江西全場數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測量

來源: 發(fā)布時間:2023-09-01

光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)對被測物體的表面有何要求?光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)是一種非接觸式的測量方法,通過光學(xué)原理來測量物體表面的應(yīng)變情況。在進行光學(xué)非接觸應(yīng)變測量時,被測物體的表面質(zhì)量和特性對測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性起著至關(guān)重要的作用。因此,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)對被測物體的表面有一定的要求。首先,被測物體的表面應(yīng)具有一定的平整度。表面的平整度直接影響到光線的傳播和反射,進而影響到測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。如果被測物體表面存在明顯的凹凸不平或者粗糙度較大,會導(dǎo)致光線的散射和反射不均勻,從而影響到測量結(jié)果的精度。因此,在進行光學(xué)非接觸應(yīng)變測量之前,需要對被測物體的表面進行光學(xué)加工或者拋光處理,以確保表面的平整度達到一定的要求。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量應(yīng)用于材料性能的優(yōu)化設(shè)計。江西全場數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測量

江西全場數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測量,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量

測量應(yīng)變的方法有多種,其中比較常用的是應(yīng)變計。應(yīng)變計的電阻與設(shè)備的應(yīng)變成正比關(guān)系。粘貼式金屬應(yīng)變計是應(yīng)變計中比較常用的一種,由細金屬絲或按柵格排列的金屬箔組成。格網(wǎng)狀的設(shè)計可以使金屬絲/箔在并行方向中應(yīng)變量較大化。格網(wǎng)可以與基底相連,基底直接連接到測試樣本,因此測試樣本所受的應(yīng)變可以直接傳輸?shù)綉?yīng)變計,引起電阻的線性變化。應(yīng)變計的基本參數(shù)是其對應(yīng)變的靈敏度,通常用應(yīng)變計因子(GF)來表示。GF是電阻變化與長度變化或應(yīng)變的比值。湖北全場非接觸式測量光學(xué)非接觸應(yīng)變測量適用于高溫、高壓或易損壞環(huán)境中的應(yīng)變測量。

江西全場數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測量,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量

光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)的測量誤差與被測物體的表面特性有關(guān)。例如,表面的反射率、粗糙度等因素會影響光學(xué)信號的傳播和接收,進而影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。為了減小這種誤差,可以選擇適合被測物體表面特性的光學(xué)系統(tǒng),并進行相應(yīng)的校準(zhǔn)和補償計算。綜上所述,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)的測量誤差來源主要包括光源的不穩(wěn)定性、光學(xué)系統(tǒng)的畸變、環(huán)境因素、光學(xué)系統(tǒng)的對齊、分辨率不足以及被測物體的表面特性等。為了提高測量的準(zhǔn)確性,需要選擇合適的光學(xué)設(shè)備,進行精確的校準(zhǔn)和調(diào)整,并控制好環(huán)境條件。此外,還可以采用信號處理和圖像分析等方法,對測量結(jié)果進行進一步的處理和優(yōu)化。

光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)則可以在高溫環(huán)境下進行準(zhǔn)確的應(yīng)變測量,具有以下幾個優(yōu)勢。首先,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)可以實現(xiàn)非接觸式測量。在高溫環(huán)境下,物體表面可能會產(chǎn)生較高的熱量,傳統(tǒng)的接觸式測量方法可能會受到熱量的干擾,導(dǎo)致測量結(jié)果不準(zhǔn)確。而光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)可以通過激光或光纖傳感器等設(shè)備進行非接觸式測量,避免了熱量的干擾,提高了測量的準(zhǔn)確性。其次,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)可以實現(xiàn)實時監(jiān)測。在高溫環(huán)境下,物體的應(yīng)變情況可能會發(fā)生變化,需要實時監(jiān)測來及時調(diào)整工藝或采取措施。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量克服傳統(tǒng)應(yīng)變測量中的一些缺陷。

江西全場數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測量,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量

光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)是一種非接觸式的測量方法,可以用于測量物體表面的應(yīng)變分布。然而,由于各種因素的影響,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)存在一定的測量誤差。這里將介紹光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)的測量誤差來源,并探討如何減小這些誤差。首先,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)的測量誤差來源之一是光源的不穩(wěn)定性。光源的不穩(wěn)定性會導(dǎo)致測量結(jié)果的波動,進而影響測量的準(zhǔn)確性。為了減小這種誤差,可以選擇穩(wěn)定性較好的光源,并進行定期的校準(zhǔn)和維護。其次,光學(xué)非接觸應(yīng)變測量技術(shù)的測量誤差還與光學(xué)系統(tǒng)的畸變有關(guān)。光學(xué)系統(tǒng)的畸變會導(dǎo)致測量結(jié)果的偏差,從而影響測量的準(zhǔn)確性。為了減小這種誤差,可以采用高質(zhì)量的光學(xué)元件,并進行精確的校準(zhǔn)和調(diào)整。光學(xué)非接觸應(yīng)變測量具有廣闊的應(yīng)用前景,其精度、靈敏度和速度將進一步提高。北京VIC-2D數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測量系統(tǒng)

通過光學(xué)非接觸應(yīng)變測量的數(shù)據(jù)處理與分析,可以評估和優(yōu)化物體的結(jié)構(gòu)設(shè)計和材料性能。江西全場數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測量

外部變形包括變形體外部形狀及其空間位置的改變,如傾斜、裂縫、垂直和水平位移等。因此,變形觀測可分為垂直位移觀測(常稱為沉降觀測)、水平位移觀測(常簡稱為位移觀測)、傾斜觀測、裂縫觀測、撓度觀測(建筑的基礎(chǔ)、上部結(jié)構(gòu)或構(gòu)件等在彎矩作用下因撓曲引起的垂直于軸線的線位移)、風(fēng)振觀測(對受強風(fēng)作用而產(chǎn)生的變形進行觀測)、日照觀測(對受陽光照射受熱不均而產(chǎn)生的變形進行觀測)以及基坑回彈觀測(對基坑開挖時由于卸除土的自重而引起坑底土隆起的現(xiàn)象進行觀測)等。內(nèi)部變形則指變形體內(nèi)部應(yīng)力、溫度、水位、滲流、滲壓等的變化。江西全場數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)測量

研索儀器科技(上海)有限公司致力于儀器儀表,以科技創(chuàng)新實現(xiàn)高質(zhì)量管理的追求。研索儀器擁有一支經(jīng)驗豐富、技術(shù)創(chuàng)新的專業(yè)研發(fā)團隊,以高度的專注和執(zhí)著為客戶提供光學(xué)非接觸應(yīng)變/變形測量,原位加載系統(tǒng),復(fù)合材料無損檢測系統(tǒng),視頻引伸計。研索儀器不斷開拓創(chuàng)新,追求出色,以技術(shù)為先導(dǎo),以產(chǎn)品為平臺,以應(yīng)用為重點,以服務(wù)為保證,不斷為客戶創(chuàng)造更高價值,提供更優(yōu)服務(wù)。研索儀器創(chuàng)始人高淑芬,始終關(guān)注客戶,創(chuàng)新科技,竭誠為客戶提供良好的服務(wù)。