WIFI信道仿真自動(dòng)化測(cè)試方案——無(wú)線信道的復(fù)雜性和不確定性導(dǎo)致了無(wú)線通信質(zhì)量的不確 定性，也較大增加了無(wú)線通信驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)的復(fù)雜程度。在實(shí)際應(yīng) 用環(huán)境中的測(cè)試一直是整個(gè)業(yè)界的短板，很大程度上還是依靠 費(fèi)時(shí)、費(fèi)力、沒(méi)有重復(fù)性的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，該系統(tǒng)方案 采用行業(yè)公認(rèn)設(shè)備集成，可以輕松適應(yīng)客戶要求?！鰷y(cè)試支持802.11a/b/g/n/ac/ax等；■傳導(dǎo)模式吞吐量測(cè)試；■空口模式吞吐量測(cè)試；■空口模式方向性吞吐量測(cè)試；■干擾環(huán)境下的吞吐量測(cè)試；■多場(chǎng)景模擬吞吐量測(cè)試。PCB近場(chǎng)掃描儀FLS106PCBset的目的是，方便近場(chǎng)探頭檢測(cè)電子元件組的磁場(chǎng)或電場(chǎng)。深圳SRD短距離無(wú)線性能檢測(cè)可視化EF...

近場(chǎng)掃描測(cè)試能計(jì)入環(huán)境影響嗎?近場(chǎng)測(cè)試是測(cè)的近場(chǎng)的表面電流,或者說(shuō)很近的電磁場(chǎng),然后再計(jì)算成遠(yuǎn)場(chǎng)的方向圖,這顯然是無(wú)法考慮附近金屬體的影響的,其實(shí)近場(chǎng)測(cè)試只是對(duì)方向性高的陣列天線比較適用,到了邊上的話計(jì)算出的場(chǎng)也是不準(zhǔn)的,需要校準(zhǔn).我覺(jué)得如果你把金屬考慮進(jìn)去,一起測(cè)試比如一塊大的ground,那也會(huì)是比較準(zhǔn)確的。通過(guò)上述實(shí)施方式,其具有X、Y、Z及極化軸四軸運(yùn)動(dòng)能力,可以有效捕捉水平方向傳播的波譜信息,能夠容易地調(diào)整掃描架與待測(cè)設(shè)備之間的距離,自動(dòng)化程度高,測(cè)試效率高。全部的輻射數(shù)據(jù)集從近場(chǎng)測(cè)量獲得的輻射數(shù)據(jù)集中可獲取3D空間中任何點(diǎn)的SPL。長(zhǎng)沙吞吐量無(wú)線性能儀器集成電路電磁兼容測(cè)試解決方案...

可視化ESD抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-ESD產(chǎn)品特點(diǎn)■支持標(biāo)準(zhǔn)ESD波形的抗擾度可視化分析；■支持比較低的干擾電壓，可用于芯片等敏感器件的抗擾度分析；■干擾電壓步進(jìn)任意設(shè)置，兼顧測(cè)試效率及測(cè)試精度；■精確定位PCB板上受擾位置，快速找到敏感源；■自動(dòng)化測(cè)試軟件，實(shí)時(shí)記錄干擾等級(jí)；■產(chǎn)品需重點(diǎn)關(guān)注的性能指標(biāo)可依照客戶實(shí)際需求進(jìn)行監(jiān)測(cè)；■選定測(cè)試區(qū)域后，一次性自動(dòng)化完成測(cè)量。應(yīng)用領(lǐng)域：■芯片，元器件ESD抗擾度測(cè)量與診斷；■靜電放電電磁場(chǎng)干擾故障模擬與診斷；■電磁場(chǎng)注入ESD抗擾度測(cè)量與診斷分析；■PCB板級(jí)走線的ESD抗擾度失效故障模擬，測(cè)量與診斷；■模組件、功能模塊及端口抗擾度測(cè)量與診斷；...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■吞吐量性能測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高，還原問(wèn)題現(xiàn)象能力強(qiáng)，功能擴(kuò)展能力強(qiáng)；■基于iPerf測(cè)試工具，豐富擴(kuò)展集成相關(guān)便捷自動(dòng)測(cè)試功能項(xiàng)；■支持多類型芯片品牌命令靈活集成，讓測(cè)試更便捷；■支持天線發(fā)射功率衰減量靈活可調(diào)，便于模擬不同的靈敏度環(huán)境；■支持Wi-Fi、藍(lán)牙等產(chǎn)品的吞吐量測(cè)試，丟包率、時(shí)延、速率、音頻質(zhì)量、靈敏度等；■支持小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室，可配合3D轉(zhuǎn)臺(tái)，支持EUT旋轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)多方向性能測(cè)試；■全自動(dòng)化測(cè)試軟件，界面操作簡(jiǎn)潔。全部的輻射數(shù)據(jù)集從近場(chǎng)測(cè)量獲得的輻射數(shù)據(jù)集中可獲取3D空間中任何點(diǎn)的SPL。成都靈敏度無(wú)線性能系統(tǒng)價(jià)格在EMI測(cè)試中，信...

輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究，就一般情況而言，天線都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。時(shí)域輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究，為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及其他因素對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響，時(shí)域測(cè)量是一個(gè)良好的解決此類問(wèn)題的途徑，但目前處于研究階段。前述的輻射近場(chǎng)測(cè)量方法都需要測(cè)量出近場(chǎng)的相位和幅度，才能利用近場(chǎng)理論計(jì)算出天線的遠(yuǎn)場(chǎng)電特性，為了簡(jiǎn)化計(jì)算公式和測(cè)量系統(tǒng)以及降低測(cè)量時(shí)間與測(cè)量的相位誤差（在頻率f很高的情況下，即f＞80GHz，相位的測(cè)量誤差是很大的）。（DC-9G）...

無(wú)線產(chǎn)品在復(fù)雜電磁環(huán)境下的EMC評(píng)估方案——無(wú)線穿戴產(chǎn)品可能在機(jī)場(chǎng)、地鐵、高鐵、商場(chǎng)、集市、居民區(qū)、工業(yè)區(qū)等多個(gè)場(chǎng)景下受電磁干擾會(huì)影響數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，產(chǎn)生卡頓、遲延、斷連等問(wèn)題，影響用戶的體驗(yàn)感。在電磁干擾環(huán)境現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試受多方條件制約變得非常困難，通過(guò)將現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境引入實(shí)驗(yàn)室環(huán)境進(jìn)行無(wú)線性能測(cè)試，仿真復(fù)現(xiàn)問(wèn)題，該系統(tǒng)方案可輕松適應(yīng)客戶要求?！鲱l率范圍：高達(dá)6GHz，500MHz帶寬；■支持小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室環(huán)境；■在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬信號(hào)：典型、標(biāo)準(zhǔn)、復(fù)雜場(chǎng)景；■高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制及信號(hào)還原；■監(jiān)控方式：吞吐量、丟包率、時(shí)延、速率、音頻、靈敏度等。以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長(zhǎng)度范...

從90年代末至今，近場(chǎng)微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場(chǎng)的復(fù)雜性，致使近場(chǎng)微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場(chǎng)成像。近場(chǎng)微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)方式來(lái)看，近場(chǎng)微波成像有兩種模式：即直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式，研究方法可分為電磁逆散射法和球背向投影法（SphericalBackProjection，簡(jiǎn)寫為SBP）。其中電磁逆散射法散射機(jī)理清晰，但數(shù)學(xué)公式復(fù)雜且有很大的局限性，因而，實(shí)際中使用較少；而球背向投影法在實(shí)際中使用較多。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式情況下的目標(biāo)函數(shù)...

輻射雜散預(yù)測(cè)試系統(tǒng)-TS18產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室，體積小，設(shè)計(jì)有腳輪，易移動(dòng)搬遷；【省成本】無(wú)復(fù)雜工程安裝，經(jīng)濟(jì)性滿足研發(fā)或生產(chǎn)批量性預(yù)測(cè)試需求；【一致性】?jī)?nèi)置3D轉(zhuǎn)臺(tái)，測(cè)試方式更接近于標(biāo)準(zhǔn)暗室測(cè)試方法，測(cè)試一致性好；【兼容性】自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)軟件可兼容集成各主流品牌、型號(hào)儀器儀表?！緮U(kuò)展性】除RSE外，基于屏蔽箱擴(kuò)展相應(yīng)設(shè)備和測(cè)試軟件，可支持SISOOTA、吞吐量、空口DFS性能、RFI自干擾等性能測(cè)試，更適用于研發(fā)階段的摸底及分析驗(yàn)證測(cè)試。測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)：■一致性高，方便與標(biāo)準(zhǔn)chamber環(huán)境穩(wěn)定對(duì)標(biāo)，節(jié)省研發(fā)測(cè)試費(fèi)用；■支持TRP時(shí)時(shí)偵測(cè)，方便debug前后TRP一致性快速...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6整體介紹：當(dāng)藍(lán)牙、WiFi無(wú)線產(chǎn)品存在設(shè)計(jì)缺陷時(shí)，很容易導(dǎo)致其在使用過(guò)程中受到外部環(huán)境的電磁干擾。電磁干擾會(huì)影響數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，從而影響用戶的體驗(yàn)感。在電磁干擾環(huán)境現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試受多方條件制約變得非常困難，通過(guò)將現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境引入實(shí)驗(yàn)室環(huán)境進(jìn)行吞吐量性能測(cè)試仿真復(fù)現(xiàn)問(wèn)題，對(duì)提供性能改進(jìn)對(duì)策具有重要意義。系統(tǒng)環(huán)境采用小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室，通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試軟件集成矢量源、綜測(cè)儀、頻譜采存放設(shè)備、頻譜儀、功放、天線、轉(zhuǎn)臺(tái)、場(chǎng)強(qiáng)儀等設(shè)備，實(shí)現(xiàn)對(duì)無(wú)線產(chǎn)品的電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制和吞吐量等性能指標(biāo)的監(jiān)控，支持客戶自定義監(jiān)控需求。一般來(lái)說(shuō)我們把菲涅耳衍射稱為近場(chǎng)衍射。山東日本M...

