雙支包裝注射針，包括兩支注射針，每支注射針包括針座，固定設(shè)置在針座上的針管及槽狀護(hù)帽，針座與護(hù)帽可拆卸式連接;還包括用于插入針管內(nèi)壁的防刺件，防刺件一端為表面設(shè)置凹槽的柔性柱，另一端為與針管刃口相適配的被磁化的鐵磁性材質(zhì)端頭，端頭與針管接觸的一面設(shè)置防磨層;護(hù)...

針座內(nèi)工作質(zhì)液囊自封式靜脈留置針。針座內(nèi)液囊自封式靜脈留置針由針座，留置導(dǎo)管，輸液通道，工作質(zhì)液囊，鋼針隔離塞，加壓塊，耐壓液囊，鎖扣，柔性連接管等組成。針座內(nèi)液囊自封式靜脈留置針的工作質(zhì)液囊位于針座內(nèi)，輸液通道較大，可滿足大流速輸液的要求，無(wú)橡膠雜質(zhì)和污染物...

針座是檢測(cè)芯片的重要設(shè)備，在芯片的設(shè)計(jì)驗(yàn)證階段，主要工作是檢測(cè)芯片設(shè)計(jì)的功能是否能夠達(dá)到芯片的技術(shù)指標(biāo)，在檢測(cè)過(guò)程中會(huì)對(duì)芯片樣品逐一檢查，只有通過(guò)設(shè)計(jì)驗(yàn)證的產(chǎn)品型號(hào)才會(huì)量產(chǎn)。晶圓測(cè)試一般在晶圓廠、封測(cè)廠或?qū)ｉT的測(cè)試代工廠進(jìn)行，主要用到的設(shè)備為測(cè)試機(jī)和針座。半導(dǎo)...

用于縫被機(jī)能防斷針的針座裝置，包括針桿座和針筒，針筒固定在針桿座的下表面，針筒內(nèi)壁固定有限位環(huán)，限位環(huán)上方設(shè)有上腔室，限位環(huán)下方設(shè)有下腔室，針筒內(nèi)部套接有連接桿，連接桿的中部側(cè)壁纏繞有減震彈簧，連接桿的下端設(shè)有針頭座，針頭座的外壁套接有防護(hù)罩，針頭座的底部固定...

針座測(cè)試原理：參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件，然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的反應(yīng).從量測(cè)儀器通過(guò)電纜線至針座桿，然后通過(guò)針座點(diǎn)針測(cè)試點(diǎn)到被測(cè)器件，并后沿原路返回量測(cè)器儀。計(jì)算機(jī)在我們生活中越來(lái)越重要。計(jì)算機(jī)的主要部件是處理器（CPU）和存儲(chǔ)器（RAM），...

一種針筒式真空采集器的針座組件，包括血管穿刺針管，穿刺針座，采集針管，采集針座和軟連接管，穿刺針座位于真空采集器的針筒內(nèi)腔的前端，采集針座與該針筒固接，采集針管的后端及針管大部分向后延伸并能插置在套置在針筒中的血液樣本收集管的管塞中;軟連接管—端與穿刺針座固接...

便攜式眼球穿刺引流針，針座，三通結(jié)構(gòu)導(dǎo)管組件，導(dǎo)管組件輸入端和第1輸出端形成線性延伸的第1通路，第二輸出端自第1通路側(cè)向通向柔性囊體形成第二通路，第二通路具有防逆流結(jié)構(gòu)，第1通路內(nèi)設(shè)置有過(guò)盈套合針體，并封閉第1輸出端的緊固件，且緊固件設(shè)置于第二輸出端的上方，輸...

一種一體式連接器針座，與連接器母端連接的插針及固定插針的插針座，的插針座與產(chǎn)品外殼為一體結(jié)構(gòu)，且中間設(shè)置有防水機(jī)構(gòu)；的插針下端焊接在PCBA板材上，插針的上端穿過(guò)插針座上的注塑件與連接器母端連接?？蓪?shí)現(xiàn)IP66功能，超過(guò)市場(chǎng)上同級(jí)別產(chǎn)品的IP55等級(jí)；連接器插...

