光譜共焦使用誤區(qū)

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-02-26

光譜共焦位移傳感器是一種基于共焦顯微鏡和掃描式激光干涉儀的非接觸式位移傳感器。 它的工作原理是將樣品表面反射的激光束和參考激光束進(jìn)行干涉,利用干涉條紋的位移以及光譜的相關(guān)變化實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面形貌和性質(zhì)的高精度測(cè)量。 該傳感器可以實(shí)現(xiàn)微米級(jí)甚至亞微米級(jí)的位移測(cè)量精度,并且具有較寬的測(cè)量范圍,通常在數(shù)十微米級(jí)別甚至以上。 光譜共焦位移傳感器的優(yōu)點(diǎn)是能夠在高速動(dòng)態(tài)、曲面、透明和反射性樣品等復(fù)雜情況下實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量,具有很大的應(yīng)用前景。 光譜共焦位移傳感器主要應(yīng)用于顆粒表面形貌和性質(zhì)的研究、生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域、材料表面缺陷和應(yīng)力研究等領(lǐng)域,尤其在微納米技術(shù)、精密制造、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域具有重要應(yīng)用價(jià)值。光譜共焦技術(shù)可以在環(huán)境保護(hù)中發(fā)揮重要作用;光譜共焦使用誤區(qū)

光譜共焦使用誤區(qū),光譜共焦

高像素傳感器的設(shè)計(jì)取決于對(duì)焦水平和圖像室內(nèi)空間NA的要求。同時(shí),在光譜共焦位移傳感器中,屏幕分辨率通常采用全半寬來進(jìn)行精確測(cè)量。高NA可以降低半寬,提高分辨率。因此,在設(shè)計(jì)超色差攝像鏡頭時(shí),需要盡可能提高NA。高圖像室內(nèi)空間NA可以提高傳感器系統(tǒng)的燈源使用率,并允許待測(cè)表面在相對(duì)大的角度或某些方向上傾斜。但是,同時(shí)提高NA也會(huì)導(dǎo)致球差擴(kuò)大,并增加電子光學(xué)設(shè)計(jì)的優(yōu)化難度。傳感器的檢測(cè)范圍主要取決于超色差鏡片的縱向色差。因?yàn)楣庾V儀在各個(gè)波長(zhǎng)的像素應(yīng)該是一致的,如果縱向色差與波長(zhǎng)之間存在離散系統(tǒng),這種離散系統(tǒng)也會(huì)對(duì)傳感器的像素或靈敏度在不同波長(zhǎng)上造成較大的差別,從而損害傳感器的特性。通過使用自然散射的玻璃或者衍射光學(xué)元件(DOE)可以形成足夠強(qiáng)的色差。然而,制造難度和成本相對(duì)較高,且在可見光范圍內(nèi)透射損耗也非常高。怎樣選擇光譜共焦供應(yīng)鏈高精度光譜共焦位移傳感器是一種基于共焦原理實(shí)現(xiàn)的位移測(cè)量技術(shù)。

光譜共焦使用誤區(qū),光譜共焦

隨著機(jī)械加工水平的進(jìn)步,各種的微小的復(fù)雜工件都需要進(jìn)行精密尺寸測(cè)量與輪廓測(cè)量,例如:小工件內(nèi)壁溝槽尺寸、小圓倒角等的測(cè)量,對(duì)于某些精密光學(xué)元件可以進(jìn)行非接觸的輪廓形貌測(cè)量,避免在接觸測(cè)量時(shí)劃傷光學(xué)表面,解決了傳統(tǒng)傳感器很難解決的測(cè)量難題。一些精密光學(xué)元件也需要進(jìn)行非接觸的輪廓形貌測(cè)量,以避免接觸測(cè)量時(shí)劃傷光學(xué)表面。這些用傳統(tǒng)傳感器難以解決的測(cè)量難題,均可用光譜共焦傳感器搭建測(cè)量系統(tǒng)以解決。通過自行塔建的二維納米測(cè)量定位裝置,選用光譜其焦傳感器作為測(cè)頭,實(shí)現(xiàn)測(cè)量超精密零件的二維尺寸,滾針對(duì)渦輪盤輪廓度檢測(cè)的問題,利用光譜共焦式位移傳感器使得渦輪盤輪廓度在線檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)能夠得以實(shí)現(xiàn)。與此同時(shí),在進(jìn)行幾何量的整體測(cè)量過程中,還需要采取多種不同的方式對(duì)其結(jié)構(gòu)體系進(jìn)行優(yōu)化。從而讓幾何尺寸的測(cè)量更為準(zhǔn)確。

