高壓開(kāi)關(guān)柜局部放電產(chǎn)生原因

GZPD-4D型分布式高壓電纜局部放電監(jiān)測(cè)及評(píng)價(jià)系統(tǒng)是我公司結(jié)合多年局放監(jiān)測(cè)技術(shù)研發(fā)及工程技術(shù)服務(wù)的豐富經(jīng)驗(yàn)、吸取GZPD-234型診斷式局部放電監(jiān)測(cè)系統(tǒng)及國(guó)內(nèi)外類(lèi)似產(chǎn)品的技術(shù)亮點(diǎn)和用戶(hù)評(píng)價(jià)度而研制。GZPD-4D系統(tǒng)集成采集單元、云服務(wù)器、4G/5G傳輸、邊緣計(jì)算、分布式組網(wǎng)、TF-Map圖譜篩選（我司獲授權(quán)的軟著權(quán)“局部放電測(cè)試軟件V1.0”中的核心算法）、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)、典型故障樣本數(shù)據(jù)庫(kù)等先進(jìn)技術(shù)理念，成功應(yīng)用于高壓電纜的耐壓試驗(yàn)同步、在線運(yùn)行狀態(tài)下短期的局部放電監(jiān)測(cè)與評(píng)價(jià)，并通過(guò)中國(guó)電科院及其他專(zhuān)業(yè)機(jī)構(gòu)的檢測(cè)認(rèn)證后取得了“診斷型”報(bào)告證書(shū)GZPD-4D系列分布式局部放電監(jiān)測(cè)與評(píng)價(jià)系統(tǒng)。高壓開(kāi)關(guān)柜局部放電產(chǎn)生原因

傳統(tǒng)的局部放電監(jiān)測(cè)儀,其測(cè)量信號(hào)的響應(yīng)頻率一般不超過(guò)1MHz,易受外界干擾的影響,穩(wěn)定性差，影響了其應(yīng)用。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)、電子技術(shù)和傳感器技術(shù)的進(jìn)步，為特高頻監(jiān)測(cè)技術(shù)創(chuàng)造了條件，使其具有監(jiān)測(cè)頻率高、抗干擾性強(qiáng)和靈敏度高，得到高度重視。GZPD系列手持式多功能局部放電監(jiān)測(cè)儀，可以根據(jù)需求定制1~4通道并配置有1~5種傳感器，配置情況如下：1、AE、UHF和HF法適用于變壓器/電抗器/高壓電纜（終端為GIS時(shí)可用AE、UHF監(jiān)測(cè)）的局部放電監(jiān)測(cè)；2、AE/AA、HF和TEV法適用于對(duì)開(kāi)關(guān)柜/環(huán)網(wǎng)柜的局部放電監(jiān)測(cè)；3、AE和UHF適用于對(duì)GIS、HGIS、GIL的局部放電進(jìn)行監(jiān)測(cè)。內(nèi)置的**診斷系統(tǒng)能根據(jù)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，判斷放電能量大小和可能部位，在電力系統(tǒng)得到廣泛應(yīng)用。超高壓局部放電監(jiān)測(cè)維修局部放電可能發(fā)生在固體絕緣材料（紙、聚合物等）的空隙中。

三、遵循標(biāo)準(zhǔn)（但不限于下列標(biāo)準(zhǔn)）2.1GB/T7354高電壓試驗(yàn)技術(shù)局部放電測(cè)量；2.2DL/T417電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量導(dǎo)則；2.3DL/T846.4高電壓測(cè)試設(shè)備通用技術(shù)條件第4部分：脈沖電流法局部放電測(cè)量?jī)x；2.4DL/T846.10高電壓測(cè)試設(shè)備通用技術(shù)條件第10部分：暫態(tài)地電壓局部放電檢測(cè)儀；2.5DL/T846.11高電壓測(cè)試設(shè)備通用技術(shù)條件第11部分：特高頻局部放電檢測(cè)儀；2.6DL/T1250氣體絕緣金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備帶電超聲局部放電檢測(cè)應(yīng)用導(dǎo)則；2.7DL/T1416超聲波法局部放電測(cè)試儀通用技術(shù)條件；2.8DL/T1630氣體絕緣金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備局部放電特高頻檢測(cè)技術(shù)規(guī)范；2.9Q/GDW11059.1超聲波法局部放電帶電檢測(cè)技術(shù)現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用導(dǎo)則