EMI分析整改方法：在晶片電源接腳、I/O接口、重要訊號(hào)介面等位置增加旁路電容，有助于濾除積體電路的開(kāi)關(guān)雜訊。晶片電源接腳增加旁路電容(0.1μF)處理，電容要靠近接腳擺放。訊號(hào)線下方的地要完整，要有完整的參考面。訊號(hào)電流經(jīng)過(guò)一個(gè)低阻抗的路徑返還其驅(qū)動(dòng)源，能夠有效減小輻射，而且由于地層的遮罩作用，使得電路對(duì)外輻射的靈敏度也會(huì)降低。如果兩個(gè)電路的參考電平不一致，就會(huì)產(chǎn)生功能問(wèn)題，如雜訊容限和邏輯開(kāi)關(guān)門限電平紊亂，這個(gè)接地雜訊電壓就會(huì)導(dǎo)致地環(huán)路干擾的產(chǎn)生。任何信號(hào)的傳輸都存在一個(gè)閉環(huán)的回路，當(dāng)電流從驅(qū)動(dòng)端流入接收端的時(shí)候，必然會(huì)有一個(gè)回流電流通過(guò)與之相鄰的導(dǎo)體從接收端回流至驅(qū)動(dòng)端，構(gòu)成一個(gè)閉合的環(huán)...

EMI設(shè)計(jì)要點(diǎn)很多初學(xué)者對(duì)于EMI設(shè)計(jì)都摸不著頭腦，其實(shí)我當(dāng)初也是一樣，但是在做了幾次設(shè)計(jì)以后，也逐漸有了一些體會(huì)。首先，對(duì)于大腦里面一定要清楚一個(gè)概念－－在高頻里面，自由空間的阻抗是377歐姆，對(duì)于一般的EMI中的空間輻射來(lái)說(shuō)，是由于信號(hào)的回路到了可以和空間阻抗相比擬的地步，因而信號(hào)通過(guò)空間“輻射”出來(lái)。瞭解了這一點(diǎn)，要做的就是把信號(hào)回路的阻抗降下來(lái)。控制信號(hào)回路的阻抗，主要的辦法是縮短信號(hào)的長(zhǎng)度，減少回路的面積，其次是採(cǎi)取合理的端接，控制回路的反射。其實(shí)控制信號(hào)回路的一個(gè)簡(jiǎn)單的辦法就是對(duì)重點(diǎn)信號(hào)進(jìn)行包地處理（在兩邊近的距離走地線，尤其是雙面板要特別注意，因?yàn)殡p面微帶模型阻抗有150歐姆，和...