一種針筒式真空采集器的針座組件，包括血管穿刺針管，穿刺針座，采集針管，采集針座和軟連接管，穿刺針座位于真空采集器的針筒內(nèi)腔的前端，采集針座與該針筒固接，采集針管的后端及針管大部分向后延伸并能插置在套置在針筒中的血液樣本收集管的管塞中;軟連接管—端與穿刺針座固接...

錸鎢針座的針尖尖部經(jīng)過(guò)特殊工藝加工而成，針錐精度高，具有厲害度和彈性模量，產(chǎn)品更耐磨、更耐腐蝕，表面光滑無(wú)傷，光潔度可達(dá)到Ra0.25以下，幾乎為鏡面。錸鎢針座有不同的針尖類型，即不同的尖部形狀，例如，針尖帶平臺(tái)，針尖完全尖以及針尖為圓?。会樧睆綖?.05-...

針座治具的校準(zhǔn)：我們希望校準(zhǔn)過(guò)程盡可能的把測(cè)試網(wǎng)絡(luò)中除DUT外所有的誤差項(xiàng)全部校準(zhǔn)掉，當(dāng)使用針座夾具的方式進(jìn)行操作有兩種校準(zhǔn)方法：1一種方式是直接對(duì)著電纜的SMA端面進(jìn)行校準(zhǔn)，然后通過(guò)加載針座S2P文檔的方式進(jìn)行補(bǔ)償;2第二種方法是直接通過(guò)針座搭配的校準(zhǔn)板在針...

晶圓測(cè)試有一點(diǎn)基本就是：晶圓測(cè)試必須能夠辨別芯片的好與壞，并使合格芯片繼續(xù)進(jìn)入下面的封裝工藝。為了確保芯片功能和成品率的有效測(cè)試，封裝廠商和設(shè)備制造者需要不斷探索，進(jìn)而找到高精度、高效率和低成本的測(cè)試方法，并運(yùn)用新的組裝工藝要求對(duì)晶圓片進(jìn)行探測(cè)，這些要求將引起...

電子連接器裝配的吸盤(pán)，包括電子連接器裝配的吸盤(pán)本體;電子連接器裝配的吸盤(pán)本體是由吸盤(pán)，可變配合插口，連接器針座組成;其中吸盤(pán)設(shè)置在可變配合插口的頂部，吸盤(pán)的上表面為光滑的平面，吸拾時(shí)，吸盤(pán)的上表面與真空吸嘴相接處，以供真空吸嘴吸拾;連接器針座上設(shè)有通孔，通孔內(nèi)...

便于密封的連接器針座，與針座連接的膠殼，針座包括針座柱以及膠殼槽，針座柱與膠殼槽為一體設(shè)置分布，針座柱上端設(shè)置有膠殼槽，針座柱四周設(shè)置有密封膠，膠殼槽上設(shè)置有限位塊，限位塊與膠殼卡扣連接。針座上設(shè)置膠殼槽，膠殼槽內(nèi)設(shè)置肋槽與肋柱匹配設(shè)置，方便插拔，通過(guò)限位塊與...

在工藝方面，常用的測(cè)試針座是由針頭、針管、彈簧這三個(gè)組件構(gòu)成的，測(cè)試針座中的彈簧是測(cè)試針座使用壽命的關(guān)鍵因素，電鍍處理過(guò)的彈簧使用壽命高，不會(huì)生銹，也能提高測(cè)試針座是持久性和導(dǎo)電性。因此，電鍍工藝是生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試針座的主要技術(shù)，而國(guó)內(nèi)的電鍍工藝尚且有待突破。長(zhǎng)...

