自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)，通過(guò)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節(jié)省更多時(shí)間、FA成本，讓HTOL問(wèn)題更容易分析，更有追溯性，讓報(bào)告更有說(shuō)服力，下游客戶更放心。涵蓋模擬，數(shù)字，混合信號(hào)，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì)，原理圖設(shè)計(jì)，PCBlayout加工制作，老化程序開(kāi)發(fā)調(diào)試，可靠性測(cè)試試驗(yàn)，出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)?？煽啃詼y(cè)試事業(yè)部提供可靠性測(cè)試整體解決方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備，以及測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。上海頂策科技有限公司可靠性測(cè)試部，提供芯片可靠性測(cè)試整體解決方案。專注HTOL測(cè)試機(jī)品牌排行榜
HTOL的注意要點(diǎn)高溫工作壽命的測(cè)試條件主要遵循JESD22-A108進(jìn)行，除了給器件合適的偏置與負(fù)載外，主要包括溫度應(yīng)力和電壓應(yīng)力，這兩者都屬于加速因子。合理設(shè)置溫度應(yīng)力和電壓應(yīng)力，以便在合理的時(shí)間和成本下完成壽命評(píng)估。對(duì)于硅基產(chǎn)品，溫度應(yīng)力一般設(shè)置在結(jié)溫>=125℃，GaAs等其它耐高溫材料則可以設(shè)置更高的溫度，具體根據(jù)加速要求而定。但無(wú)論哪種材料，均需要結(jié)溫小于材料的極限工作溫度或者熱關(guān)斷（thermalshutdown）溫度。HTOL硬件的散熱設(shè)計(jì)有利于加速因子的提高，這樣可以節(jié)省試驗(yàn)時(shí)間。電壓應(yīng)力一般采用最高工作電壓進(jìn)行，如果需要提高加速度，則可以采用更高的電壓進(jìn)行試驗(yàn)，但是無(wú)論電壓應(yīng)力還是溫度應(yīng)力都不允許器件處于過(guò)電應(yīng)力的狀態(tài)。 智能HTOL測(cè)試機(jī)哪家好上海頂策科技有限公司智能HTOL測(cè)試機(jī)TH801有全程數(shù)據(jù)記錄，讓報(bào)告更有說(shuō)服力，下游客戶更放心。
閃存HTOL測(cè)試方法與流程本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，尤其涉及一種閃存htol測(cè)試方法。背景技術(shù)：閃存(flashmemory)是一種非易失性的存儲(chǔ)器，其具有即使斷電存儲(chǔ)數(shù)據(jù)也不會(huì)丟失而能夠長(zhǎng)期保存的特點(diǎn)。故近年來(lái)閃存的發(fā)展十分迅速，并且具有高集成度、高存儲(chǔ)速度和高可靠性的閃存存儲(chǔ)器被廣泛應(yīng)用于包括電腦、手機(jī)、服務(wù)器等電子產(chǎn)品及設(shè)備中。在半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域中，htol(hightemperatureoperatinglifetest，高溫操作生命期試驗(yàn))用于評(píng)估半導(dǎo)體器件在超熱和超電壓情況下一段時(shí)間的耐久力。對(duì)于閃存的可靠性而言，在數(shù)萬(wàn)次的循環(huán)之后的htol是一個(gè)主要指數(shù)。通常而言，閃存產(chǎn)品需要在10000次的循環(huán)之后，通過(guò)1000小時(shí)的htol測(cè)試。閃存htol實(shí)際測(cè)試中存在若干小時(shí)后閃存測(cè)試讀點(diǎn)(例如讀“0”)失效，亟需解決閃存htol測(cè)試中讀點(diǎn)失效的問(wèn)題。
htonl()簡(jiǎn)述：將主機(jī)的無(wú)符號(hào)長(zhǎng)整形數(shù)轉(zhuǎn)換成網(wǎng)絡(luò)字節(jié)順序。#include<arpa/(uint32_thostlong);hostlong：主機(jī)字節(jié)順序表達(dá)的32位數(shù)。注釋：本函數(shù)將一個(gè)32位數(shù)從主機(jī)字節(jié)順序轉(zhuǎn)換成網(wǎng)絡(luò)字節(jié)順序。返回值：htonl()返回一個(gè)網(wǎng)絡(luò)字節(jié)順序的值。參見(jiàn)：htons(),ntohl(),ntohs().在Linux系統(tǒng)下：#include<arpa/(uint32_thostlong);相關(guān)函數(shù)：uint16_thtons(uint16_thostshort);uint32_tntohl(uint32_tnetlong);uint16_tntohs(uint16_tnetshort);網(wǎng)際協(xié)議在處理這些多字節(jié)整數(shù)時(shí)，使用大端字節(jié)序。在主機(jī)本身就使用大端字節(jié)序時(shí)，這些函數(shù)通常被定義為空宏?！鏅?quán)聲明：本文為CSDN博主「gocpplua」的原創(chuàng)文章，遵循，轉(zhuǎn)載請(qǐng)附上原文出處鏈接及本聲明。 上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng)，是一款全程數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)記錄的高效HTOL設(shè)備。
芯片可靠性測(cè)試（HTOL）HTOL(HighTemperatureOperatingLife)是芯片可靠性的一項(xiàng)關(guān)鍵性的基礎(chǔ)測(cè)試，用應(yīng)力（電壓、溫度等拉偏）加速的方式模擬芯片的長(zhǎng)期運(yùn)行，評(píng)估芯片壽命和長(zhǎng)期上電運(yùn)行的可靠性。廣電計(jì)量服務(wù)內(nèi)容：老化方案開(kāi)發(fā)測(cè)試硬件設(shè)計(jì)ATE開(kāi)發(fā)調(diào)試可靠性試驗(yàn)HTOL試驗(yàn)方案：在要求點(diǎn)(如0、168、500、1000hr)進(jìn)行ATE測(cè)試，確定芯片是否OK,記錄每顆芯片的關(guān)鍵參數(shù)，并分析老化過(guò)程中的變化。對(duì)芯片覆蓋率要求如：CPU/DSP/MCU/logic：ATPG的stuck-atfaultcoverage＞70％。MemoryBIST:覆蓋所有memory。3、模擬電路：覆蓋PLL/AD/DA/SERDES等關(guān)鍵IP。 TH801智能老化系統(tǒng)，監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)異常自動(dòng)報(bào)警，實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析，大幅度提高HTOL效率。專注HTOL測(cè)試機(jī)品牌排行榜
上海頂策科技有限公司自成立以來(lái)，已經(jīng)為超過(guò)500家半導(dǎo)體公司提供高質(zhì)、高效、低成本測(cè)試解決方案。專注HTOL測(cè)試機(jī)品牌排行榜
自有發(fā)明專利的智能HTOL系統(tǒng)，自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)，可靈活配置芯片工作狀態(tài)，并施加信號(hào)，非常方便HTOLSetup，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄環(huán)境溫度，以及每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù)，確保芯片處于正常HTOL狀態(tài)，保證HTOL測(cè)試質(zhì)量，通過(guò)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析，大幅度提高HTOL效率，節(jié)省更多時(shí)間、FA成本，全程數(shù)據(jù)記錄，讓HTOL問(wèn)題更容易分析，更有追溯性，有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄，讓報(bào)告更有說(shuō)服力，下游客戶更放心。專注HTOL測(cè)試機(jī)品牌排行榜