光學(xué)儀器的生產(chǎn)對(duì)環(huán)境的潔凈度、溫濕度有著極其嚴(yán)格的要求,精密環(huán)控柜成為保障光學(xué)儀器高質(zhì)量生產(chǎn)設(shè)備。在鏡頭研磨和鍍膜工藝中,微小的塵埃顆粒都可能在鏡頭表面留下劃痕或瑕疵,影響光線的透過(guò)和成像質(zhì)量。精密環(huán)控柜配備的高效潔凈過(guò)濾器,能夠?qū)⒖諝庵械膲m埃顆粒過(guò)濾至近乎零的水平,為鏡頭加工提供超潔凈的環(huán)境。同時(shí),溫度的精確控制對(duì)于保證研磨盤(pán)和鏡頭材料的熱膨脹系數(shù)穩(wěn)定一致至關(guān)重要。溫度波動(dòng)可能導(dǎo)致研磨盤(pán)與鏡頭之間的相對(duì)尺寸發(fā)生變化,使研磨精度受到影響,導(dǎo)致鏡頭的曲率精度和光學(xué)性能不達(dá)標(biāo)。如果您的設(shè)備需在特定溫濕度、潔凈度實(shí)驗(yàn)室運(yùn)行,對(duì)周?chē)h(huán)境條件有要求,可以選擇精密環(huán)控柜。0.5℃溫濕度設(shè)備報(bào)價(jià)
電子設(shè)備制造,如智能手機(jī)、平板電腦、高性能計(jì)算機(jī)等的生產(chǎn)過(guò)程,對(duì)生產(chǎn)環(huán)境的要求日益嚴(yán)苛。精密環(huán)控柜在其中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用,確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。以智能手機(jī)芯片的封裝環(huán)節(jié)為例,芯片封裝需要將微小的芯片與基板精確連接,并封裝在保護(hù)外殼內(nèi)。這一過(guò)程中,溫度的精確控制對(duì)芯片與基板之間的焊接質(zhì)量至關(guān)重要。溫度過(guò)高或過(guò)低都可能導(dǎo)致焊接點(diǎn)虛焊、短路等問(wèn)題,影響芯片的電氣性能和可靠性。精密環(huán)控柜能夠?qū)囟炔▌?dòng)控制在極小范圍內(nèi),保證焊接過(guò)程的穩(wěn)定性,提高芯片封裝的良品率。這時(shí)候就不得不在生產(chǎn)過(guò)程中配置環(huán)境控制設(shè)備,控制溫度波動(dòng)。定制溫濕度實(shí)驗(yàn)環(huán)境精密環(huán)境控制設(shè)備內(nèi)部,關(guān)鍵區(qū)域靜態(tài)下溫度穩(wěn)定性高,可達(dá) +/-5mK 精度。
對(duì)于光學(xué)儀器,溫度哪怕有細(xì)微變化,都會(huì)引發(fā)諸多問(wèn)題。由于大多數(shù)光學(xué)儀器采用了玻璃鏡片、金屬鏡筒等不同材質(zhì)的部件,這些材料熱膨脹系數(shù)各異。當(dāng)溫度升高時(shí),鏡片會(huì)膨脹,鏡筒等支撐結(jié)構(gòu)也會(huì)發(fā)生相應(yīng)變化,若膨脹程度不一致,就會(huì)使鏡片在鏡筒內(nèi)的位置精度受到影響,光路隨之發(fā)生偏差。例如在顯微鏡觀察中,原本清晰聚焦的樣本圖像會(huì)突然變得模糊,科研人員無(wú)法準(zhǔn)確獲取樣本細(xì)節(jié),影響實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。對(duì)于望遠(yuǎn)鏡而言,溫度波動(dòng)導(dǎo)致的光路變化,會(huì)讓觀測(cè)天體時(shí)的成像偏離理想位置,錯(cuò)過(guò)重要天文現(xiàn)象的記錄。
