在EMI測(cè)試中，信號(hào)線對(duì)于電磁噪聲來(lái)說(shuō)是一個(gè)很好的耦合傳播途徑，無(wú)論是外部還是內(nèi)部干擾都能通過(guò)信號(hào)線傳導(dǎo)至其他設(shè)備，因此信號(hào)端口濾波的好壞是影響設(shè)備EMI是否超標(biāo)的一個(gè)重要因素。差分傳輸是一種信號(hào)傳輸?shù)募夹g(shù)，區(qū)別于傳統(tǒng)的一根信號(hào)線一根地線的單端信號(hào)傳輸，差分傳...

可視化ESD抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-ESD產(chǎn)品特點(diǎn)■支持標(biāo)準(zhǔn)ESD波形的抗擾度可視化分析；■支持比較低的干擾電壓，可用于芯片等敏感器件的抗擾度分析；■干擾電壓步進(jìn)任意設(shè)置，兼顧測(cè)試效率及測(cè)試精度；■精確定位PCB板上受擾位置，快速找到敏感源；■自動(dòng)化測(cè)試...

WIFI信道仿真自動(dòng)化測(cè)試方案——無(wú)線信道的復(fù)雜性和不確定性導(dǎo)致了無(wú)線通信質(zhì)量的不確 定性，也較大增加了無(wú)線通信驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)的復(fù)雜程度。在實(shí)際應(yīng) 用環(huán)境中的測(cè)試一直是整個(gè)業(yè)界的短板，很大程度上還是依靠 費(fèi)時(shí)、費(fèi)力、沒有重復(fù)性的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，該系統(tǒng)方案 采用行...

車載導(dǎo)航產(chǎn)品的輻射干擾包含寬帶干擾和窄帶干擾。車載導(dǎo)航儀內(nèi)的DC/DC變換器工作在脈沖狀態(tài)下，本身就會(huì)產(chǎn)生很強(qiáng)的寬帶干擾。而車載電子產(chǎn)品的主控芯片的速度在不斷提高，時(shí)鐘上升沿的振鈴就會(huì)產(chǎn)生豐富的諧波窄帶干擾。對(duì)這些車載導(dǎo)航儀的輻射干擾的整改，需要對(duì)其電磁輻射干...

WIFI信道仿真自動(dòng)化測(cè)試方案——無(wú)線信道的復(fù)雜性和不確定性導(dǎo)致了無(wú)線通信質(zhì)量的不確 定性，也較大增加了無(wú)線通信驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)的復(fù)雜程度。在實(shí)際應(yīng) 用環(huán)境中的測(cè)試一直是整個(gè)業(yè)界的短板，很大程度上還是依靠 費(fèi)時(shí)、費(fèi)力、沒有重復(fù)性的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，該系統(tǒng)方案 采用行...

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹：電子產(chǎn)品在做脈沖群抗擾度測(cè)試時(shí)，通過(guò)電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾，會(huì)引起產(chǎn)品的死機(jī)、重啟、性能功能 下降等異常，甚至?xí)?dǎo)致直接硬件損壞。在解決此類問(wèn)題時(shí)，比較大的困難在于注入到產(chǎn)...

輻射近場(chǎng)測(cè)量需要解決的問(wèn)題：（1）考慮探頭與被測(cè)天線多次散射耦合的理論公式：在前述的理論中，所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的，這些公式對(duì)常規(guī)天線的測(cè)量有一定的精度，但對(duì)低副瓣或很低副瓣天線測(cè)量就必需考慮這些因素，因此，需要建立嚴(yán)格的耦合方程。...

輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)-TS18整體介紹：具有無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品在工作時(shí)，除了主載波頻率及正常調(diào)制相關(guān)的邊帶信號(hào)外，往往會(huì)產(chǎn)生其他的離散頻率信號(hào)，造成對(duì)外邊設(shè)備和電磁環(huán)境的干擾。按照標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)要求，雜散信號(hào)的強(qiáng)度不能超過(guò)相應(yīng)的限值，否則產(chǎn)品就不能對(duì)外銷售。雜散信...

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹：電子產(chǎn)品在做脈沖群抗擾度測(cè)試時(shí)，通過(guò)電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾，會(huì)引起產(chǎn)品的死機(jī)、重啟、性能功能 下降等異常，甚至?xí)?dǎo)致直接硬件損壞。在解決此類問(wèn)題時(shí)，比較大的困難在于注入到產(chǎn)...

