天津光伏檢測設(shè)備

近年來，光伏產(chǎn)業(yè)發(fā)展迅猛，提高效率和降低成本成為整個(gè)行業(yè)的目標(biāo)。在晶體Si太陽電池的薄片化發(fā)展過程中，出現(xiàn)了許多嚴(yán)重的問題，如碎片、電池片隱裂、表面污染、電極不良等，正是這些缺點(diǎn)限制了電池的光電轉(zhuǎn)化效率和使用壽命。同時(shí)，由于沒有完善的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，Si片原材料質(zhì)量也是參差不齊，一些缺點(diǎn)片的存在直接影響到組件乃至光伏系統(tǒng)的穩(wěn)定性。因此，太陽能行業(yè)需要有快速有效和準(zhǔn)確的定位檢驗(yàn)方法來檢驗(yàn)生產(chǎn)環(huán)節(jié)可能出現(xiàn)的問題。檢測，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司。天津光伏檢測設(shè)備

發(fā)光成像方法為太陽電池缺點(diǎn)檢測提供了一種非常好的解決方案，這種檢測技術(shù)使用方便，類似的二維化面檢測。本文討論的是光致發(fā)光技術(shù)在檢測晶體Si太陽電池上的應(yīng)用。光致發(fā)光(photoluminescence，PL)檢測過程大致包括激光被樣品吸收、能量傳遞、光發(fā)射及CCD成像四個(gè)階段。通常利用激光作為激發(fā)光源，提供一定能量的光子，Si片中處于基態(tài)的電子在吸收這些光子后而進(jìn)入激發(fā)態(tài)，處于激發(fā)態(tài)的電子屬于亞穩(wěn)態(tài)，在短時(shí)間內(nèi)會(huì)回到基態(tài)，并發(fā)出以1150 nm的紅外光為波峰的熒光。利用冷卻的照相機(jī)鏡頭進(jìn)行感光，將圖像通過計(jì)算機(jī)顯示出來。發(fā)光的強(qiáng)度與本位置的非平衡少數(shù)載流子的密度成正比，而缺點(diǎn)處會(huì)成為少數(shù)載流子的強(qiáng)復(fù)合中心，因此該區(qū)域的少數(shù)載流子密度變小導(dǎo)致熒光效應(yīng)減弱，在圖像上表現(xiàn)出來就成為暗色的點(diǎn)、線，或一定的區(qū)域，而在電池片內(nèi)復(fù)合較少的區(qū)域則表現(xiàn)為比較亮的區(qū)域。因此，通過觀察光致發(fā)光成像能夠判斷Si片或電池片是否存在缺點(diǎn)。天津光伏檢測設(shè)備上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司是一家專業(yè)提供檢測的公司，歡迎您的來電！

基于AI數(shù)據(jù)發(fā)展路徑以及市場痛點(diǎn)，云測數(shù)據(jù)在初期重點(diǎn)瞄準(zhǔn)了為智能駕駛、智能家居、智能安防、智慧金融保險(xiǎn)等領(lǐng)域企業(yè)提供定制化場景的數(shù)據(jù)采集、自建團(tuán)隊(duì)式的高精度標(biāo)注服務(wù)。截至目前，云測數(shù)據(jù)在華東、華北、華南設(shè)有數(shù)據(jù)交付中心和采集基地，并為數(shù)百家企業(yè)提供一站式AI數(shù)據(jù)服務(wù)。未來，云測數(shù)據(jù)的發(fā)展目標(biāo)將更多在細(xì)分領(lǐng)域發(fā)力，做到領(lǐng)域知識(shí)積累更深厚，數(shù)據(jù)更精細(xì)，數(shù)據(jù)更安全。擁有這三項(xiàng)應(yīng)戰(zhàn)能力，云測數(shù)據(jù)就可以在數(shù)據(jù)服務(wù)賽道中精細(xì)地抓住變革中的機(jī)會(huì)。解決AI企業(yè)想要依靠獨(dú)有專業(yè)數(shù)據(jù)提升技術(shù)能力、但又無力建立數(shù)據(jù)團(tuán)隊(duì)的問題，這就是云測一貫所思考的和期待為行業(yè)賦能的出發(fā)點(diǎn)。

給晶硅組件施加電壓后，所激發(fā)出的電子和空穴復(fù)合的數(shù)量越多，其發(fā)射出的光子也就越多，所測得的EL圖像也就越亮；如果有的區(qū)域EL圖像比較暗，說明該處產(chǎn)生的電子和空穴數(shù)量較少，該處存在缺點(diǎn)；如果有的區(qū)域完全是暗的，該處沒有發(fā)生電子和空穴的復(fù)合，也或者是所發(fā)光被其它障礙所遮擋，無法檢測到信號(hào)。隱裂種類雖然眾多，但不是所有的隱裂都會(huì)對電池片有影響。在組件生產(chǎn)、運(yùn)輸、安裝和維護(hù)過程中，考慮到晶硅組件的易裂特征，需要在安裝電站的各個(gè)過程注意并改進(jìn)作業(yè)流程，盡量減少組件隱裂的產(chǎn)生。對于檢測隱裂，目前EL是的方法。而導(dǎo)致組件隱裂的原因眾多，要弄清楚原因后再追究責(zé)任，不能盲目聽信他人之言。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司是一家專業(yè)提供檢測的公司，期待您的光臨！

隱裂、熱斑、PID效應(yīng)，是影響晶硅光伏組件性能的三個(gè)重要因素。隱裂是晶體硅光伏組件的一種較為常見的缺點(diǎn)，通俗的講，就是一些肉眼不可見的細(xì)微破裂(micro-crack)。晶硅組件由于其自身晶體結(jié)構(gòu)的特性，十分容易發(fā)生破裂。在晶體硅組件生產(chǎn)的工藝流程中，許多環(huán)節(jié)都有可能造成電池片隱裂。隱裂產(chǎn)生的根本原因，可歸納為硅片上產(chǎn)生了機(jī)械應(yīng)力或熱應(yīng)力?，F(xiàn)在為了降低成本，晶硅電池片向越來越薄的方向發(fā)展，降低了電池片防止機(jī)械破壞的能力，更容易產(chǎn)生隱裂。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司為您提供檢測，有想法的不要錯(cuò)過哦！天津光伏檢測設(shè)備

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根據(jù)EL測試儀原理可以知道，光伏組件中所有能引起內(nèi)部電池少子壽命降低的缺點(diǎn)都通過EL圖像反應(yīng)，例如黑心片、黑斑片等材料缺點(diǎn)，以及碎片、隱裂等電池缺點(diǎn)。黑心片和黑斑片主要跟電池制備所用的硅材料有關(guān)，有黑心片和黑斑片的電池少子壽命較低，對組件輸出功率也會(huì)有影響。電池碎片和隱裂片一般由外力造成。其中碎片一般可由肉眼看到，對組件的功率輸出有較大影響;隱裂通過肉眼難以發(fā)現(xiàn)，對組件功率輸出有一定影響，容易形成熱斑，可發(fā)展為碎片。天津光伏檢測設(shè)備