精細(xì)探測(cè)技術(shù)帶來(lái)新優(yōu)勢(shì)：先進(jìn)應(yīng)力控制技術(shù)亦是必須的。為減少或消除造成良率下降之墊片損傷，在銅質(zhì)墊片加上鋁帽將能減少對(duì)易碎低K/高K介電的負(fù)面效應(yīng)。以先進(jìn)工藝驅(qū)動(dòng)在有效區(qū)域上墊片的測(cè)試，以低沖擊的針座，避免接觸所產(chǎn)生阻抗問(wèn)題。另一個(gè)可能損害到晶圓的來(lái)源是針座力道...

針座常見(jiàn)故障分析及維護(hù)方法：芯片測(cè)試是IC制造業(yè)里不可缺少的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。芯片測(cè)試是為了檢驗(yàn)規(guī)格的一致性而在硅片集成電路上進(jìn)行的電學(xué)參數(shù)測(cè)量。硅片測(cè)試的目的是檢驗(yàn)可接受的電學(xué)性能。測(cè)試過(guò)程中使用的電學(xué)規(guī)格隨測(cè)試的目的而有所不同。如果發(fā)現(xiàn)缺陷，產(chǎn)品小組將用測(cè)試數(shù)...

在工藝方面，常用的測(cè)試針座是由針頭、針管、彈簧這三個(gè)組件構(gòu)成的，測(cè)試針座中的彈簧是測(cè)試針座使用壽命的關(guān)鍵因素，電鍍處理過(guò)的彈簧使用壽命高，不會(huì)生銹，也能提高測(cè)試針座是持久性和導(dǎo)電性。因此，電鍍工藝是生產(chǎn)半導(dǎo)體測(cè)試針座的主要技術(shù)，而國(guó)內(nèi)的電鍍工藝尚且有待突破。長(zhǎng)...

單排臥式帶鎖扣針座，其包括底座，底座內(nèi)設(shè)有若干等距分布的插針，插針折彎形成插腳，底座上表面前側(cè)設(shè)置鎖扣，鎖扣后方設(shè)置為吸附面，在底座的上表面設(shè)置吸附面，利用機(jī)械手吸附在吸附面上，實(shí)現(xiàn)機(jī)械自動(dòng)加工，能夠?qū)崿F(xiàn)單排臥式帶鎖扣針座的流水線加工，避免了手動(dòng)安裝的繁瑣性，...

下面我們來(lái)簡(jiǎn)單講講選擇針座設(shè)備時(shí)需要注意事項(xiàng)：一、機(jī)械加工精度；二、電學(xué)量測(cè)精度三、環(huán)境要求，如：真空環(huán)境、高溫、低溫環(huán)境、磁場(chǎng)環(huán)境及其它。四、光學(xué)成像；五、自動(dòng)化控制精度?？傮w而言，具有清晰并高景深的微觀成像，再通過(guò)準(zhǔn)確的針座裝置對(duì)針座進(jìn)行多方向移動(dòng)，對(duì)準(zhǔn)量...

一種一體式連接器針座，與連接器母端連接的插針及固定插針的插針座，的插針座與產(chǎn)品外殼為一體結(jié)構(gòu)，且中間設(shè)置有防水機(jī)構(gòu)；的插針下端焊接在PCBA板材上，插針的上端穿過(guò)插針座上的注塑件與連接器母端連接。可實(shí)現(xiàn)IP66功能，超過(guò)市場(chǎng)上同級(jí)別產(chǎn)品的IP55等級(jí)；連接器插...

針座內(nèi)工作質(zhì)液囊自封式靜脈留置針。針座內(nèi)液囊自封式靜脈留置針由針座，留置導(dǎo)管，輸液通道，工作質(zhì)液囊，鋼針隔離塞，加壓塊，耐壓液囊，鎖扣，柔性連接管等組成。針座內(nèi)液囊自封式靜脈留置針的工作質(zhì)液囊位于針座內(nèi)，輸液通道較大，可滿足大流速輸液的要求，無(wú)橡膠雜質(zhì)和污染物...

