我開始的時(shí)候認(rèn)為htons和htonl可以只用htonl代替但是后來發(fā)現(xiàn)這個(gè)是錯(cuò)誤，會(huì)導(dǎo)致服務(wù)器端和客戶端連接不上。下面就讓我們看看他們：htons#include<arpa/(uint16_thostshort);htons的功能：將一個(gè)無符號(hào)短整型數(shù)值轉(zhuǎn)換為網(wǎng)絡(luò)字節(jié)序，即大端模式(big-endian)參數(shù)u_shorthostshort:16位無符號(hào)整數(shù)返回值:TCP/IP網(wǎng)絡(luò)字節(jié)順序.htons是把你機(jī)器上的整數(shù)轉(zhuǎn)換成“網(wǎng)絡(luò)字節(jié)序”，網(wǎng)絡(luò)字節(jié)序是big-endian，也就是整數(shù)的高位字節(jié)存放在內(nèi)存的低地址處。而我們常用的x86CPU(intel,AMD)電腦是little-endian,也就是整數(shù)的低位字節(jié)放在內(nèi)存的低字節(jié)處。舉個(gè)例子：假定你的port是0x1234,在網(wǎng)絡(luò)字節(jié)序里這個(gè)port放到內(nèi)存中就應(yīng)該顯示成addraddr+10x120x34而在x86電腦上，0x1234放到內(nèi)存中實(shí)際是：addraddr+10x340x12htons的用處就是把實(shí)際內(nèi)存中的整數(shù)存放方式調(diào)整成“網(wǎng)絡(luò)字節(jié)序”的方式?！鏅?quán)聲明：本文為CSDN博主「gocpplua」的原創(chuàng)文章，遵循，轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。 TH801智能老化系統(tǒng)，方便靈活配置芯片狀態(tài)、施加信號(hào)，提高HTOLdebug及Setup效率。浦東新區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)設(shè)計(jì)
自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)的HTOL測(cè)試機(jī)，上海頂策科技有限公司自主研發(fā)TH801智能一體化HTOL測(cè)試機(jī)，擁有多項(xiàng)發(fā)明專利及軟件著作權(quán)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提高HTOL效率。提供可靠性設(shè)備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。涵蓋模擬，數(shù)字，混合信號(hào)，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì)，原理圖設(shè)計(jì)，PCBlayout加工制作，老化程序開發(fā)調(diào)試，可靠性測(cè)試試驗(yàn)，出具可靠性報(bào)告。奉賢區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)性能上海頂策科技智能HTOL系統(tǒng)，有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄，讓報(bào)告更有說服力，下游客戶更放心。
可靠性測(cè)試設(shè)備，可靠性測(cè)試整體解決方案，HTOL測(cè)試爐，上海頂策科技TH801智能一體化老化測(cè)試機(jī)。自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)，通過監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節(jié)省更多時(shí)間、FA成本，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性，讓報(bào)告更有說服力，下游客戶更放心。20年以上的豐富測(cè)試技術(shù)積累及運(yùn)營經(jīng)驗(yàn)，擁有多項(xiàng)發(fā)明專利及軟件著作權(quán)，自成立以來，已經(jīng)為超過500家半導(dǎo)體公司提供高質(zhì)量，高效率，低成本，一條龍測(cè)試解決方案！
