芯片ATE程序開發(fā)及FT測(cè)試FT（FinalTest）是芯片在封裝完成以后進(jìn)行的*終的功能和性能測(cè)試，是產(chǎn)品質(zhì)量控制*后環(huán)節(jié)，通過ATE+Handler+loadboard檢測(cè)并剔除封裝工藝和制造缺陷等生產(chǎn)環(huán)節(jié)問題的芯片。測(cè)試程序覆蓋功能和全pin性能參數(shù)，并補(bǔ)充CP未覆蓋的功能。服務(wù)內(nèi)容：老化方案開發(fā)測(cè)試硬件設(shè)計(jì)ATE開發(fā)調(diào)試可靠性試驗(yàn)在要求點(diǎn)(如0、168、500、1000 hr)進(jìn)行 ATE 測(cè)試，確定芯片是否OK, 記錄每顆芯片的關(guān)鍵參數(shù)，并分析老化過程中的變化。上海頂策科技有限公司可靠性測(cè)試部，提供芯片可靠性測(cè)試整體解決方案。奉賢區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)推薦廠家
蓋模擬，數(shù)字，混合信號(hào)，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì)，原理圖設(shè)計(jì)，PCBlayout加工制作，老化程序開發(fā)調(diào)試，可靠性測(cè)試試驗(yàn)，出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)。自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)，通過監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節(jié)省更多時(shí)間、FA成本，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性，讓報(bào)告更有說服力，下游客戶更放心。20年以上的豐富測(cè)試技術(shù)積累及運(yùn)營(yíng)經(jīng)驗(yàn)，擁有多項(xiàng)發(fā)明專利及軟件著作權(quán)，自成立以來，已經(jīng)為超過500家半導(dǎo)體公司提供高質(zhì)量，高效率，低成本，一條龍測(cè)試解決方案！嘉定區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)電話上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng)，數(shù)據(jù)異常自動(dòng)報(bào)警，大幅度降低HTOL問題分析難度。
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高效率HTOL自研設(shè)備，高質(zhì)量HTOL品質(zhì)保障，低成本HTOL測(cè)試方案。上海頂策科技有限公司TH801智能一體化老化測(cè)試機(jī)，自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)，通過監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可以實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節(jié)省更多時(shí)間、FA成本，全程數(shù)據(jù)記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性；有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄，讓報(bào)告更有說服力，下游客戶更放心?？煽啃詼y(cè)試事業(yè)部提供可靠性測(cè)試整體解決方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備，以及測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，可以滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。上海頂策科技有限公司提供可靠性測(cè)試整體解決方案，以及測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)。
TH801智能一體化HTOL測(cè)試機(jī)，擁有多項(xiàng)發(fā)明專利及軟件著作權(quán)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提高HTOL效率。上海頂策科技有限公司，提供可靠性測(cè)試整體解決方案：可靠性設(shè)備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。涵蓋模擬，數(shù)字，混合信號(hào)，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì)，原理圖設(shè)計(jì)，PCBlayout加工制作，老化程序開發(fā)調(diào)試，可靠性測(cè)試試驗(yàn)，出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)。上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng)，是一款全程數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)記錄的高效HTOL設(shè)備。崇明區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)24小時(shí)服務(wù)
上海頂策科技有限公司可靠性測(cè)試服務(wù)，涵蓋柔性方案開發(fā)，出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)。奉賢區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)推薦廠家
那么IC在使用期的壽命測(cè)試中的HTOL是什么呢？使用期的壽命測(cè)試又包含高溫工作壽命（HTOL）和低溫工作壽命（LTOL），對(duì)于亞微米級(jí)尺寸的器件，熱載流子效應(yīng)對(duì)于器件壽命有著***的影響，低溫工作時(shí)相對(duì)比較苛刻，所以像存儲(chǔ)器、處理器等納米級(jí)別工藝的產(chǎn)品通常需要進(jìn)行低溫工作壽命測(cè)試。而對(duì)于。進(jìn)行HTOL（HighTemperatureOperationLife）測(cè)試的目的就是為了確定長(zhǎng)時(shí)間的電氣偏差和溫度對(duì)器件的影響，評(píng)估器件在超熱和超電壓情況下一段時(shí)間的耐久力，也就是在正常工作的壽命期間潛在的固有故障被加速，這樣就可以在相對(duì)比較短的時(shí)間內(nèi)模擬出產(chǎn)品的正常使用壽命。HTOL是在產(chǎn)品放行和批量生產(chǎn)前進(jìn)行評(píng)估，對(duì)應(yīng)浴缸曲線曲線的UsefulLife期，通常是抽樣進(jìn)行的。此外，HTOL還可以用于可靠性監(jiān)控以及對(duì)存在潛在缺陷的產(chǎn)品進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估。 奉賢區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)推薦廠家