可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32產(chǎn)品特點(diǎn)：【高復(fù)現(xiàn)】模擬實(shí)際失效場(chǎng)景，采用射頻干擾耦合注入方式，極大的提高實(shí)際問(wèn)題的復(fù)現(xiàn)幾率，方便問(wèn)題分析；【高精度】視覺(jué)定位和機(jī)械手臂聯(lián)動(dòng)運(yùn)行，高精度的定位敏感源位置，方便分析問(wèn)題源頭和失效機(jī)理；【可量化】準(zhǔn)確模擬干擾距離、干擾功率、干擾頻率等參數(shù)，并建立數(shù)據(jù)與實(shí)際問(wèn)題現(xiàn)象的對(duì)應(yīng)關(guān)系，將問(wèn)題量化；【可視化】敏感源的分布可視化呈現(xiàn)，測(cè)量結(jié)果與實(shí)際產(chǎn)品直接對(duì)應(yīng)；【多功能】可用于板級(jí)輻射抗擾度、射頻干擾、射頻抗擾度等多種復(fù)雜抗擾度問(wèn)題的測(cè)量與分析。應(yīng)用領(lǐng)域：■芯片、器件、模組件輻射抗擾度（RS）測(cè)量與診斷分析；■射頻抗干擾（Desense）測(cè)量與診斷分析；■板...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：測(cè)試環(huán)境：小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬：典型場(chǎng)景信號(hào)、標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)景信號(hào)、復(fù)雜場(chǎng)景信號(hào)覆蓋測(cè)試項(xiàng)包括：傳導(dǎo)吞吐量測(cè)試，輻射吞吐量測(cè)試，方向性吞吐量測(cè)試，同頻和鄰頻干擾測(cè)試高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制監(jiān)控方式：吞吐量、丟包率、時(shí)延、速率、音頻質(zhì)量、靈敏度等；應(yīng)用領(lǐng)用：■機(jī)場(chǎng)、地鐵、高鐵、商場(chǎng)、集市、居民區(qū)、停車場(chǎng)、工業(yè)區(qū)等多個(gè)復(fù)雜電磁場(chǎng)景模擬；■研發(fā)階段電磁抗干擾性能評(píng)估；■產(chǎn)品上市階段電磁抗干擾性能評(píng)估；■吞吐量、丟包率、時(shí)延、速率、音頻質(zhì)量等性能評(píng)估?？梢暬疎MC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場(chǎng)近場(chǎng)耦合探頭套裝，支持0.01m...

近場(chǎng)探頭在受測(cè)設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微鏡的協(xié)助下完成，掃描支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運(yùn)動(dòng)觸碰到受試設(shè)備時(shí)停止運(yùn)動(dòng)，在電腦上通過(guò)ChipScan-Scanner軟件可以控制FLS106PCB型掃描儀。這款軟件同時(shí)可以從頻譜分析儀中讀取測(cè)量數(shù)據(jù)（2D或3D)圖像，以及輸出測(cè)量數(shù)據(jù)（CSV文件）。在任何新PCB的開(kāi)發(fā)過(guò)程中，設(shè)計(jì)工程師都必須找出設(shè)計(jì)之外的輻射體或射頻泄漏，并對(duì)其進(jìn)行描述和處理以通過(guò)一致性測(cè)試?？赡艿妮椛潴w包括高速、大功率器件以及具有高密度或高復(fù)雜度的器件。掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性，因此測(cè)試人員可以準(zhǔn)確地找出所有輻射問(wèn)題的來(lái)源?？焖俅判詷O近場(chǎng)...