EMI整改：1、對(duì)于差模干擾超標(biāo)可調(diào)整X電容量,添加差模電感器，調(diào)差模電感量；2、對(duì)于共模干擾超標(biāo)可添加共模電感,選用合理的電感量來(lái)壓制；3、也可改變整流二極管特性來(lái)處理一對(duì)快速二極管如FR107一對(duì)普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓...

輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)-TS18產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室，體積小，設(shè)計(jì)有腳輪，易移動(dòng)搬遷；【省成本】無(wú)復(fù)雜工程安裝，經(jīng)濟(jì)性滿足研發(fā)或生產(chǎn)批量性預(yù)測(cè)試需求；【一致性】?jī)?nèi)置3D轉(zhuǎn)臺(tái)，測(cè)試方式更接近于標(biāo)準(zhǔn)暗室測(cè)試方法，測(cè)試一致性好；【兼容性】自動(dòng)化測(cè)試系...

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■OTA測(cè)試軟件參考CITA及ETSITS137544等相關(guān)測(cè)量要求；■測(cè)試軟件同樣適用于基于傳統(tǒng)全電波暗室的OTA測(cè)量需求；■自定義功能定制擴(kuò)展靈活；■自動(dòng)化測(cè)試，自動(dòng)生成數(shù)據(jù)報(bào)表和方向圖曲線及3D圖。關(guān)鍵...

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■OTA測(cè)試軟件參考CITA及ETSITS137544等相關(guān)測(cè)量要求；■測(cè)試軟件同樣適用于基于傳統(tǒng)全電波暗室的OTA測(cè)量需求；■自定義功能定制擴(kuò)展靈活；■自動(dòng)化測(cè)試，自動(dòng)生成數(shù)據(jù)報(bào)表和方向圖曲線及3D圖。關(guān)鍵...

近場(chǎng)存在于距電磁輻射源（例如發(fā)射天線）一個(gè)波長(zhǎng)范圍內(nèi)的電磁場(chǎng)，一個(gè)聲源（如揚(yáng)聲器）附近的聲輻射場(chǎng)。在衍射光學(xué)中，近場(chǎng)定義如下：當(dāng)入射光波是平面波，經(jīng)過(guò)透鏡會(huì)聚后。以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長(zhǎng)度范圍外的光場(chǎng)為近場(chǎng)，否則稱為遠(yuǎn)場(chǎng)。一般來(lái)說(shuō)我們把菲涅耳衍射稱為...

輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究，就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。時(shí)域輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究，為了反映脈...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13整體介紹：輻射雜散性能是帶有無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品的關(guān)鍵性能指標(biāo)，并且，影響輻射雜散性能的因素特別復(fù)雜，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)階段都需要保證輻射雜散方案性能的可靠性和一致性。標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室測(cè)試方案成本高，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不能滿足研發(fā)階段的...

輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)-TS18整體介紹：具有無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品在工作時(shí)，除了主載波頻率及正常調(diào)制相關(guān)的邊帶信號(hào)外，往往會(huì)產(chǎn)生其他的離散頻率信號(hào)，造成對(duì)外邊設(shè)備和電磁環(huán)境的干擾。按照標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)要求，雜散信號(hào)的強(qiáng)度不能超過(guò)相應(yīng)的限值，否則產(chǎn)品就不能對(duì)外銷售。雜散信...

PCB近場(chǎng)掃描儀FLS106PCBset的目的是，方便近場(chǎng)探頭檢測(cè)電子元件組的磁場(chǎng)或電場(chǎng)。掃描儀和近場(chǎng)探頭系列（從SX到LF）的組合可以測(cè)量頻率范圍為100kHz-10GHz的電場(chǎng)或磁場(chǎng)。該近場(chǎng)探頭可以在元件組上方沿三個(gè)軸運(yùn)動(dòng)。近場(chǎng)探頭在受試設(shè)備上方的光學(xué)定位...

近場(chǎng)掃描測(cè)試能計(jì)入環(huán)境影響嗎?近場(chǎng)測(cè)試是測(cè)的近場(chǎng)的表面電流,或者說(shuō)很近的電磁場(chǎng),然后再計(jì)算成遠(yuǎn)場(chǎng)的方向圖,這顯然是無(wú)法考慮附近金屬體的影響的,其實(shí)近場(chǎng)測(cè)試只是對(duì)方向性高的陣列天線比較適用,到了邊上的話計(jì)算出的場(chǎng)也是不準(zhǔn)的,需要校準(zhǔn).我覺得如果你把金屬考慮進(jìn)去,...

