針對靶丸自身獨特的特點及極端實驗條件需求，使得靶丸參數(shù)的測試工作變得異常復雜。如何精確地測定靶丸的光學參數(shù)，一直是激光聚變研究者非常關注的課題。由于光學測量方法具有無損、非接觸、測量效率高、操作簡便等優(yōu)越性，靶丸參數(shù)測量通常采用光學測量方式。常用的光學參數(shù)測量...

利用包絡線法計算薄膜的光學常數(shù)和厚度，但還存在很多不足，包絡線法需要產(chǎn)生干涉波動，要求在測量波段內存在多個干涉極值點，且干涉極值點足夠多，精度才高。理想的包絡線是根據(jù)聯(lián)合透射曲線的切點建立的，在沒有正確方法建立包絡線時，通常使用拋物線插值法建立，這樣造成的誤差...

在塑料薄膜和透明材料薄厚測量方面，研究人員探討了光譜共焦傳感器在全透明平板電腦平整度測量中由于不同折射率引入的測量誤差并進行了補償，在機器視覺技術方面利用光譜共焦傳感器檢測透明材料的薄厚及弧形玻璃曲面的薄厚。在外表粗糙度測量方面，研究人員闡述了不同方式測量外表...

在工業(yè)領域，光譜共焦傳感器的應用可以幫助企業(yè)實現(xiàn)更高精度的加工，提高產(chǎn)品的質量和生產(chǎn)效率。首先，高精度光譜共焦傳感器可以實現(xiàn)對加工表面形貌的j精確測量。在精加工過程中，產(chǎn)品的表面形貌對產(chǎn)品的質量有著至關重要的影響。傳統(tǒng)的測量方法往往需要接觸式測量，不僅測量精度...

光譜共焦測量原理是使用多透鏡光學系統(tǒng)將多色白光聚焦到目標表面上。透鏡的排列方式是通過控制色差（像差）將白光分散成單色光。每個波長都有一定的偏差（特定距離）進行工廠校準。只有精確聚焦在目標表面或材料上的波長才能用于測量。通過共焦孔徑反射到目標表面的光會被光譜儀檢...

該文主要研究了以半導體鍺和貴金屬金兩種材料為對象，實現(xiàn)納米級薄膜厚度準確測量的可行性，主要涉及三種方法，分別是白光干涉法、表面等離子體共振法和外差干涉法。由于不同材料薄膜的特性不同，所適用的測量方法也不同。對于折射率高，在通信波段（1550nm附近）不透明的半...

玻璃基板是液晶顯示屏必不可少的零部件之一，一張液晶顯示屏要用二張玻璃基板，各自做為底層玻璃基板和彩色濾底版應用。玻璃基板的品質對控制面板成品屏幕分辨率、透光性、厚度、凈重、可視角度等數(shù)據(jù)都是有關鍵危害。玻璃基板是組成液晶顯示屏元器件一個基本上構件。這是一種表層...

共焦位移傳感器是一種共焦位移傳感器,其包括:頭單元，其包括共焦光學系統(tǒng)；約束裝置，其包括投光用光源，所述投光用光源被構造為產(chǎn)生具有多個波長的光；以及光纖線纜，其包括用于將從所述投光用光源出射的光傳送到所述頭單元的光纖。所述頭單元包括光學構件，所述光學構件被構造...

我們智能能設備的進化日新月異，人們的追求越來越個性化。愈發(fā)復雜的形狀意味著，對點膠設備提出更高的要求，需要應對更高的點膠精度!更靈活的點膠角度!目前手機中板和屏幕模組貼合時，需要在中板上面點一圈透明的UV膠，這種膠由于白色反光的原因，只能使用光譜共焦傳感器進行...

光譜共焦位移傳感器是一種用于測量物體表面形貌的高精度傳感器。在手機制造過程中，段差是一個重要的參數(shù)，它決定了手機鏡頭的質量和性能。因此，測量手機段差的具體方法是手機制造過程中的關鍵步驟之一。光譜共焦位移傳感器測量手機段差的具體方法可以分為以下幾個步驟。首先，需...

