行光管的焦平面位于反射鏡垂直方向的上方。這種類型的平行光管實現(xiàn)了測試系統(tǒng)的簡單化結(jié)構(gòu)設計（只需較小、較窄的光學平臺）。而且，垂直結(jié)構(gòu)的平行光管更為先進之處在于系統(tǒng)用于熱像儀的測試時，垂直結(jié)構(gòu)的黑體溫度的均勻性要優(yōu)于使用相同模塊的水平結(jié)構(gòu)。

Inframet使用三個等級的離軸反射鏡面：?SR（標準分辨率）-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。?HR（高分辨率）-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm（典型λ/10）。?UR（超高分辨率）-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm。?SQ（極高分辨率）-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。 光電技術助力珠寶首飾，精確鑒定品質(zhì)。湖南光電測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

光電測試系統(tǒng)，保障文物修復科學精細。湖南光電測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

靶標是用于測試光電成像系統(tǒng)時創(chuàng)建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標可分為兩類:1)無源靶標，2)有源靶標。無源靶標需要由黑體或標定光源產(chǎn)生均勻光束照射，生成參考圖像模式的圖像。這些靶標通常是大型測試系統(tǒng)位于平行光管焦平面的小模塊。無源靶標的工作不需要電力供應。

版本型號：

FUT以下列不同標準尺寸的形式提供：FUT118：輻射源尺寸1100x800mm（11x8個100mm大小正方形區(qū)域）；FUT1511：輻射源尺寸1500x1100mm（15x11個100mm大小正方形區(qū)域）；FUT2020：輻射源尺寸1900x1900mm（19x19個100mm大小正方形區(qū)域）；FUT2216：輻射源尺寸2200x1600mm（22x16個100mm大小正方形區(qū)域）。還可以定制化交付不同尺寸和圖案的定制化FUT靶標。 湖南光電測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家