上海頂策科技有限公司（Topictest）推出的TH801，智能在線監(jiān)控動(dòng)態(tài)老化設(shè)備，可以監(jiān)控的參數(shù)除了整板的電壓，電流，還可以根據(jù)需求，監(jiān)控到老化中每顆芯片的電壓、電流，寄存器數(shù)據(jù)，時(shí)間，頻率等諸多參數(shù)，并實(shí)時(shí)記錄保存成Excel文檔。這樣不僅可以確保每顆芯片都處于正常的老化狀態(tài)，保證老化測(cè)試的質(zhì)量，同時(shí)還可以清楚地知道具體失效的參數(shù)，以及在什么時(shí)間點(diǎn)失效等諸多信息，非常有益于失效后的FA分析。另外由于可以監(jiān)控更多芯片參數(shù)，這使得免除ATE回測(cè)成為可能，這將大幅度提高老化測(cè)試效率，節(jié)省更多人力成本！這項(xiàng)技術(shù)目前已在對(duì)芯片質(zhì)量要求較高的芯片設(shè)計(jì)公司廣泛應(yīng)用。上海頂策科技自主研發(fā)智能HTOL測(cè)試機(jī)TH801，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù)。普陀區(qū)如何選HTOL測(cè)試機(jī)
本發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元未經(jīng)過(guò)編譯和擦除的電荷分布示意圖；發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元經(jīng)過(guò)編譯和擦除后的電荷分布示意圖。圖8為本發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元經(jīng)過(guò)編譯和擦除循環(huán)后再進(jìn)行htol測(cè)試的輸出電流iref分布圖。其中，具體標(biāo)號(hào)如下：100-襯底；101-源極；102-漏極；103-隧穿氧化層；104-浮柵；105-柵間介質(zhì)層；106-控制柵；107-側(cè)墻；具體實(shí)施方式本發(fā)明提供一種閃存htol測(cè)試方法，以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。根據(jù)下面說(shuō)明，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征將更清楚。需說(shuō)明的是，附圖均采用非常簡(jiǎn)化的形式且均使用非精細(xì)的比例，*用以方便、明晰地輔助說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的目的。圖1為本發(fā)明實(shí)施例的閃存htol測(cè)試方法流程圖，徐匯區(qū)HTOL測(cè)試機(jī)怎么用上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng)，芯片狀態(tài)實(shí)時(shí)參數(shù)正態(tài)分布圖，散點(diǎn)圖等顯示，多維度分析芯片狀態(tài)。
上海頂策科技有限公司，提供可靠性測(cè)試整體解決方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備，以及測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，滿(mǎn)足各類(lèi)芯片可靠性測(cè)試需求。自主研發(fā)TH801智能一體化HTOL測(cè)試機(jī)，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄環(huán)境溫度，以及每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù)，確保芯片處于正常HTOL狀態(tài)，保證HTOL測(cè)試質(zhì)量。通過(guò)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節(jié)省更多時(shí)間、FA成本。全程數(shù)據(jù)記錄，讓HTOL問(wèn)題更容易分析，更有追溯性；有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄，讓報(bào)告更有說(shuō)服力，下游客戶(hù)更放心。
芯片HTOL測(cè)試如何做到省力省心？上海頂策科技有限公司，提供可靠性測(cè)試整體解決方案：可靠性設(shè)備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，滿(mǎn)足各類(lèi)芯片可靠性測(cè)試需求。涵蓋模擬，數(shù)字，混合信號(hào)，SOC，RF等各類(lèi)芯片的可靠性方案設(shè)計(jì)，原理圖設(shè)計(jì)，PCBlayout加工制作，老化程序開(kāi)發(fā)調(diào)試，可靠性測(cè)試試驗(yàn)，出具可靠性報(bào)告等全方面服務(wù)。保證HTOL測(cè)試質(zhì)量，通過(guò)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析，大幅度提高HTOL效率，節(jié)省更多時(shí)間、FA成本，全程數(shù)據(jù)記錄，讓HTOL問(wèn)題更容易分析，更有追溯性，有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄，讓報(bào)告更有說(shuō)服力，下游客戶(hù)更放心。TH801智能老化系統(tǒng)，實(shí)時(shí)參數(shù)正態(tài)分布圖，散點(diǎn)圖等分析數(shù)據(jù)，有利于分析芯片性能參數(shù)。
高效率HTOL自研設(shè)備，高質(zhì)量HTOL品質(zhì)保障，低成本HTOL測(cè)試方案。上海頂策科技有限公司TH801智能一體化老化測(cè)試機(jī)，自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)，通過(guò)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可以實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節(jié)省更多時(shí)間、FA成本，全程數(shù)據(jù)記錄，讓HTOL問(wèn)題更容易分析，更有追溯性；有全程HTOL數(shù)據(jù)記錄，讓報(bào)告更有說(shuō)服力，下游客戶(hù)更放心?？煽啃詼y(cè)試事業(yè)部提供可靠性測(cè)試整體解決方案，包括HTOL、LTOL、雙85、HAST等可靠性設(shè)備，以及測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，可以滿(mǎn)足各類(lèi)芯片可靠性測(cè)試需求。上海頂策科技有限公司可靠性測(cè)試服務(wù)，涵蓋柔性方案開(kāi)發(fā)，出具可靠性報(bào)告等一條龍服務(wù)。普陀區(qū)如何選HTOL測(cè)試機(jī)
上海頂策科技TH801智能老化系統(tǒng)，擁有智能動(dòng)態(tài)在線實(shí)時(shí)檢測(cè)技術(shù)，同時(shí)一體化結(jié)合ATE與高溫老化爐。普陀區(qū)如何選HTOL測(cè)試機(jī)
芯片ATE程序開(kāi)發(fā)及FT測(cè)試FT（FinalTest）是芯片在封裝完成以后進(jìn)行的*終的功能和性能測(cè)試，是產(chǎn)品質(zhì)量控制*后環(huán)節(jié)，通過(guò)ATE+Handler+loadboard檢測(cè)并剔除封裝工藝和制造缺陷等生產(chǎn)環(huán)節(jié)問(wèn)題的芯片。測(cè)試程序覆蓋功能和全pin性能參數(shù)，并補(bǔ)充CP未覆蓋的功能。服務(wù)內(nèi)容：老化方案開(kāi)發(fā)測(cè)試硬件設(shè)計(jì)ATE開(kāi)發(fā)調(diào)試可靠性試驗(yàn)在要求點(diǎn)(如0、168、500、1000 hr)進(jìn)行 ATE 測(cè)試，確定芯片是否OK, 記錄每顆芯片的關(guān)鍵參數(shù)，并分析老化過(guò)程中的變化。普陀區(qū)如何選HTOL測(cè)試機(jī)