寶山區(qū)智能化HTOL測試機

來源: 發(fā)布時間:2024-03-15

閃存HTOL測試方法與流程本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,尤其涉及一種閃存htol測試方法。背景技術(shù):閃存(flashmemory)是一種非易失性的存儲器,其具有即使斷電存儲數(shù)據(jù)也不會丟失而能夠長期保存的特點。故近年來閃存的發(fā)展十分迅速,并且具有高集成度、高存儲速度和高可靠性的閃存存儲器被廣泛應(yīng)用于包括電腦、手機、服務(wù)器等電子產(chǎn)品及設(shè)備中。在半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域中,htol(hightemperatureoperatinglifetest,高溫操作生命期試驗)用于評估半導(dǎo)體器件在超熱和超電壓情況下一段時間的耐久力。對于閃存的可靠性而言,在數(shù)萬次的循環(huán)之后的htol是一個主要指數(shù)。通常而言,閃存產(chǎn)品需要在10000次的循環(huán)之后,通過1000小時的htol測試。閃存htol實際測試中存在若干小時后閃存測試讀點(例如讀“0”)失效,亟需解決閃存htol測試中讀點失效的問題??煽啃允聵I(yè)部提供模擬,數(shù)字,混合信號,SOC,RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計。寶山區(qū)智能化HTOL測試機

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