白光干涉光譜分析是目前白光干涉測量的一個重要方向，此項技術主要是利用光譜儀將對條紋的測量轉變成為對不同波長光譜的測量。通過分析被測物體的光譜特性，就能夠得到相應的長度信息和形貌信息。相比于白光掃描干涉術，它不需要大量的掃描過程，因此提高了測量效率，而且也減小了...

譜共焦測量技術由于其高精度、允許被測表面有更大的傾斜角、測量速度快、實時性高、對被測表面狀況要求低、以及高分辨率的獨特優(yōu)勢，迅速成為工業(yè)測量的熱門傳感器，在生物醫(yī)學、材料科學、半導體制造、表面工程研究、精密測量、3C電子等領域得到廣泛應用。 本次測量...

隨著汽車行業(yè)的迅速發(fā)展，汽車零部件的加工質量和精度要求也越來越高。為了滿足這一需求，高精度光譜共焦傳感器成為了一種可靠的解決方案。本文將探討高精度光譜共焦傳感器在汽車零部件加工方面的應用，并提出相應的解決方案。首先，高精度光譜共焦傳感器在汽車零部件加工中的應用...

由于不同性質和形態(tài)的薄膜對測量量程和精度的需求不相同，因此多種測量方法各有優(yōu)缺點，難以籠統(tǒng)評估。測量特點總結如表1-1所示，針對薄膜厚度不同，適用的測量方法分別為橢圓偏振法、分光光度法、共聚焦法和干涉法。對于小于1μm的薄膜，白光干涉輪廓儀的測量精度較低，分光...

白光干涉法和激光光源相比具有短相干長度的特點，使得兩束光只有在光程差非常小的情況下才能發(fā)生干涉，因此不會產(chǎn)生干擾條紋。同時，白光干涉產(chǎn)生的干涉條紋具有明顯的零光程差位置，避免了干涉級次不確定的問題。本文基于白光干涉原理對單層透明薄膜厚度測量進行了研究，特別...

靶丸內表面輪廓是激光核聚變靶丸的關鍵參數(shù)，需要精密檢測。本文首先分析了基于白光共焦光譜和精密氣浮軸系的靶丸內表面輪廓測量基本原理，建立了靶丸內表面輪廓的白光共焦光譜測量方法。此外，搭建了靶丸內表面輪廓測量實驗裝置，建立了基于靶丸光學圖像的輔助調心方法，實現(xiàn)了靶...

玻璃基板是液晶顯示屏必須的部件之一，每個液晶屏需要兩個玻璃基板，用作底部基板和彩色濾光片底部的支撐基板。玻璃基板的質量對面板的分辨率、透光度、厚度、凈重和可見角度等參數(shù)都有很大的影響。玻璃基板是液晶顯示屏中基本的構件之一，其制備過程需要獲得非常平坦的表面。當前...

根據(jù)對光譜共焦位移傳感器原理的理解和分析，可以得出理想的鏡頭應具備以下性能：首先，產(chǎn)生較大的軸向色差，通常需要對鏡頭進行消色差措施，而該傳感器需要利用色差進行測量，需要將其擴大化；其次，產(chǎn)生軸向色差后，焦點在軸上會因單色光的球差問題而導致光譜曲線響應的FWHM...

薄膜材料的厚度在納米級薄膜的各項相關參數(shù)中，是制備和設計中一個重要的參量，也是決定薄膜性質和性能的關鍵參量之一。然而，由于其極小尺寸及表面效應的影響，納米級薄膜的厚度準確測量變得困難?？蒲屑夹g人員通過不斷的探索研究，提出了新的薄膜厚度測量理論和技術，并將測量方...

光具有相互疊加的特性，發(fā)生干涉的兩束光在一些地方振動加強，而在另一些地方振動減弱，并產(chǎn)生規(guī)則的明暗交替變化。干涉測量需要滿足三個相干條件：頻率一致、振動方向一致、相位差穩(wěn)定一致。與激光光源相比，白光光源的相干長度較短，通常在幾微米到幾十微米內。白光干涉的條紋有...

