高速光譜共焦源頭直供廠家

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-12-21

表面粗糙度是指零件在加工過(guò)程中由于不同的加工方法、機(jī)床與刀具的精度、振動(dòng)及磨損等因素在工件加工表面上形成的具有較小間距和較小峰谷的微觀水平狀況,是表面質(zhì)量的一個(gè)重要衡量指標(biāo),關(guān)系零件的磨損、密封、潤(rùn)滑、疲勞、研和等機(jī)械性能。表面粗糙度測(cè)量主要可分為接觸式測(cè)量和非接觸式測(cè)量。觸針式接觸測(cè)量容易劃傷測(cè)量表面、針尖易磨損、測(cè)量效率低、不能測(cè)復(fù)雜表面,而非接觸測(cè)量相對(duì)而言可以實(shí)現(xiàn)非接觸、高效、在線(xiàn)實(shí)時(shí)測(cè)量,而成為未來(lái)粗糙度測(cè)量的發(fā)展方向。目前常用的非接觸法主要有干涉法、散射法、散斑法、聚焦法等。而其中聚焦法較為簡(jiǎn)單實(shí)用。采用光譜共焦位移傳感器,搭建了一套簡(jiǎn)易的測(cè)量裝置,對(duì)膜式燃?xì)獗淼拈y蓋粗糙度進(jìn)行了非接觸的測(cè)量,以此來(lái)判斷閥蓋密封性合格與否,取得了一定的效果?;诠庾V共焦傳感器,利用其搭建的二維納米測(cè)量定位裝置對(duì)粗糙度樣塊進(jìn)行表面粗糙度的非接觸測(cè)量,并對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行不確定評(píng)定,得到 U95 為 13.9%。光譜共焦技術(shù)具有很大的市場(chǎng)潛力。高速光譜共焦源頭直供廠家

在容器玻璃的生產(chǎn)過(guò)程中,瓶子的圓度和壁厚是重要的質(zhì)量特征。因此,必須檢查這些參數(shù)。任何有缺陷的容器都會(huì)立即被拒絕并返回到玻璃熔體中。高處理速度與防止損壞瓶子的需要相結(jié)合,需要快速的非接觸式測(cè)量程序。而光譜共焦傳感器適合這項(xiàng)測(cè)量任務(wù)。該系統(tǒng)在兩個(gè)點(diǎn)上同步測(cè)量。數(shù)據(jù)通過(guò) EtherCAT 接口實(shí)時(shí)輸出,厚度校準(zhǔn)功能允許在傳感器的整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)進(jìn)行精確的厚度測(cè)量。無(wú)論玻璃顏色如何,自動(dòng)曝光控制都可以實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測(cè)量。朝陽(yáng)區(qū)光譜共焦詳情光譜共焦技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域可以用于材料表面和內(nèi)部的成像和分析。

光譜共焦位移傳感器是基于共焦原理采用復(fù)色光為光源的傳感器,其測(cè)扯精度能夠達(dá)到nm量級(jí),可用于表面呈漫反射或鏡反射的物體的測(cè)匱。此外,光譜共焦位移傳感器還可以對(duì)透明物體進(jìn)行單向厚度測(cè)量。由于其在測(cè)量位 移方面具有高精度的特性,對(duì)千單層和多層透明物體,除準(zhǔn)確測(cè)量該物體的位移之外,還可以單方向測(cè)量其厚度。本文將光譜共焦位移傳感器應(yīng)用于位移測(cè)量中,通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證光譜共焦測(cè)量系統(tǒng)能夠滿(mǎn)足高精度的位移測(cè)蜇要求,對(duì)今后將整個(gè) 小型化、產(chǎn)品化有著重要的意義。