長(zhǎng)期以來(lái)，進(jìn)行變壓器/電抗器OLTC的測(cè)試一直采用直流方法測(cè)試，所獲取的波形與OLTC制造商例行測(cè)試波形進(jìn)行比對(duì)，對(duì)OLTC現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試起到了一定作用。由于OLTC制造商在車(chē)間例行測(cè)試是對(duì)裸開(kāi)關(guān)進(jìn)行測(cè)試，現(xiàn)場(chǎng)是變壓器帶繞組進(jìn)行的測(cè)試，兩者差異很大。直流方法測(cè)試受測(cè)試技術(shù)方法和技術(shù)能力限制，現(xiàn)場(chǎng)OLTC測(cè)試有時(shí)會(huì)出現(xiàn)波形無(wú)法判讀等問(wèn)題，各方面工程技術(shù)人員爭(zhēng)議很大，表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：2.2.1直流測(cè)試法*適用于繞組中性點(diǎn)處并有中性點(diǎn)抽出的OLTC測(cè)試，對(duì)繞組中性點(diǎn)以外其它位置(線端、中部等)處的OLTC及單相變壓器OLTC不能測(cè)試。2.2.2直流測(cè)試由于其測(cè)試原理、技術(shù)能力等原因，有時(shí)測(cè)試獲取的波形與制造商給出的波形差異較大，無(wú)法給出準(zhǔn)確分析結(jié)論，OLTC反復(fù)吊出檢查與測(cè)試，影響新設(shè)備、大修后設(shè)備投運(yùn)。為防止OLTC事故，甚至將無(wú)法判定OLTC是否存在缺陷的變壓器改做無(wú)載調(diào)壓變壓器運(yùn)行。2.2.3部分直流測(cè)試波形異常無(wú)法判定OLTC動(dòng)作特性正常，以制造商質(zhì)量承諾投入運(yùn)行，不能保證OLTC的安全運(yùn)行。2.2.4變壓器設(shè)計(jì)上新技術(shù)采用，以及電抗式、真空斷路器式等的OLTC使用，直流測(cè)試方法無(wú)法完全滿(mǎn)足現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試需要。2.3交流測(cè)試法的特點(diǎn)由于局部放電脈沖信號(hào)是一個(gè)很微弱的信號(hào)，現(xiàn)場(chǎng)電磁干擾會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生很大的誤差，因此很難準(zhǔn)確測(cè)量。

?支持脈沖波形、波形頻譜、PRPD圖譜、TF-Map、3-PARD、放電基本參數(shù)(放電幅值、相位、頻次等)實(shí)時(shí)顯示；?采用濾波電路、數(shù)字濾波器、TF-Map篩選、分組篩選四重抗干擾技術(shù)；?系統(tǒng)采集軟件及分析軟件一體化設(shè)計(jì)，支持一鍵式安裝；?可調(diào)參數(shù)**小化，便于現(xiàn)場(chǎng)快速設(shè)置及采集，自動(dòng)更新參數(shù)后采集及存儲(chǔ)數(shù)據(jù)；?具備低通(LPF)、高通(HPF)及帶通(BPF)多種數(shù)字濾波器及帶寬選擇功能；?具備采集數(shù)據(jù)自動(dòng)保存、信號(hào)回放、趨勢(shì)分析、歷史數(shù)據(jù)查詢(xún)等功能；?采用分布式組網(wǎng)技術(shù)，支持32個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn)同步開(kāi)展監(jiān)測(cè)（可根據(jù)需求擴(kuò)展），可完成15km的高壓電纜耐壓試驗(yàn)時(shí)的局放監(jiān)測(cè)；?采用高可靠性、高安全性云服務(wù)器(ECS)，支持高網(wǎng)絡(luò)包收發(fā)、海量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及多客戶(hù)端訪問(wèn)，技術(shù)人員和**可隨時(shí)提供技術(shù)支持，分布式組網(wǎng)及IP、指令、數(shù)據(jù)傳輸GZPD-4D系列分布式局部放電監(jiān)測(cè)與評(píng)價(jià)系統(tǒng)的概述。高壓開(kāi)關(guān)柜局部放電產(chǎn)生原因

GZPD-4D系列分布式局部放電監(jiān)測(cè)與評(píng)價(jià)系統(tǒng)構(gòu)成及功能參數(shù)。高壓開(kāi)關(guān)柜局部放電產(chǎn)生原因

局部放電的增加通常意味著絕緣材料的劣化，可能是由以下幾種機(jī)制引起的：電樹(shù)放電：絕緣材料中的微小缺陷（如氣泡、裂紋或雜質(zhì)）在電場(chǎng)作用下形成電樹(shù)。電樹(shù)的生長(zhǎng)會(huì)改變絕緣材料的電場(chǎng)分布，導(dǎo)致局部放電活動(dòng)加劇。介質(zhì)斷裂：長(zhǎng)期的電應(yīng)力作用可能導(dǎo)致絕緣材料中的化學(xué)鍵斷裂，形成導(dǎo)電通路，從而引起局部放電。表面老化：絕緣表面由于環(huán)境因素（如氧化、水解）的影響，可能會(huì)形成導(dǎo)電層或污染物，這些都可能成為局部放電的源頭。內(nèi)部缺陷發(fā)展：絕緣材料內(nèi)部的微裂紋或空洞在電場(chǎng)作用下可能擴(kuò)展，形成放電通道。高壓開(kāi)關(guān)柜局部放電產(chǎn)生原因