柔性電路板性能測(cè)試用針座，包括模體以及彈性壓頭，模體的表面開(kāi)設(shè)有容置槽，容置槽內(nèi)固定有導(dǎo)針組件，導(dǎo)針組件包括由絕緣材料制成的針座以及由金屬材料制成的多個(gè)針片，針座大小與容置槽大小相適配，針座內(nèi)部設(shè)置有多個(gè)間隔設(shè)置的卡槽，針片固定設(shè)置在各卡槽內(nèi)，且針片的兩端部分...

可調(diào)整針座，包括梳針和呈長(zhǎng)方體的底座，每?jī)筛後槾怪痹O(shè)置在一圓盤(pán)的兩端，底座上開(kāi)有一排呈"一"字型的圓孔，圓盤(pán)底部設(shè)置有轉(zhuǎn)軸，轉(zhuǎn)軸的根部設(shè)置在圓孔內(nèi)，并與圓孔形成滑動(dòng)連接，底座上設(shè)置有鎖定轉(zhuǎn)軸的鎖定裝置，底座的兩端窄縮形成樞耳，底座通過(guò)樞耳設(shè)置在一支座上，支座...

針座市場(chǎng)逐年增長(zhǎng)：半導(dǎo)體測(cè)試對(duì)于良率和品質(zhì)控制至關(guān)重要，是必不可少的環(huán)節(jié)，主要涉及兩種測(cè)試（CP測(cè)試、FT測(cè)試等）、三種設(shè)備（針座、測(cè)試機(jī)、分選機(jī)等）。根據(jù)半導(dǎo)體產(chǎn)線投資配置規(guī)律，測(cè)試設(shè)備在半導(dǎo)體設(shè)備投資的占比約為8%，次于晶圓制造裝備，其中測(cè)試機(jī)、分選機(jī)、針...

晶圓針座是半導(dǎo)體工藝線上的中間測(cè)試設(shè)備，與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)集成電路及各種晶體管芯電參數(shù)和功能的測(cè)試。隨著對(duì)高性能、多功能、高速度、低功耗、小型化、低價(jià)格的電子產(chǎn)品的需求日益增長(zhǎng)，這就要求在一個(gè)芯片中集成更多的功能并進(jìn)一步縮小尺寸，從而大片徑和高效率測(cè)...

其實(shí)，在我們的身邊隨處都可以看到半導(dǎo)體的身影。例如你的電腦、電視，智能手機(jī)，亦或是汽車等。半導(dǎo)體像人類大腦一樣，擔(dān)當(dāng)著記憶數(shù)據(jù)，計(jì)算數(shù)值的功能。針座從操作上來(lái)區(qū)分有手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)從功能上來(lái)區(qū)分有高溫針座，低溫針座，RF針座，LCD平板針座，霍爾效應(yīng)針座，...

快接式空接連接器，包括有針座主體和導(dǎo)電端子，在針座主體的上部設(shè)置有針座上板和針座下板，兩者在針座主體的上部?jī)蓚?cè)各形成有一固定槽，該連接器通過(guò)兩側(cè)的固定槽嵌固于外殼卡板上形成該連接器的安裝結(jié)構(gòu);在針座上板中開(kāi)設(shè)有公端防脫孔，在公端防脫孔下方的針座主體側(cè)壁開(kāi)設(shè)有卡...

針座的上端是在平面上成十字形的連接筋。針座的下端套于留置針的尾端上并與留置針粘接。橡皮塞的下端與連接筋為一個(gè)整體。套筒的下端套于針座的上端上，圓筒形的乳膠套的上端與套筒的外側(cè)粘接，乳膠套的下端與針座的外側(cè)粘接。通過(guò)圓臺(tái)形的橡皮塞與圓臺(tái)形的注射通道相互配合來(lái)對(duì)液...

通常，參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件（DUT），然后測(cè)量該器件對(duì)于此輸入信號(hào)的響應(yīng)。這些信號(hào)的路徑為：從測(cè)試儀通過(guò)電纜束至測(cè)試頭，再通過(guò)測(cè)試頭至針座，然后通過(guò)針座至芯片上的焊點(diǎn)，到達(dá)被測(cè)器件，并后沿原路徑返回測(cè)試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意，問(wèn)題可能是...