國產(chǎn)HTOL測試機怎么樣

來源: 發(fā)布時間:2022-09-24

第二時間點讀點、第三時間點讀點至第n時間點讀點。在每個時間點讀點過程為:將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進行比對判斷,若iref<i,則閃存讀出“1”;若iref>i,則閃存讀出“0”。具體的,在閃存(例如norflash)產(chǎn)品htol可靠性驗證的階段的測試流程例如依次為:初始(***時間點)讀點、48小時(第二時間點)讀點、168小時(第三時間點)讀點、500小時(第四時間點)讀點、1000小時(第n時間點)讀點。本發(fā)明實施例的閃存參考單元未經(jīng)過編譯和擦除循環(huán)而直接進行htol測試時,發(fā)現(xiàn)閃存htol可靠性驗證在48小時(hrs)讀點失效。上海頂策科技有限公司提供可靠性測試整體解決方案,以及測試方案制定,PCB設(shè)計制作,測試試驗。國產(chǎn)HTOL測試機怎么樣

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    AEC-Q1001.對于非易失性存儲器樣品,在HTOL之前進行預(yù)處理:等級0:150℃,1000h等級1:125℃,1000h等級2:105℃,1000h等級3:85℃,1000h2.各等級溫度對應(yīng)的時間是比較低要求,通過計算或測量獲取HTOL的Tj(結(jié)溫);3.當進行HTOL的器件Tj大于或等于最高工作溫度時的Tj,那么Tj可以代替Ta(環(huán)境溫度),但是要低于***比較大Tj;4.如果Tj被用來作為HTOL的條件,在Ta和1000h條件下的器件需要使用;(max)需要保證交直流參數(shù)?!鏅?quán)聲明:本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接:。 上海頂策科技自主研發(fā)TH801智能一體化HTOL測試機,擁有多項發(fā)明專利及軟件著作權(quán)。

包括:將所述源極101和漏極102均懸空,在所述控制柵106上施加***擦除電壓vc1,在所述襯底100上施加第二擦除電壓vc2;其中,所述***擦除電壓vc1為負電壓,所述第二擦除電壓vc2為正電壓。所述***擦除電壓vc1的范圍為-10v~-8v,本實施例中例如為-9v;所述第二擦除電壓vc2的范圍為8v~10v,本實施例中例如為9v;擦除過程中的脈沖寬度為10ms~20ms。本實施例中,閃存參考單元的擦除原理是基于fowler-nordheim隧穿(簡稱為fn隧穿),通過在襯底100上施加正電壓,在控制柵106上施加負電壓,以在隧穿氧化層103中注入空穴,同時減少浮柵104中的電子。上海頂策科技智能HTOL系統(tǒng),實時監(jiān)測并記錄環(huán)境溫度,確保芯片處于正常HTOL狀態(tài),保證HTOL測試質(zhì)量。本地HTOL測試機怎么樣

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