芯片蝕刻時(shí),刻蝕速率的均勻性對(duì)芯片電路完整性至關(guān)重要。溫度波動(dòng)如同 “蝴蝶效應(yīng)”,可能引發(fā)刻蝕過(guò)度或不足。精密環(huán)控柜穩(wěn)定的溫度控制,以及可達(dá) ±0.5%@8h 的濕度穩(wěn)定性,有效避免因環(huán)境因素導(dǎo)致的刻蝕異常,保障芯片蝕刻質(zhì)量。芯片沉積與封裝過(guò)程中,精密環(huán)控柜的超高水準(zhǔn)潔凈度控制發(fā)揮關(guān)鍵作用。其可實(shí)現(xiàn)百級(jí)以上潔凈度控制,內(nèi)部潔凈度優(yōu)于 ISO class3,杜絕塵埃顆粒污染芯片,防止水汽對(duì)芯片材料的不良影響,確保芯片沉積層均勻、芯片封裝可靠。精密環(huán)控柜為我司自主研發(fā)的精密環(huán)境控制產(chǎn)品。
激光干涉儀用于測(cè)量微小位移,精度可達(dá)納米級(jí)別。溫度波動(dòng)哪怕只有 1℃,由于儀器主體與測(cè)量目標(biāo)所處環(huán)境溫度不一致,二者熱脹冷縮程度不同,會(huì)造成測(cè)量基線的微妙變化,導(dǎo)致測(cè)量位移結(jié)果出現(xiàn)偏差,在高精度機(jī)械加工零件的尺寸檢測(cè)中,這種偏差可能使零件被誤判為不合格品,增加生產(chǎn)成本。高濕度環(huán)境下,水汽會(huì)干擾激光的傳播路徑,使激光發(fā)生散射,降低干涉條紋的對(duì)比度,影響測(cè)量人員對(duì)條紋移動(dòng)的精確判斷,進(jìn)而無(wú)法準(zhǔn)確獲取位移數(shù)據(jù),給精密制造、航空航天等領(lǐng)域的科研與生產(chǎn)帶來(lái)極大困擾。精密環(huán)境控制設(shè)備憑借超高精度溫度控制,保障內(nèi)部溫度水平均勻性小于16mK/m。0.5℃溫濕度設(shè)備報(bào)價(jià)
設(shè)備的氣流循環(huán)系統(tǒng)經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì),確保每個(gè)角落都能均勻享受穩(wěn)定環(huán)境。0.5℃溫濕度設(shè)備報(bào)價(jià)
芯片的封裝環(huán)節(jié)同樣對(duì)溫濕度條件有著極高的敏感度。封裝作為芯片生產(chǎn)的一道關(guān)鍵工序,涉及多種材料的協(xié)同作用,包括芯片與基板的連接、外殼的封裝等。在此過(guò)程中,溫度的細(xì)微起伏會(huì)改變材料的物理特性。以熱脹冷縮效應(yīng)為例,若封裝過(guò)程溫度把控不佳,芯片與封裝外殼在后續(xù)的使用過(guò)程中,由于溫度變化產(chǎn)生不同程度的膨脹或收縮,二者之間極易出現(xiàn)縫隙。這些縫隙不僅破壞芯片的密封性,使外界的水汽、灰塵等雜質(zhì)有機(jī)可乘,入侵芯片內(nèi)部,影響芯片正常工作,還會(huì)削弱芯片與封裝外殼之間的連接穩(wěn)定性,降低芯片在各類復(fù)雜環(huán)境下的可靠性。封裝材料大多為高分子聚合物或金屬?gòu)?fù)合材料,它們對(duì)水分有著不同程度的敏感性。高濕度環(huán)境下,水分容易被這些材料吸附,導(dǎo)致材料受潮變質(zhì),如塑料封裝材料可能出現(xiàn)軟化、變形,金屬材料可能發(fā)生氧化腐蝕,進(jìn)而降低封裝的整體可靠性,嚴(yán)重縮短芯片的使用壽命,使芯片在投入使用后不久便出現(xiàn)故障。0.5℃溫濕度設(shè)備報(bào)價(jià)