可視化近場(chǎng)輻射診斷分析系統(tǒng)—ES67——整體介紹：電子產(chǎn)品在電磁兼容設(shè)計(jì)時(shí)，比較大的難點(diǎn)在于不能提前識(shí)別各芯片、組件、器件、走線等的電磁輻射特性。在整機(jī)的架構(gòu)堆疊和布局 布線設(shè)計(jì)中，輻射干擾較強(qiáng)的器件與輻射抗擾度較差的器件之前沒(méi)有 充足的隔離度，是導(dǎo)致產(chǎn)品內(nèi)部互干擾問(wèn)題產(chǎn)生的根本原因。并且， 要解決產(chǎn)品電磁兼容問(wèn)題，必須清楚的識(shí)別和分析其三要素：干擾 源、傳播路徑、敏感源?？梢暬鼒?chǎng)輻射診斷分析系統(tǒng)可用于芯片、 元器件、模組件、FPC、PCBA等部件和整機(jī)進(jìn)行近場(chǎng)EMI輻射發(fā)射噪 聲的自動(dòng)化測(cè)量、可視化呈現(xiàn)、多維度分析，是解決各種復(fù)雜電磁輻 射*擾問(wèn)題的有效工具。近場(chǎng)存在于距電磁輻射源（例如發(fā)...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：■自帶無(wú)線多制式測(cè)量濾波器開(kāi)關(guān)陣列單元，自動(dòng)控制，頻率覆蓋600MHz-13GHz;■覆蓋無(wú)線產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)階段RSE快速預(yù)驗(yàn)證測(cè)試需求；■多測(cè)量天線布局設(shè)計(jì)，一次性高效方方面面的比較大RSE干擾掃描，3分鐘即可完成一次全頻段測(cè)量；■內(nèi)置20cm高度高性能吸波材料，有效減少空間駐波反射，保障測(cè)量結(jié)果重復(fù)性；■帶波導(dǎo)孔設(shè)計(jì)，便于產(chǎn)品測(cè)試時(shí)內(nèi)外連通實(shí)現(xiàn)典型通訊組網(wǎng)。了解更多，歡迎來(lái)電咨詢，我們真誠(chéng)期待與您溝通。電磁干擾也是變頻器驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的一個(gè)主要問(wèn)題。鄭州自動(dòng)化無(wú)線性能哪里有可視化輻射抗擾度診斷分析系統(tǒng)—IS32產(chǎn)品特點(diǎn)：【高復(fù)現(xiàn)】模擬實(shí)際失效場(chǎng)景，采用射...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：■自帶無(wú)線多制式測(cè)量濾波器開(kāi)關(guān)陣列單元，自動(dòng)控制，頻率覆蓋600MHz-13GHz;■覆蓋無(wú)線產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)階段RSE快速預(yù)驗(yàn)證測(cè)試需求；■多測(cè)量天線布局設(shè)計(jì)，一次性高效方方面面的比較大RSE干擾掃描，3分鐘即可完成一次全頻段測(cè)量；■內(nèi)置20cm高度高性能吸波材料，有效減少空間駐波反射，保障測(cè)量結(jié)果重復(fù)性；■帶波導(dǎo)孔設(shè)計(jì)，便于產(chǎn)品測(cè)試時(shí)內(nèi)外連通實(shí)現(xiàn)典型通訊組網(wǎng)。了解更多，歡迎來(lái)電咨詢，我們真誠(chéng)期待與您溝通。保持訊號(hào)路徑和它的地返回線緊靠在一起將有助于小化地線環(huán)路，避免出現(xiàn)潛在的天線環(huán)。深圳電磁波無(wú)線性能測(cè)試儀價(jià)格EMC包括兩個(gè)方面的要求：一方面是指設(shè)備...

EMC、RF診斷分析系統(tǒng)：用較少的資金達(dá)到我們想要的目標(biāo)，研發(fā)實(shí)驗(yàn)室能力整體規(guī)劃步驟如下：1.確定研發(fā)產(chǎn)品類型，了解產(chǎn)品電氣參數(shù)及所需的測(cè)試項(xiàng)目；2.選擇合適的診斷分析方法；3.選擇診斷分析工具的類型、儀器設(shè)備、測(cè)試環(huán)境以及對(duì)策器件4.實(shí)驗(yàn)室日常運(yùn)營(yíng)及資料庫(kù)建立；診斷分析系統(tǒng)具有如下優(yōu)勢(shì)：1.適用于EMC、RF問(wèn)題診斷分析、更換物料、風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估、降成本方案驗(yàn)證；2.投入產(chǎn)出比高；3.數(shù)據(jù)可視化、定位精細(xì)、分析診斷問(wèn)題效率高；4.診斷分析系統(tǒng)與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試系統(tǒng)互補(bǔ)，更適合產(chǎn)品研發(fā)；5.操作簡(jiǎn)單，降低人員技術(shù)門檻。車載導(dǎo)航產(chǎn)品的輻射干擾包含寬帶干擾和窄帶干擾。廣州快速輻射雜散儀器OTA快速測(cè)量系統(tǒng)——測(cè)...

空口性能（OTA）自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■OTA測(cè)試軟件參考CITA及ETSITS137544等相關(guān)測(cè)量要求；■測(cè)試軟件同樣適用于基于傳統(tǒng)全電波暗室的OTA測(cè)量需求；■自定義功能定制擴(kuò)展靈活；■自動(dòng)化測(cè)試，自動(dòng)生成數(shù)據(jù)報(bào)表和方向圖曲線及3D圖。關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：■覆蓋輻射總功率TRP和靈敏度TIS等OTA測(cè)試功能項(xiàng)；■與標(biāo)準(zhǔn)OTA測(cè)量環(huán)境可穩(wěn)定修正對(duì)標(biāo)；■支持GSM、WCDMA、LTE、5GNR、WIFI、藍(lán)牙等多制式產(chǎn)品測(cè)量；■測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)告一鍵自動(dòng)生成；■可擴(kuò)展其它性能測(cè)試及仿真功能。應(yīng)用領(lǐng)域：■2/3/4/5G、窄帶物聯(lián)網(wǎng)、WIFI/藍(lán)牙等多制式產(chǎn)品輻射性能和接收靈敏度測(cè)量；■汽車...

