貴州uTS原位加載試驗(yàn)機(jī)總代理

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-11-11

CT原位加載系統(tǒng):基于ARM技術(shù)和WiFi技術(shù)給出了一種無線數(shù)據(jù)采集方案,避免了旋轉(zhuǎn)掃描過程中傳感器外接連線帶來的纏繞和遮擋問題,實(shí)現(xiàn)了多路數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)可靠采集。整個(gè)采集系統(tǒng)由安裝在加載裝置上的下位機(jī)、放置于CT屏蔽室的無線路由器、放置于CT監(jiān)控室的PC上位機(jī)三部分組成。下位機(jī)與路由器通過無線連接,路由器與上位機(jī)通過網(wǎng)線連接,從而實(shí)現(xiàn)下位機(jī)與上位機(jī)的網(wǎng)絡(luò)連接。下位機(jī)采用ARM+WiFi模式,電池供電,可以實(shí)現(xiàn)壓力變送器信號(hào)的高精度采集,并采用UDP協(xié)議將數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)傳輸給上位機(jī)。原位加載設(shè)備系統(tǒng),確保試樣中心位置不變。貴州uTS原位加載試驗(yàn)機(jī)總代理

貴州uTS原位加載試驗(yàn)機(jī)總代理,原位加載系統(tǒng)

臺(tái)式掃描電鏡的工作原理:從原理上講,掃描電子顯微鏡是利用非常精細(xì)聚焦的高能電子束在樣品上掃描,激發(fā)各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像,可以獲得對試樣表面形貌的觀察。掃描電子顯微鏡(SEM)——一種電子光學(xué)儀器,它利用很細(xì)的電子束掃描被觀察樣品的表面,收集電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的一系列電子信息,并對圖像進(jìn)行變換和放大。它是研究三維表面結(jié)構(gòu)的有用工具。在高真空鏡筒中,電子設(shè)備產(chǎn)生的電子束通過電子會(huì)聚透鏡聚焦成細(xì)束,然后逐點(diǎn)掃描轟擊樣品表面。福建CT原位加載設(shè)備代理商原位加載系統(tǒng)是一種結(jié)合材料表征分析手段的力學(xué)性能加載方式。

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CT原位加載系統(tǒng):通信協(xié)議與數(shù)據(jù)包格式:在WiFi通信中,網(wǎng)絡(luò)傳輸層的協(xié)議主要有TCP和UDP兩種。TCP作為一種面向連接的傳輸協(xié)議,能夠提供穩(wěn)定可靠的傳輸服務(wù),具有確認(rèn)、重傳、擁塞控制機(jī)制。但TCP傳輸效率相對較低,占用系統(tǒng)資源較高,不適用于大規(guī)模數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)傳輸。UDP作為一種無連接、無狀態(tài)的傳輸協(xié)議,實(shí)時(shí)性較好,系統(tǒng)資源消耗小,傳輸效率高。但在不穩(wěn)定的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境中,UDP傳輸可能會(huì)發(fā)生丟包或數(shù)據(jù)順序錯(cuò)誤。考慮到加載過程中有大量數(shù)據(jù)需要實(shí)時(shí)采集,這里選定UDP協(xié)議進(jìn)行無線傳輸,并在上位機(jī)采集軟件中進(jìn)行數(shù)據(jù)包識(shí)別和檢測,以便在保證良好實(shí)時(shí)性的前提下適當(dāng)進(jìn)行數(shù)據(jù)容錯(cuò)處理。

掃描電鏡原位加載設(shè)備:真空系統(tǒng):真空系統(tǒng)主要包括真空泵和真空柱兩部分。真空柱是一個(gè)密封的柱形容器。真空泵用來在真空柱內(nèi)產(chǎn)生真空。有機(jī)械泵、油擴(kuò)散泵以及渦輪分子泵三大類,機(jī)械泵加油擴(kuò)散泵的組合可以滿足配置鎢燈絲設(shè)備的掃描電鏡的真空要求,但對于裝置了場致發(fā)射設(shè)備或六硼化鑭及六硼化鈰設(shè)備的掃描電鏡,則需要機(jī)械泵加渦輪分子泵的組合。成象系統(tǒng)和電子束系統(tǒng)均內(nèi)置在真空柱中。需要真空的原因包括:一是電子束系統(tǒng)中的燈絲在普通大氣中會(huì)迅速氧化而失效,所以需要抽真空。二是為了增大電子的平均自由程,從而使得用于成象的電子更多。與原位加載附件配合后,就可實(shí)現(xiàn)材料動(dòng)態(tài)破壞過程細(xì)觀結(jié)構(gòu)的原位觀察技術(shù)。

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掃描電鏡原位加載設(shè)備的相關(guān)知識(shí)點(diǎn):SEM樣品若為金屬或?qū)щ娦粤己?,則表面不需任何處理,可直接觀察。若為非導(dǎo)體,則需鍍上一層金屬膜或碳膜協(xié)助樣品導(dǎo)電,膜層應(yīng)均勻無明顯特征,以避免干擾樣品表面。金屬膜較碳膜容易鍍,適用于SEM影像觀察,通常為Au或Au-Pd合金或Pt。而碳膜較適于X光微區(qū)分析,主要是因?yàn)樘嫉脑有虻停梢詼p少X光吸收。適當(dāng)?shù)墓ぷ骶嚯x的選擇,可以得到很好的影像。較短的工作距離,電子訊號(hào)接收較佳,可以得到較高的分辨率,但是景深縮短。掃描電鏡原位加載設(shè)備的真空系統(tǒng)有真空系統(tǒng)主要包括真空泵和真空柱兩部分。貴州uTS原位加載試驗(yàn)機(jī)總代理

基于本試驗(yàn)系統(tǒng)的觀測原理,通過對觀測對象限制更小的顯微觀測技術(shù)的原位加載觀測有更大范圍應(yīng)用價(jià)值。貴州uTS原位加載試驗(yàn)機(jī)總代理

原位加載設(shè)備的研制:目前原位加載試驗(yàn)是一種結(jié)合材料表征分析手段的力學(xué)性能加載方式,可以很好的符合目前的力學(xué)測試與表征同時(shí)進(jìn)行的要求。原位加載試驗(yàn)是指材料在進(jìn)行拉伸/壓縮試驗(yàn)的同時(shí),對受測試樣進(jìn)行實(shí)時(shí)觀測,并記錄應(yīng)力-應(yīng)變曲線,將材料加載過程中產(chǎn)生的微觀形貌的變化與試樣的應(yīng)力-應(yīng)變曲線相結(jié)合,能更加深入的了解材料變形的具體原因。目前掃描電鏡電子背散射衍射(Electronbackscatterdiffraction)分析技術(shù)是一種應(yīng)用很廣的表征分析方法。此技術(shù)除了在對試樣進(jìn)行微觀形貌觀察外,同時(shí)還可以對試樣的晶體學(xué)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,相對于將傳統(tǒng)的微觀形貌和晶體學(xué)分析分開的研究辦法,有效的提高了分析技術(shù)的深度和應(yīng)用范圍。因此在此基礎(chǔ)上,開發(fā)一種基于掃描電鏡電子背散射衍射分析的原位加載裝置極其使用的試驗(yàn)方法非常有必要。貴州uTS原位加載試驗(yàn)機(jī)總代理

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