共焦位移傳感器是一種共焦位移傳感器,其包括:頭單元，其包括共焦光學系統(tǒng)；約束裝置，其包括投光用光源，所述投光用光源被構造為產(chǎn)生具有多個波長的光；以及光纖線纜，其包括用于將從所述投光用光源出射的光傳送到所述頭單元的光纖。所述頭單元包括光學構件，所述光學構件被構造...

在精密幾何量計量測試中，光譜共焦技術是非常重要的應用，可以提高測量效率和精度。在使用光譜共焦技術進行測量之前，需要對其原理進行分析，并對應用的傳感器進行綜合應用，以獲得更準確的測量數(shù)據(jù)。光譜共焦位移傳感器的工作原理是使用寬譜光源照射被測物體表面，然后通過光譜儀...

2e(n22一n12sin2i)1/2＋δ’=kλ，k=1,2,3,4,5...(1) 2e(n22一n12sin2i)1/2＋δ’=（2k＋1）λ/2，k=0，1,2,3,4，...（2） 當膜的厚度e與波長A不可比擬時，有下列情況出現(xiàn)：(1...

隨著社會的發(fā)展，智能設備不斷進化，人們對個性化的追求日益增加。復雜的形狀意味著對點膠設備提出更高的精度和靈活性要求。當前在手機中板和屏幕模組貼合時，需要在中板上面點一圈透明的UV膠，由于其白色反光特性，只能使用光譜共焦傳感器進行完美測量。光譜共焦傳感器的復合光...

在點膠工藝中，生成的膠水小球目前只能通過視覺系統(tǒng)進行檢驗。然而，在生產(chǎn)中需要保證點膠路線是連續(xù)和穩(wěn)定的，為此，可以利用色散共焦測量傳感器系統(tǒng)控制許多質檢標準中的很多參數(shù)。膠水小球必須放置在其他結構的正中間，異常的材料聚集以及連續(xù)性斷裂都可以通過該系統(tǒng)檢測。在3...

在塑料薄膜和透明材料薄厚測量方面，研究人員探討了光譜共焦傳感器在全透明平板電腦平整度測量中由于不同折射率引入的測量誤差并進行了補償，在機器視覺技術方面利用光譜共焦傳感器檢測透明材料的薄厚及弧形玻璃曲面的薄厚。在外表粗糙度測量方面，研究人員闡述了不同方式測量外表...

光譜共焦是一種先進的光學顯微鏡技術，通過聚焦光束在樣品上，利用譜學分析方法獲取樣品的高分辨率成像和化學信息。我們公司的產(chǎn)品，光譜共焦顯微鏡，具有以下特點：1.高分辨率成像：光譜共焦顯微鏡采用先進的光學系統(tǒng)和探測器，能夠實現(xiàn)超高分辨率的樣品成像，捕捉到細微的細節(jié)...

在納米級薄膜的各項相關參數(shù)中，薄膜材料的厚度是薄膜設計和制備過程中重要的參量之一，具有決定薄膜性質和性能的基本作用。然而，由于其極小尺寸及突出的表面效應，使得對納米級薄膜的厚度準確測量變得困難。經(jīng)過眾多科研技術人員的探索和研究，新的薄膜厚度測量理論和測量技術不...

折射率分別為1．45和1．62的2塊玻璃板，使其一端相接觸，形成67的尖劈．將波長為550nm的單色光垂直投射在劈上，并在上方觀察劈的干涉條紋，試求條紋間距。 我們可以分2種可能的情況來討論： 一般玻璃的厚度可估計為1mm的量級，這個量級相對于...

基于白光干涉光譜單峰值波長移動的鍺膜厚度測量方案研究：在對比研究目前常用的白光干涉測量方案的基礎上，我們發(fā)現(xiàn)當兩干涉光束的光程差非常小導致其干涉光譜只有一個干涉峰時，常用的基于兩相鄰干涉峰間距的解調方案不再適用。為此，我們提出了適用于極小光程差并基于干涉光譜...