輻射抗擾度（RS）近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電磁場(chǎng)近場(chǎng)耦合探頭套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，采用近場(chǎng)電磁耦合的方式，將10kHz-6GHz的輻射抗擾度(RS)電壓耦合到電路中，從而找到敏感源頭位置，解決輻射抗擾度問(wèn)題，提高產(chǎn)品的輻射抗擾度能力。普遍用于醫(yī)療、感應(yīng)器、無(wú)線終端模塊、儀器儀表、汽車電子部件等行業(yè)的輻射抗擾度問(wèn)題解決，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、輻射抗擾度敏感源頭定位、器件選型輻射抗擾度性能評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的輻射抗擾度性能評(píng)估、電磁仿真驗(yàn)證等方面。電磁波不需要依靠介質(zhì)傳播，各種電磁波在真空中速率固定，速度為光速。西安SRD短距離...

可視化EFT抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-EFT整體介紹：電子產(chǎn)品在做脈沖群抗擾度測(cè)試時(shí)，通過(guò)電源端口、I/O端口直接注入或者耦合注入的EMS干擾，會(huì)引起產(chǎn)品的死機(jī)、重啟、性能功能 下降等異常，甚至?xí)?dǎo)致直接硬件損壞。在解決此類問(wèn)題時(shí)，比較大的困難在于注入到產(chǎn)品內(nèi)部的干擾不僅會(huì)通過(guò)走線串?dāng)_到PCB板內(nèi)部各 敏感電路導(dǎo)致故障，而且會(huì)通過(guò)電源平面、地平面等傳導(dǎo)到電路的各部分，所以很難定位到真實(shí)受擾的電路或者器件?？梢暬疎FT診斷分析系統(tǒng)，通過(guò)小范圍磁場(chǎng)耦合的方式，精確分析敏感電路，量化敏感等級(jí)，可視化的呈現(xiàn)敏感區(qū)域，可用于產(chǎn)品研發(fā)中的EFT問(wèn)題診斷分析， 快速解決產(chǎn)品問(wèn)題，提高研發(fā)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)：測(cè)試環(huán)境：小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬：典型場(chǎng)景信號(hào)、標(biāo)準(zhǔn)場(chǎng)景信號(hào)、復(fù)雜場(chǎng)景信號(hào)覆蓋測(cè)試項(xiàng)包括：傳導(dǎo)吞吐量測(cè)試，輻射吞吐量測(cè)試，方向性吞吐量測(cè)試，同頻和鄰頻干擾測(cè)試高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制監(jiān)控方式：吞吐量、丟包率、時(shí)延、速率、音頻質(zhì)量、靈敏度等；應(yīng)用領(lǐng)用：■機(jī)場(chǎng)、地鐵、高鐵、商場(chǎng)、集市、居民區(qū)、停車場(chǎng)、工業(yè)區(qū)等多個(gè)復(fù)雜電磁場(chǎng)景模擬；■研發(fā)階段電磁抗干擾性能評(píng)估；■產(chǎn)品上市階段電磁抗干擾性能評(píng)估；■吞吐量、丟包率、時(shí)延、速率、音頻質(zhì)量等性能評(píng)估。保持訊號(hào)路徑和它的地返回線緊靠在一起將有助于小化地線環(huán)路，避免出現(xiàn)潛在的天線環(huán)。西安標(biāo)...

多功能吞吐量性能自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)— TS6產(chǎn)品特點(diǎn)：■吞吐量性能測(cè)試系統(tǒng)性價(jià)比高，還原問(wèn)題現(xiàn)象能力強(qiáng)，功能擴(kuò)展能力強(qiáng)；■基于iPerf測(cè)試工具，豐富擴(kuò)展集成相關(guān)便捷自動(dòng)測(cè)試功能項(xiàng)；■支持多類型芯片品牌命令靈活集成，讓測(cè)試更便捷；■支持天線發(fā)射功率衰減量靈活可調(diào)，便于模擬不同的靈敏度環(huán)境；■支持Wi-Fi、藍(lán)牙等產(chǎn)品的吞吐量測(cè)試，丟包率、時(shí)延、速率、音頻質(zhì)量、靈敏度等；■支持小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室，可配合3D轉(zhuǎn)臺(tái)，支持EUT旋轉(zhuǎn)實(shí)現(xiàn)多方向性能測(cè)試；■全自動(dòng)化測(cè)試軟件，界面操作簡(jiǎn)潔。EMI分析整改時(shí)不同的電源有不同的要求。長(zhǎng)沙電氣電力無(wú)線性能測(cè)試方法輻射近場(chǎng)測(cè)量的研究：為了反映脈沖工作狀態(tài)和消除環(huán)境及...

