INFRAMET光電測試系統(tǒng)

來源: 發(fā)布時間:2024-12-04

TCB是由黑體發(fā)射器集成控制器電路構建的電腦化的黑體。TCB黑體作為單一模塊交付使用。用戶只需連接兩根標準電纜(電源和RS232電纜),就可以從PC控制黑體。

該解決方案提高了TCB黑體更高的可靠性,對電磁干擾的抵抗力,并簡化了其操作。TCB黑體有一系列版本供用戶選擇使用。有兩個重點參數(shù)指標:黑體發(fā)射面的大小和溫度范圍。

發(fā)射面尺寸由黑體代碼:TCB-XD表示,其中X是發(fā)射面平方的近似尺寸,單位為英寸。

通常提供以下型號:TCB-2D,TCB-4D,TCB-6D,TCB-8D,TCB-12D,TCB-14D。在標準版本中,這些黑體溫度范圍從0℃至100℃進行了優(yōu)化。 Inframet MS多傳感器測試系統(tǒng),助力油氣管道泄漏檢測。INFRAMET光電測試系統(tǒng)

INFRAMET光電測試系統(tǒng),光電測試系統(tǒng)

NVS測量系統(tǒng)的比較大優(yōu)點就是通過采用不同的透射式平行光管和一組靶標,能夠測量所有類型的夜視儀。必須在測量前準備合適的平行光管,靶標和對準被測夜視器件。如果只測試短程夜視鏡以及小型夜視設備的情況下推薦NVT/NV14測試

NVS夜視設備多功能測試系統(tǒng)是一個模塊化的測試系統(tǒng),可測試長程夜視瞄準設備,同時支持測試短程夜視鏡及雙目夜視鏡。因此NVS測試系統(tǒng)是一個多功能測試系統(tǒng)。NVS測試系統(tǒng)采用模塊化設計,包括一組可切換的透射式光管、可移動的光源和一組靶標等模塊。


內蒙古光電測試系統(tǒng)使用光電測試,助力風電行業(yè),提升葉片質量檢測。

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TCB系列黑體是差分面源黑體,旨在模擬低溫和適宜的常溫目標。使用熱電元件控制散熱器溫度。黑體散熱器的溫度通常從0℃至100℃可調節(jié),但范圍可擴展到-40℃至180℃。黑體發(fā)射面(從50x50mm到500x500mm),也可以拓展到更大的發(fā)射器,高達1000x1000mm的尺寸。

用于典型溫度范圍為0℃至100℃的小型50x50mm發(fā)射面的TCB-2D黑體被用作測試熱像儀的DT/MS系統(tǒng)的模塊。具有更大發(fā)射面和其他溫度范圍的黑體都可以作為其他各種應用的單獨模塊提供。

Inframet可以提供高達500x500mm的發(fā)射面的TCB黑體(型號TCB-2oD)。但是,應該注意的是,典型的小黑體TCB-2D/TCB-4D黑體與TCB-12D/TCB-2OD之間存在很大差異。后者的黑體要大得多,需要更大的功率,升溫更慢,更昂貴。因此建議您選擇自己合適的發(fā)射面尺寸即可。

MAB黑體是在整個太赫茲和亞太赫茲頻譜帶中商用的并且具有高發(fā)射率的大面積寬帶黑體。此黑體已經(jīng)由Inframet研究團隊進行了幾年的實驗研究。

主要特性

寬泛的頻譜范圍涵蓋了THz和亞THz頻帶;大面積高達1mx1m;Thz/亞THz波段的高發(fā)射率;大面積輻射面上具有良好的熱均勻性;高溫度分辨率1mK和溫度穩(wěn)定性10mK;高速,易于PC控制;緊湊可靠的設計(黑體與控制器集成)。

在國際市場提供的典型面源黑體(包括Inframet提供的TCB/MTB黑體)被優(yōu)化,以模擬在常用的紅外輻射光譜帶中的黑體目標:約1μm至約15μm。 這種黑體的發(fā)射面的高發(fā)射率是通過溫度受控的金屬板,與其涂覆的高吸收性涂料薄層來實現(xiàn)。 Inframet MS多傳感器測試系統(tǒng),助力石化行業(yè)安全生產(chǎn)。

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LAFT移動式熱像儀測試系統(tǒng),可以將目標圖像直接投射到被測熱像儀。熱像儀輸出對應圖像,根據(jù)圖像即可評價熱像儀的性能。推薦在外場條件下使用LAFT,如果在實驗室/倉庫條件下,此時可以使用長走廊作為測試場所。在適當?shù)臏y量條件下,LAFT測試系統(tǒng)的測量精度與實驗室級DT系列測試系統(tǒng)的測量精度相同。野外和實驗室內應用的多功能測量工具可以裝在箱子里運輸?shù)饺魏蔚胤娇梢酝瑫r測量幾個熱像儀(同時投影到幾個熱像儀上成像)

產(chǎn)品參數(shù)

LAFT-A:MRTD,MDTDLAFT-B:MRTD,MDTD,MTF,NETD,F(xiàn)PN,非均勻性,SiTF,畸變,F(xiàn)OV,部分輪廓靶的探測、識別和辨別 光電精確測量,保障醫(yī)療器械精確操作。INFRAMET光電測試系統(tǒng)

應用于通訊設備,SIMAT動態(tài)目標模擬器確保信號穩(wěn)定傳輸。INFRAMET光電測試系統(tǒng)

FAPA是一個準通用系統(tǒng),用于擴展控制/測試紅外FPA傳感器,專門為進行此類圖像傳感器開發(fā)研究的科學機構使用而優(yōu)化。它主要用于測試完整的紅外FPA傳感器(帶有讀出電子器件的探測器陣列)和熱成像儀中心,但也可以測量原始紅外FPA傳感器的一些關鍵參數(shù)(與ROIC集成之前)。此外,F(xiàn)APA還可以選擇用于測試完整的熱成像儀。這樣,F(xiàn)APA就可以成為評估紅外FPA傳感器生命周期中任何階段的寶貴工具:原始紅外FPA紅外傳感器、紅外FPA傳感器、熱成像儀**、熱成像儀。

FAPA是一個模塊化系統(tǒng),由一系列模塊組成,可以配置為創(chuàng)建一系列不同的子系統(tǒng),用于測量不同參數(shù)組。然而,F(xiàn)APA的所有模塊基本上可以分為三類(塊):1.放射性測量工具,2.傳感器控制/圖像處理工具,3.圖像采集/計算工具。 INFRAMET光電測試系統(tǒng)