怎樣選擇HTOL測試機(jī)大概費(fèi)用

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-08-26

第二時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)、第三時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)至第n時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)。在每個(gè)時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)過程為:將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進(jìn)行比對(duì)判斷,若iref<i,則閃存讀出“1”;若iref>i,則閃存讀出“0”。具體的,在閃存(例如norflash)產(chǎn)品htol可靠性驗(yàn)證的階段的測試流程例如依次為:初始(***時(shí)間點(diǎn))讀點(diǎn)、48小時(shí)(第二時(shí)間點(diǎn))讀點(diǎn)、168小時(shí)(第三時(shí)間點(diǎn))讀點(diǎn)、500小時(shí)(第四時(shí)間點(diǎn))讀點(diǎn)、1000小時(shí)(第n時(shí)間點(diǎn))讀點(diǎn)。本發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元未經(jīng)過編譯和擦除循環(huán)而直接進(jìn)行htol測試時(shí),發(fā)現(xiàn)閃存htol可靠性驗(yàn)證在48小時(shí)(hrs)讀點(diǎn)失效。上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng),隨時(shí)導(dǎo)出測試數(shù)據(jù),簡化可靠性測試溯源問題。怎樣選擇HTOL測試機(jī)大概費(fèi)用

上海頂策科技TH801智能一體化老化測試機(jī),主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測技術(shù),通過監(jiān)測數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,大幅提高HTOL效率??煽啃詼y試事業(yè)部提供可靠性測試整體解決方案,包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備,以及測試方案制定,PCB設(shè)計(jì)制作,測試試驗(yàn),滿足各類芯片可靠性測試需求。涵蓋模擬,數(shù)字,混合信號(hào),SOC,RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì),原理圖設(shè)計(jì),PCBlayout加工制作,老化程序開發(fā)調(diào)試,可靠性測試實(shí)驗(yàn),出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)。靜安區(qū)HTOL測試機(jī)市面價(jià)上海頂策科技智能HTOL系統(tǒng),通過監(jiān)測數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本。

在每個(gè)時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)過程為:將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進(jìn)行比對(duì)判斷,若iref<i,則閃存讀出“1”;若iref>i,則閃存讀出“0”。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有如下有益效果:本發(fā)明所提供的閃存htol測試方法,對(duì)所述閃存參考單元循環(huán)進(jìn)行編譯和擦除,以在所述閃存參考單元中引入電子;對(duì)所述閃存進(jìn)行htol測試,所述引入電子在所述htol測試過程中存在丟失,以對(duì)htol測試過程中所述空穴的丟失形成補(bǔ)償。降低了閃存參考單元的輸出電流iref的偏移量,從而使閃存htol讀“0”通過,解決了閃存htol測試中讀點(diǎn)失效的問題,提高閃存質(zhì)量。附圖說明圖1為本發(fā)明實(shí)施例的閃存htol測試方法流程圖;圖2為本發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元的結(jié)構(gòu)示意圖;圖3為本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)閃存參考單元進(jìn)行編譯示意圖;圖4為本發(fā)明實(shí)施例的對(duì)閃存參考單元進(jìn)行擦除示意圖;圖5為本發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元未經(jīng)過編譯和擦除直接進(jìn)行htol測試的輸出電流iref分布圖;

自有發(fā)明專利的智能HTOL系統(tǒng),自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測技術(shù),可靈活配置芯片工作狀態(tài),并施加信號(hào),非常方便HTOLSetup,實(shí)時(shí)監(jiān)測并記錄環(huán)境溫度,以及每顆芯片電壓,電流,頻率,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù),確保芯片處于正常HTOL狀態(tài),保證HTOL測試質(zhì)量,通過監(jiān)測數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,大幅度提高HTOL效率,節(jié)省更多時(shí)間、FA成本,全程數(shù)據(jù)記錄,讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性,有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄,讓報(bào)告更有說服力,下游客戶更放心。上海頂策科技智能HTOL系統(tǒng),通過監(jiān)測數(shù)據(jù),可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,大幅度提高HTOL效率。

    htonl()簡述:將主機(jī)的無符號(hào)長整形數(shù)轉(zhuǎn)換成網(wǎng)絡(luò)字節(jié)順序。#include<arpa/(uint32_thostlong);hostlong:主機(jī)字節(jié)順序表達(dá)的32位數(shù)。注釋:本函數(shù)將一個(gè)32位數(shù)從主機(jī)字節(jié)順序轉(zhuǎn)換成網(wǎng)絡(luò)字節(jié)順序。返回值:htonl()返回一個(gè)網(wǎng)絡(luò)字節(jié)順序的值。參見:htons(),ntohl(),ntohs().在Linux系統(tǒng)下:#include<arpa/(uint32_thostlong);相關(guān)函數(shù):uint16_thtons(uint16_thostshort);uint32_tntohl(uint32_tnetlong);uint16_tntohs(uint16_tnetshort);網(wǎng)際協(xié)議在處理這些多字節(jié)整數(shù)時(shí),使用大端字節(jié)序。在主機(jī)本身就使用大端字節(jié)序時(shí),這些函數(shù)通常被定義為空宏。————————————————版權(quán)聲明:本文為CSDN博主「gocpplua」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。 上海頂策科技有限公司自成立以來,已經(jīng)為超過500家半導(dǎo)體公司提供高質(zhì)、高效、低成本測試解決方案。普陀區(qū)HTOL測試機(jī)24小時(shí)服務(wù)

TH801智能老化系統(tǒng),實(shí)時(shí)監(jiān)測并記錄每顆芯片電壓,電流,頻率,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù)。怎樣選擇HTOL測試機(jī)大概費(fèi)用

本發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元經(jīng)過編譯和擦除循環(huán)后再進(jìn)行htol測試的輸出電流iref分布圖。閃存參考單元進(jìn)行編譯和擦除循環(huán)后,htol測試過程中。閃存參考單元的輸出電流iref在48小時(shí)的測試值iref1與在初始的測試值iref0之間偏移量減小,實(shí)際驗(yàn)證多個(gè)型號(hào)的閃存產(chǎn)品采用本實(shí)施例的方法后,htol可靠性驗(yàn)證通過,而且測試可靠,使閃存產(chǎn)品較短時(shí)間內(nèi)進(jìn)入客戶樣品量產(chǎn)階段。綜上所述,本發(fā)明所提供的一種閃存htol測試方法,對(duì)閃存參考單元進(jìn)行編譯和擦除循環(huán)后,再進(jìn)行閃存htol可靠性驗(yàn)證,編譯和擦除循環(huán)會(huì)在閃存參考單元中引入電子,引入的電子在閃存htol可靠性驗(yàn)證過程存在丟失,進(jìn)而對(duì)空穴在htol測試過程中的丟失形成補(bǔ)償,降低了閃存參考單元的輸出電流iref的偏移量,從而使閃存htol讀“0”通過,解決了閃存htol測試中讀點(diǎn)失效的問題,提高閃存質(zhì)量。顯然,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣,倘若本發(fā)明的這些改動(dòng)和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi),則本發(fā)明也意圖包括這些改動(dòng)和變動(dòng)在內(nèi)。怎樣選擇HTOL測試機(jī)大概費(fèi)用

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