從90年代末至今，近場(chǎng)微波成像已經(jīng)引起了學(xué)者們的濃厚興趣，但由于常規(guī)目標(biāo)散射近場(chǎng)的復(fù)雜性，致使近場(chǎng)微波成像遠(yuǎn)遠(yuǎn)滯后于遠(yuǎn)場(chǎng)成像。近場(chǎng)微波成像中，著眼于潛在的應(yīng)用，目標(biāo)函數(shù)既可以是理想導(dǎo)體目標(biāo)的輪廓函數(shù)，也可以是目標(biāo)介電常數(shù)的分布函數(shù)。從照射天線與成像目標(biāo)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)方式來(lái)看，近場(chǎng)微波成像有兩種模式：即直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式，研究方法可分為電磁逆散射法和球背向投影法（SphericalBackProjection，簡(jiǎn)寫為SBP）。其中電磁逆散射法散射機(jī)理清晰，但數(shù)學(xué)公式復(fù)雜且有很大的局限性，因而，實(shí)際中使用較少；而球背向投影法在實(shí)際中使用較多。利用球背向投影法在直線掃描模式和轉(zhuǎn)臺(tái)模式情況下的目標(biāo)函數(shù)...

無(wú)線產(chǎn)品在復(fù)雜電磁環(huán)境下的EMC評(píng)估方案——無(wú)線穿戴產(chǎn)品可能在機(jī)場(chǎng)、地鐵、高鐵、商場(chǎng)、集市、居民區(qū)、工業(yè)區(qū)等多個(gè)場(chǎng)景下受電磁干擾會(huì)影響數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，產(chǎn)生卡頓、遲延、斷連等問(wèn)題，影響用戶的體驗(yàn)感。在電磁干擾環(huán)境現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試受多方條件制約變得非常困難，通過(guò)將現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境引入實(shí)驗(yàn)室環(huán)境進(jìn)行無(wú)線性能測(cè)試，仿真復(fù)現(xiàn)問(wèn)題，該系統(tǒng)方案可輕松適應(yīng)客戶要求?！鲱l率范圍：高達(dá)6GHz，500MHz帶寬；■支持小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室環(huán)境；■在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬信號(hào)：典型、標(biāo)準(zhǔn)、復(fù)雜場(chǎng)景；■高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制及信號(hào)還原；■監(jiān)控方式：吞吐量、丟包率、時(shí)延、速率、音頻、靈敏度等。瞭解了這一點(diǎn)，要做的就是把信號(hào)回路的阻...

近場(chǎng)探頭在受測(cè)設(shè)備上方的光學(xué)定位可以在數(shù)字顯微鏡的協(xié)助下完成，掃描支持防撞功能，在探頭沿垂直方向運(yùn)動(dòng)觸碰到受試設(shè)備時(shí)停止運(yùn)動(dòng)，在電腦上通過(guò)ChipScan-Scanner軟件可以控制FLS106PCB型掃描儀。這款軟件同時(shí)可以從頻譜分析儀中讀取測(cè)量數(shù)據(jù)（2D或3D)圖像，以及輸出測(cè)量數(shù)據(jù)（CSV文件）。在任何新PCB的開(kāi)發(fā)過(guò)程中，設(shè)計(jì)工程師都必須找出設(shè)計(jì)之外的輻射體或射頻泄漏，并對(duì)其進(jìn)行描述和處理以通過(guò)一致性測(cè)試?？赡艿妮椛潴w包括高速、大功率器件以及具有高密度或高復(fù)雜度的器件。掃描系統(tǒng)以疊加在Gerber文件上的形式顯示空間輻射特性，因此測(cè)試人員可以準(zhǔn)確地找出所有輻射問(wèn)題的來(lái)源。快速磁性極近場(chǎng)...