光譜共焦位移傳感器是一種基于共焦原理,采用復(fù)色光作為光源的傳感器,其測(cè)量精度可達(dá)到納米級(jí),適用于測(cè)量物體表面漫反射或反射的情況。此外,光譜共焦位移傳感器還可以用于單向厚度測(cè)量透明物體。由于其具有高精度的測(cè)量位移特性,因此對(duì)于透明物體的單向厚度測(cè)量以及高精度的位移測(cè)量都有著很好的應(yīng)用前景。本文將光譜共焦位移傳感器應(yīng)用于位移測(cè)量中,并通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,表明其能夠滿足高精度的位移測(cè)量要求,這對(duì)于將整個(gè)系統(tǒng)小型化、產(chǎn)品化具有重要意義。未來,光譜共焦位移傳感器將繼續(xù)發(fā)展和完善,成為微納尺度位移測(cè)量領(lǐng)域的重要技術(shù)手段之一。

光譜共焦使用誤區(qū),光譜共焦

在塑料薄膜和透明材料薄厚測(cè)量方面,研究人員探討了光譜共焦傳感器在全透明平板電腦平整度測(cè)量中由于不同折射率引入的測(cè)量誤差并進(jìn)行了補(bǔ)償,在機(jī)器視覺技術(shù)方面利用光譜共焦傳感器檢測(cè)透明材料的薄厚及弧形玻璃曲面的薄厚。在外表粗糙度測(cè)量方面,研究人員闡述了不同方式測(cè)量外表粗糙度的優(yōu)缺點(diǎn),并選擇了基于光譜共焦傳感器的測(cè)量方式進(jìn)行試驗(yàn),為外表粗糙度的高精密測(cè)量提供了一種新方法。研究人員利用小二乘法計(jì)算校準(zhǔn)誤差并進(jìn)行了離散系統(tǒng)誤差測(cè)算,以減少光譜共焦傳感器校準(zhǔn)后的誤差,并在不同精度標(biāo)準(zhǔn)器下探尋了光譜共焦傳感器的校準(zhǔn)誤差變化情況,這對(duì)于今后光譜共焦傳感器的應(yīng)用和科學(xué)研究具有重要意義。它通過對(duì)物體表面反射光的光譜分析,實(shí)現(xiàn)對(duì)物體表面位移變化的測(cè)量。新型光譜共焦的原理

光譜共焦位移傳感器廣泛應(yīng)用于制造領(lǐng)域,如半導(dǎo)體制造、精密機(jī)械制造等;光譜共焦使用誤區(qū)

譜共焦測(cè)量技術(shù)由于其高精度、允許被測(cè)表面有更大的傾斜角、測(cè)量速度快、實(shí)時(shí)性高、對(duì)被測(cè)表面狀況要求低、以及高分辨率的獨(dú)特優(yōu)勢(shì),迅速成為工業(yè)測(cè)量的熱門傳感器,在生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、表面工程研究、精密測(cè)量、3C電子等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。

本次測(cè)量場(chǎng)景使用的是創(chuàng)視智能TS-C10000光譜共焦傳感頭和CCS控制器。TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠?qū)崿F(xiàn)0.025μm的重復(fù)精度,±0.02% of F.S.的線性精度,10kHz的采樣速度,以及±65°的測(cè)量角度,能夠適應(yīng)鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面、多層玻璃等材料表面,支持485、USB、以太網(wǎng)、模擬量的數(shù)據(jù)傳輸接口。 光譜共焦使用誤區(qū)