光譜共焦測(cè)量原理通過(guò)使用多透鏡光學(xué)系統(tǒng)將多色白光聚焦到目標(biāo)表面來(lái)工作。透鏡的排列方式是通過(guò)控制色差(像差)將白光分散成單色光。工廠校準(zhǔn)為每個(gè)波長(zhǎng)分配了一定的偏差(特定距離)。只有精確聚焦在目標(biāo)表面或材料上的波長(zhǎng)才能用于測(cè)量。從目標(biāo)表面反射的這種光通過(guò)共焦孔徑到達(dá)光譜儀,該光譜儀檢測(cè)并處理光譜變化。漫反射表面和鏡面反射表面都可以使用共焦彩色原理進(jìn)行測(cè)量。共焦測(cè)量提供納米分辨率并且?guī)缀?span>與目標(biāo)材料分開(kāi)運(yùn)行。在傳感器的測(cè)量范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)了一個(gè)非常小的、恒定的光斑尺寸。微型徑向和軸向共焦版本可用于測(cè)量鉆孔或鉆孔的內(nèi)表面,以及測(cè)量窄孔、小間隙和空腔。光譜共焦技術(shù)可以對(duì)生物和材料的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。

采用對(duì)比測(cè)試方法,首先對(duì)基于白光共焦光譜技術(shù)的靶丸外表面輪廓測(cè)量精度進(jìn)行了考核,圖5(a)是靶丸外表面輪廓的原子力顯微鏡輪廓儀和白光共焦光譜輪廓儀的測(cè)量曲線(xiàn)。為了便于比較,將原子力顯微鏡輪廓儀的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行了偏移。從圖中可以看出,二者的低階輪廓整體相似,局部的輪廓信息存在一定的偏差,原因在于二者在靶丸赤道附近的精確測(cè)量圓周輪廓結(jié)果不一致;此外,白光共焦光譜的信噪比較原子力低,這表明白光共焦光譜適用于靶丸表面低階的輪廓誤差的測(cè)量。圖5(b)是靶丸外表面輪廓原子力顯微鏡輪廓儀測(cè)量數(shù)據(jù)和白光共焦光譜輪廓儀測(cè)量數(shù)據(jù)的功率譜曲線(xiàn),從圖中可以看出,在模數(shù)低于100的功率譜范圍內(nèi),兩種方法的測(cè)量結(jié)果一致性較好,當(dāng)模數(shù)大于100時(shí),白光共焦光譜的測(cè)量數(shù)據(jù)大于原子力顯微鏡的測(cè)量數(shù)據(jù),這也反應(yīng)了白光共焦光譜儀在高頻段測(cè)量數(shù)據(jù)信噪比相對(duì)較差的特點(diǎn)。由于光譜傳感器Z向分辨率比原子力低一個(gè)量級(jí),同時(shí),受環(huán)境振動(dòng)、光譜儀采樣率及樣品表面散射光等因素的影響,共焦光譜檢測(cè)數(shù)據(jù)高頻隨機(jī)噪聲可達(dá)100nm左右。光譜共焦技術(shù)的精度可以達(dá)到納米級(jí)別。杭州光譜共焦定做價(jià)格

光譜共焦技術(shù)可以在工業(yè)生產(chǎn)中發(fā)揮重要作用。高速光譜共焦源頭直供廠家

光譜共焦位移傳感器在金屬內(nèi)壁輪廓掃描測(cè)量中具有大量的應(yīng)用,以下是幾種典型應(yīng)用:尺寸測(cè)量利用光譜共焦位移傳感器可以精確地測(cè)量金屬內(nèi)壁的尺寸,如直徑、圓度等。通過(guò)測(cè)量?jī)?nèi)壁不同位置的直徑,可以評(píng)估內(nèi)壁的形變和扭曲程度,進(jìn)而評(píng)估加工質(zhì)量。表面形貌測(cè)量光譜共焦位移傳感器可以高精度地測(cè)量金屬內(nèi)壁的表面形貌,如粗糙度、峰谷分布等。通過(guò)對(duì)表面形貌數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和分析,可以評(píng)估加工表面的質(zhì)量,進(jìn)而優(yōu)化加工參數(shù)和提高加工效率。


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