海門ICPMS質(zhì)譜儀維修

    在使用質(zhì)譜儀器的過程中，經(jīng)常會出現(xiàn)各種各樣的故障，影響實驗的正常進行，如何迅速、準確地判斷故障原因，及時地予以排除，是儀器操作人員經(jīng)常面臨和急需解決的問題。咱們就對質(zhì)譜儀常見的故障現(xiàn)象、產(chǎn)生故障的可能原因及故障排除方法進行了總結(jié)和歸納，供儀器操作人員參考。1、質(zhì)譜不出峰的可能原因（1）進樣系統(tǒng)與離子源沒連接或有漏液（2）六通閥漏液（3）霧化氣沒開（4）噴霧電壓沒有（5）離子進入分析器的離子通道堵塞（6）噴霧毛細管堵塞2、如何根據(jù)樣品選擇離子源可根據(jù)分子量的大小、極性。APCI適合小分子，極性小的化合物；ESI適合分析的分子量范圍較大、分子要求帶有一定極性。一般先考慮用ESI分析，如果極性實在太小，才想到用APCI。 質(zhì)譜儀，就選上海禹重實業(yè)有限公司，用戶的信賴之選，歡迎新老客戶來電！海門ICPMS質(zhì)譜儀維修

Orbitrap Fusion Lumos Tribrid MS 的特點：新型高靈敏度 API 接口將高容量離子轉(zhuǎn)移管和電動離子漏斗結(jié)合，旨在提高離子通量，降低檢測限先進的主動離子束傳輸組件可防止中性粒子和高速離子簇進入分離離子的四極桿中先進的四極桿技術(shù)結(jié)合高靈敏度和離子傳輸效率，使選中離子從分離窗口中心穿過先進的真空技術(shù)提高了向 Orbitrap 分析儀傳輸高分子量離子的速度全新的 ETD HD—高動態(tài)范圍 ETD ***提升了碎片離子覆蓋范圍高級峰值測定 (APD) - 一種用于改進數(shù)據(jù)依賴實驗中母離子測定的新算法，大幅增加了獨特肽段的識別數(shù)量和實驗通量Tribrid 結(jié)構(gòu)包括四極桿濾質(zhì)器、線性離子阱以及 Orbitrap 質(zhì)量分析器，用于盡可能提高由各項儀器操作高度并行化導致的占空比海門ICPMS質(zhì)譜儀維修上海禹重實業(yè)有限公司致力于提供質(zhì)譜儀，竭誠為您服務。

Orbitrap Fusion Lumos Tribrid MS 的特點：

高達 500,000 FWHM 的超高分辨能力，m/z 為 200 時同位素保真度高達 240,000 FWHMOrbitrap 和線性離子阱 MSn 分析的采集速率高達 20 Hz應用智能 ADAPT?（所有動態(tài)可用并行時間）技術(shù)可實現(xiàn)完全并行化 MS 和 MSn 分析MS 和 MSn 實驗的同步前體選擇 (SPS) 可以顯著提高鑒定的多肽和蛋白數(shù)量，當使用同量異序質(zhì)量標簽時，還能提高定量分析準確性片段化靈活性 — CID、HCD 和可選 ETD 和 EThcD 在 MSn 的任何階段均可用，與 Orbitrap 或線性離子阱檢測器檢測一起，可以對代謝物、聚糖和其他小分子進行詳細的結(jié)構(gòu)確定

測定超痕量元素和同位素比值的儀器。由等離子體發(fā)生器，霧化室，炬管，四極質(zhì)譜儀和一個快速通道電子倍增管（稱為離子探測器或收集器）組成。其工作原理是：霧化器將溶液樣品送入等離子體光源，在高溫下汽化,解離出離子化氣體,通過銅或鎳取樣錐收集的離子,在低真空約133.322帕壓力下形成分子束,再通過1～2毫米直徑的截取板進入四極質(zhì)譜分析器，經(jīng)濾質(zhì)器質(zhì)量分 離后，到達離子探測器，根據(jù)探測器的計數(shù)與濃度的比例關系,可測出元素的含量或同位素比值。其優(yōu)點是:具有很低的檢出限（達ng/ml或更低），基體效應小,譜線簡單，能同時測定許多元素，動態(tài)線性范圍寬及能快速測定同位素比值。地質(zhì)學中用于測定巖石、礦石、礦物、包裹體，地下水中微量、痕量和超痕量的金屬元素，某些鹵素元素、非金屬元素及元素的同位素比值。上海禹重實業(yè)有限公司致力于提供質(zhì)譜儀，有想法的可以來電咨詢！

同位素質(zhì)譜儀同位素質(zhì)譜分析法的特點是測試速度快，結(jié)果精確，樣品用量少（微克量級）。能精確測定元素的同位素比值。 用于核科學，地質(zhì)年代測定，同位素稀釋質(zhì)譜分析，同位素示蹤分析。離子探針離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質(zhì)荷比（m/e）分開，可獲得材料微區(qū)質(zhì)譜圖譜及離子圖像， 再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質(zhì)譜儀的特點?？梢蕴綔y電子探針顯微分析方法檢測極限以下的微量元素，研究其局部分布和偏析?？梢宰鳛橥凰胤治觥？梢苑治鰳O薄表面層和表面吸附物，表面分析時可以進行縱向的濃度分析。成像離子探針適用于許多不同類型的樣品分析，包括金屬樣品、半導體器件、非導體樣品，如高聚物和玻璃產(chǎn)品等。廣泛應用于金屬、半導體、催化劑、表面、薄膜等領域中以及環(huán)保科學、空間科學和生物化學等研究部門。上海禹重實業(yè)有限公司為您提供質(zhì)譜儀，歡迎您的來電哦！金華三重四極桿質(zhì)譜儀

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氣相色譜儀分析儀器原理介紹禹重分享：1.紫外吸收光譜：縮寫：UV；分析原理：吸收紫外光能量，引起分子中電子能級的躍遷；譜圖的表示方法：相對吸收光能量隨吸收光波長的變化；提供的信息：吸收峰的位置、強度和形狀，提供分子中不同電子結(jié)構(gòu)的信息。2.熒光光譜法：縮寫：FS；分析原理：被電磁輻射激發(fā)后，從 單線激發(fā)態(tài)回到單線基態(tài)，發(fā)射熒光；譜圖的表示方法：發(fā)射的熒光能量隨光波長的變化；提供的信息：熒光效率和壽命，提供分子中不同電子結(jié)構(gòu)的信息。海門ICPMS質(zhì)譜儀維修