EMI認(rèn)證機(jī)構(gòu)通常按照EMI標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)峰值檢波進(jìn)行測(cè)試，而EMI診斷中往往用峰值檢波，兩者不匹配，EMI診斷是否還有意義？由于EMI診斷的目的是為了找出EMI的根源，并不需要一定精確的測(cè)試，而是需要相對(duì)的重復(fù)性好的測(cè)試。準(zhǔn)峰值檢波用來(lái)檢測(cè)信號(hào)包絡(luò)加權(quán)后的峰值(準(zhǔn)峰值)，它根據(jù)時(shí)長(zhǎng)和重復(fù)率對(duì)信號(hào)加權(quán)。準(zhǔn)峰值檢波的平均過(guò)程需耗費(fèi)時(shí)間，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不利于日常診斷。由于準(zhǔn)峰值檢波測(cè)試幅度結(jié)果永遠(yuǎn)小于或等于峰值檢波的測(cè)試結(jié)果，因此在進(jìn)行EMI診斷時(shí)，用峰值檢波可以快速發(fā)現(xiàn)EMI問(wèn)題。電源是EMI干擾噪聲的主要來(lái)源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長(zhǎng)度范圍外的光...

EMI分析整改方法：在晶片電源接腳、I/O接口、重要訊號(hào)介面等位置增加旁路電容，有助于濾除積體電路的開(kāi)關(guān)雜訊。晶片電源接腳增加旁路電容(0.1μF)處理，電容要靠近接腳擺放。訊號(hào)線下方的地要完整，要有完整的參考面。訊號(hào)電流經(jīng)過(guò)一個(gè)低阻抗的路徑返還其驅(qū)動(dòng)源，能夠有效減小輻射，而且由于地層的遮罩作用，使得電路對(duì)外輻射的靈敏度也會(huì)降低。如果兩個(gè)電路的參考電平不一致，就會(huì)產(chǎn)生功能問(wèn)題，如雜訊容限和邏輯開(kāi)關(guān)門限電平紊亂，這個(gè)接地雜訊電壓就會(huì)導(dǎo)致地環(huán)路干擾的產(chǎn)生。任何信號(hào)的傳輸都存在一個(gè)閉環(huán)的回路，當(dāng)電流從驅(qū)動(dòng)端流入接收端的時(shí)候，必然會(huì)有一個(gè)回流電流通過(guò)與之相鄰的導(dǎo)體從接收端回流至驅(qū)動(dòng)端，構(gòu)成一個(gè)閉合的環(huán)...

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13整體介紹：輻射雜散性能是帶有無(wú)線射頻功能的電子產(chǎn)品的關(guān)鍵性能指標(biāo)，并且，影響輻射雜散性能的因素特別復(fù)雜，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)階段都需要保證輻射雜散方案性能的可靠性和一致性。標(biāo)準(zhǔn)全電波暗室測(cè)試方案成本高，測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，不能滿足研發(fā)階段的快速分析測(cè)試及生產(chǎn)階段的批量一致性抽檢。輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)，采用多天線、多角度快速切換測(cè)試，既保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，又縮短了測(cè)試時(shí)間，提升了測(cè)試效率，并且在性能分析時(shí)可以快速定位雜散信號(hào)的方向。系統(tǒng)占用空間小，可便捷移動(dòng)，可用于產(chǎn)品研發(fā)階段輻射雜散問(wèn)題分析及生產(chǎn)階段的批量抽檢。以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長(zhǎng)度范圍外的光場(chǎng)為近場(chǎng)，否...

無(wú)線產(chǎn)品在復(fù)雜電磁環(huán)境下的EMC評(píng)估方案——無(wú)線穿戴產(chǎn)品可能在機(jī)場(chǎng)、地鐵、高鐵、商場(chǎng)、集市、居民區(qū)、工業(yè)區(qū)等多個(gè)場(chǎng)景下受電磁干擾會(huì)影響數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，產(chǎn)生卡頓、遲延、斷連等問(wèn)題，影響用戶的體驗(yàn)感。在電磁干擾環(huán)境現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試受多方條件制約變得非常困難，通過(guò)將現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境引入實(shí)驗(yàn)室環(huán)境進(jìn)行無(wú)線性能測(cè)試，仿真復(fù)現(xiàn)問(wèn)題，該系統(tǒng)方案可輕松適應(yīng)客戶要求。■頻率范圍：高達(dá)6GHz，500MHz帶寬；■支持小型化或標(biāo)準(zhǔn)電波暗室環(huán)境；■在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下模擬信號(hào)：典型、標(biāo)準(zhǔn)、復(fù)雜場(chǎng)景；■高精細(xì)電磁干擾發(fā)射強(qiáng)度控制及信號(hào)還原；■監(jiān)控方式：吞吐量、丟包率、時(shí)延、速率、音頻、靈敏度等。掃描儀和近場(chǎng)探頭系列（從SX到LF）的...