金山區(qū)怎樣選擇HTOL測試機

來源: 發(fā)布時間:2024-03-13

    AEC-Q1001.對于非易失性存儲器樣品,在HTOL之前進行預(yù)處理:等級0:150℃,1000h等級1:125℃,1000h等級2:105℃,1000h等級3:85℃,1000h2.各等級溫度對應(yīng)的時間是比較低要求,通過計算或測量獲取HTOL的Tj(結(jié)溫);3.當(dāng)進行HTOL的器件Tj大于或等于最高工作溫度時的Tj,那么Tj可以代替Ta(環(huán)境溫度),但是要低于***比較大Tj;4.如果Tj被用來作為HTOL的條件,在Ta和1000h條件下的器件需要使用;(max)需要保證交直流參數(shù)。————————————————版權(quán)聲明:本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章,遵循,轉(zhuǎn)載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接:。 TH801智能老化系統(tǒng),設(shè)備體積小,重量輕,功耗小,節(jié)能環(huán)保,干凈整潔,操作簡單,易于上手。金山區(qū)怎樣選擇HTOL測試機

涵蓋模擬,數(shù)字,混合信號,SOC,RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計,原理圖設(shè)計,PCBlayout加工制作,老化程序開發(fā)調(diào)試,可靠性測試試驗,出具可靠性報告等一條龍服務(wù)。擁有自主研發(fā)在線實時單科監(jiān)測技術(shù)的可靠性測試設(shè)備,可靈活配置芯片工作狀態(tài),并施加信號,非常方便HTOLSetup,實時監(jiān)測并記錄環(huán)境溫度,以及每顆芯片電壓,電流,頻率,寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù),確保芯片處于正常HTOL狀態(tài),保證HTOL測試質(zhì)量,全程數(shù)據(jù)記錄,讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性,讓報告更有說服力,下游客戶更放心。徐匯區(qū)HTOL測試機24小時服務(wù)上海頂策科技有限公司自成立以來,已經(jīng)為超過500家半導(dǎo)體公司提供高質(zhì)、高效、低成本測試解決方案。

    芯片可靠性測試(HTOL)HTOL(HighTemperatureOperatingLife)是芯片可靠性的一項關(guān)鍵性的基礎(chǔ)測試,用應(yīng)力(電壓、溫度等拉偏)加速的方式模擬芯片的長期運行,評估芯片壽命和長期上電運行的可靠性。廣電計量服務(wù)內(nèi)容:老化方案開發(fā)測試硬件設(shè)計ATE開發(fā)調(diào)試可靠性試驗HTOL試驗方案:在要求點(如0、168、500、1000hr)進行ATE測試,確定芯片是否OK,記錄每顆芯片的關(guān)鍵參數(shù),并分析老化過程中的變化。對芯片覆蓋率要求如:CPU/DSP/MCU/logic:ATPG的stuck-atfaultcoverage>70%。MemoryBIST:覆蓋所有memory。3、模擬電路:覆蓋PLL/AD/DA/SERDES等關(guān)鍵IP。

提供可靠性測試整體解決方案:可靠性設(shè)備,HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項可靠性測試方案制定,PCB設(shè)計制作,測試試驗,滿足各類芯片可靠性測試需求。自主研發(fā)在線實時單顆監(jiān)測技術(shù),通過監(jiān)測數(shù)據(jù),可實時發(fā)現(xiàn)問題并介入分析,大幅提高HTOL效率,節(jié)省更多時間、FA成本,讓HTOL問題更容易分析,更有追溯性,讓報告更有說服力,下游客戶更放心??煽啃詼y試事業(yè)部提供可靠性測試整體解決方案,包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備,以及測試方案制定,PCB設(shè)計制作,測試實驗,滿足各類芯片可靠性測試需求。TH801智能老化系統(tǒng),實時監(jiān)測并記錄環(huán)境溫度,確保芯片處于正常HTOL狀態(tài),保證HTOL測試質(zhì)量。

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一種閃存htol測試方法,包括:提供待測閃存,所述閃存包括閃存參考單元和閃存陣列單元;所述閃存參考單元中捕獲有空穴;對所述閃存參考單元循環(huán)進行編譯和擦除,以在所述閃存參考單元中引入電子;對所述閃存進行htol測試,所述引入電子在所述htol測試過程中部分丟失,以對htol測試過程中所述空穴的丟失形成補償。具體的,待測閃存在同一閃存芯片(die)中的不同區(qū)域分布有閃存參考單元和閃存陣列單元,閃存陣列單元用于存儲數(shù)據(jù),閃存參考單元用于提供參考閾值電壓以區(qū)分閃存陣列單元的狀態(tài)。提供的待測閃存在其生產(chǎn)工藝過程中易在閃存參考單元中捕獲。引入)空穴,所述空穴在htol測試過程中存在丟失。圖2為本發(fā)明實施例的閃存參考單元的結(jié)構(gòu)示意圖,金山區(qū)怎樣選擇HTOL測試機