GJB548B-2015方法，否則采用額定工作電壓S級(jí)**少時(shí)間有240h到120h共6個(gè)級(jí)別；B級(jí)**少時(shí)間160h到12h共10個(gè)級(jí)別；H級(jí)**少時(shí)間352h到80h共11級(jí)別；K級(jí)**少時(shí)間從700h到320h共6個(gè)級(jí)別。S級(jí)最低溫度從125℃到150℃共6個(gè)級(jí)別；B級(jí)別最低溫度從125℃到250℃；H級(jí)最低溫度從100℃到150℃；K級(jí)最低溫度從100℃到125℃?！鏅?quán)聲明：本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章，遵循，轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接：。 上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng)，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄環(huán)境溫度，具體到每顆芯片的狀態(tài)數(shù)據(jù)。
芯片可靠性測(cè)試（HTOL）HTOL(HighTemperatureOperatingLife)是芯片可靠性的一項(xiàng)關(guān)鍵性的基礎(chǔ)測(cè)試，用應(yīng)力（電壓、溫度等拉偏）加速的方式模擬芯片的長期運(yùn)行，評(píng)估芯片壽命和長期上電運(yùn)行的可靠性。廣電計(jì)量服務(wù)內(nèi)容：老化方案開發(fā)測(cè)試硬件設(shè)計(jì)ATE開發(fā)調(diào)試可靠性試驗(yàn)HTOL試驗(yàn)方案：在要求點(diǎn)(如0、168、500、1000hr)進(jìn)行ATE測(cè)試，確定芯片是否OK,記錄每顆芯片的關(guān)鍵參數(shù)，并分析老化過程中的變化。對(duì)芯片覆蓋率要求如：CPU/DSP/MCU/logic：ATPG的stuck-atfaultcoverage＞70％。MemoryBIST:覆蓋所有memory。3、模擬電路：覆蓋PLL/AD/DA/SERDES等關(guān)鍵IP。 上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng)，數(shù)據(jù)異常自動(dòng)報(bào)警，大幅度降低HTOL問題分析難度。浙江專注HTOL測(cè)試機(jī)
TH801智能老化系統(tǒng)，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù)。浦東新區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)設(shè)計(jì)
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明提供了一種閃存htol測(cè)試方法，以解決閃存htol測(cè)試中讀點(diǎn)失效的問題。本發(fā)明提供的閃存htol測(cè)試方法，包括：提供待測(cè)閃存，所述閃存包括閃存參考單元和閃存陣列單元；所述閃存參考單元中捕獲有空穴；對(duì)所述閃存參考單元循環(huán)進(jìn)行編譯和擦除，以在所述閃存參考單元中引入電子；對(duì)所述閃存進(jìn)行htol測(cè)試，所述引入電子在所述htol測(cè)試過程中部分丟失，以對(duì)htol測(cè)試過程中所述空穴的丟失形成補(bǔ)償。進(jìn)一步的，所述閃存參考單元包括襯底、位于所述襯底中的導(dǎo)電溝道、位于所述導(dǎo)電溝道兩側(cè)的源極和漏極，位于所述導(dǎo)電溝道上方的柵極單元，所述柵極單元從下到上依次包括隧穿氧化層、浮柵、柵間介質(zhì)層以及控制柵，所述柵極單元的兩側(cè)分布有側(cè)墻。 浦東新區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)設(shè)計(jì)
上海頂策科技有限公司是一家有著雄厚實(shí)力背景、信譽(yù)可靠、勵(lì)精圖治、展望未來、有夢(mèng)想有目標(biāo)，有組織有體系的公司，堅(jiān)持于帶領(lǐng)員工在未來的道路上大放光明，攜手共畫藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的儀器儀表行業(yè)中積累了大批忠誠的客戶粉絲源，也收獲了良好的用戶口碑，為公司的發(fā)展奠定的良好的行業(yè)基礎(chǔ)，也希望未來公司能成為*****，努力為行業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展奉獻(xiàn)出自己的一份力量，我們相信精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念以及自強(qiáng)不息，斗志昂揚(yáng)的的企業(yè)精神將**上海頂策科技供應(yīng)和您一起攜手步入輝煌，共創(chuàng)佳績，一直以來，公司貫徹執(zhí)行科學(xué)管理、創(chuàng)新發(fā)展、誠實(shí)守信的方針，員工精誠努力，協(xié)同奮取，以品質(zhì)、服務(wù)來贏得市場(chǎng)，我們一直在路上！