EMI整改：1、對(duì)于差模干擾超標(biāo)可調(diào)整X電容量,添加差模電感器，調(diào)差模電感量；2、對(duì)于共模干擾超標(biāo)可添加共模電感,選用合理的電感量來(lái)壓制；3、也可改變整流二極管特性來(lái)處理一對(duì)快速二極管如FR107一對(duì)普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓...

輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)-TS18產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室，體積小，設(shè)計(jì)有腳輪，易移動(dòng)搬遷；【省成本】無(wú)復(fù)雜工程安裝，經(jīng)濟(jì)性滿足研發(fā)或生產(chǎn)批量性預(yù)測(cè)試需求；【一致性】?jī)?nèi)置3D轉(zhuǎn)臺(tái)，測(cè)試方式更接近于標(biāo)準(zhǔn)暗室測(cè)試方法，測(cè)試一致性好；【兼容性】自動(dòng)化測(cè)試系...

可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32整體介紹：帶無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品，除了要解決常規(guī)EMC干擾問(wèn)題外， 射頻電路和天線與產(chǎn)品中各電路走線、功能組件、關(guān)鍵IC和元器件等 部件之間，也會(huì)發(fā)生電磁干擾問(wèn)題。主要表現(xiàn)為射頻相關(guān)信號(hào)干擾其 他部件，導(dǎo)致性能功能的下降...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：測(cè)試環(huán)境：小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬：典型場(chǎng)景信號(hào)、標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)景信號(hào)、復(fù)雜場(chǎng)景信號(hào)覆蓋測(cè)試項(xiàng)包括：傳導(dǎo)吞吐量測(cè)試，輻射吞吐量測(cè)試，方向性吞吐量測(cè)試，同頻和鄰頻干擾測(cè)試高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制監(jiān)控方...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】系統(tǒng)相較于標(biāo)準(zhǔn)輻射雜散測(cè)試實(shí)驗(yàn)室及預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，體積更小，搬運(yùn)更方便;【測(cè)試快】?jī)?nèi)置16個(gè)接收天線，省去轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)間，600MHz-13GHz測(cè)試時(shí)間只需幾秒鐘，更適用于產(chǎn)線快速抽檢及研發(fā)階段的摸底測(cè)試；【系統(tǒng)...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■吞吐量性能測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高，還原問(wèn)題現(xiàn)象能力強(qiáng)，功能擴(kuò)展能力強(qiáng)；■基于iPerf測(cè)試工具，豐富擴(kuò)展集成相關(guān)便捷自動(dòng)測(cè)試功能項(xiàng)；■支持多類型芯片品牌命令靈活集成，讓測(cè)試更便捷；■支持天線發(fā)射功率衰減量靈活可調(diào)，...

EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問(wèn)題：一次性很難通過(guò)昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來(lái)源；截短PCB線路...

輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類問(wèn)題的途徑，但目前處于研究階段。輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究：就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電...

EMI設(shè)計(jì)要點(diǎn)很多初學(xué)者對(duì)于EMI設(shè)計(jì)都摸不著頭腦，其實(shí)我當(dāng)初也是一樣，但是在做了幾次設(shè)計(jì)以后，也逐漸有了一些體會(huì)。首先，對(duì)于大腦里面一定要清楚一個(gè)概念－－在高頻里面，自由空間的阻抗是377歐姆，對(duì)于一般的EMI中的空間輻射來(lái)說(shuō)，是由于信號(hào)的回路到了可以和空間...

EMI整改：1、對(duì)于差模干擾超標(biāo)可調(diào)整X電容量,添加差模電感器，調(diào)差模電感量；2、對(duì)于共模干擾超標(biāo)可添加共模電感,選用合理的電感量來(lái)壓制；3、也可改變整流二極管特性來(lái)處理一對(duì)快速二極管如FR107一對(duì)普通整流二極管1N4007。5M以上，以共摸干擾為主，采用壓...

近場(chǎng)掃描儀的特點(diǎn)：1.不需要消聲室：可以使用場(chǎng)分離技術(shù)將輻射聲從房間反射聲中分離出來(lái)。2.比消聲室測(cè)量精度更高100Hz以下，不需要房間校正曲線。3.快速測(cè)量：標(biāo)準(zhǔn)3D聲學(xué)測(cè)量，可在不到20分鐘內(nèi)完成典型兩分頻系統(tǒng)的聲功率測(cè)量。4.高信噪比：近場(chǎng)中聲壓級(jí)高，對(duì)...