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冷熱沖擊試驗(yàn)箱分為二箱吊籃式和三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱,適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐冷試驗(yàn)、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)箱,特別適用于進(jìn)行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗(yàn)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱有很多保護(hù)裝置,其中需要注意的就有過(guò)載,過(guò)載保護(hù)也是十分重要。
為什么冷熱沖擊試驗(yàn)箱會(huì)過(guò)載?每個(gè)電器設(shè)備都有其額定功率,當(dāng)超過(guò)額定功率時(shí),稱為過(guò)載,對(duì)這種狀態(tài)的保護(hù)稱為過(guò)載保護(hù)。對(duì)于防止電氣設(shè)備內(nèi)部短路的保護(hù)稱為短路保護(hù)。 冷熱沖擊試驗(yàn)箱能做加濕測(cè)試嗎?江西大型冷熱沖擊試驗(yàn)箱哪家好
冷熱沖擊試驗(yàn)箱過(guò)載是指電機(jī)運(yùn)行電流超過(guò)額定電流但小于1.5倍額定電流的運(yùn)行狀態(tài),在過(guò)流運(yùn)行狀態(tài)范圍內(nèi)。如果電機(jī)長(zhǎng)時(shí)間過(guò)載,繞組溫升會(huì)超過(guò)允許值,絕緣老化或損壞。過(guò)負(fù)荷保護(hù)要求不受電動(dòng)機(jī)短時(shí)間過(guò)負(fù)荷沖擊電流或短路電流的影響,通常使用熱繼電器作為過(guò)載保護(hù)元件。設(shè)備超過(guò)6倍的額定電流通過(guò)熱繼電器時(shí),該設(shè)備需要5s才能工作,在熱繼電器工作之前,熱繼電器的加熱元件可能已經(jīng)燒壞。因此,當(dāng)使用熱繼電器進(jìn)行過(guò)載保護(hù)時(shí),必須同時(shí)安裝短路保護(hù)裝置,如保險(xiǎn)絲或低壓斷路器。廣東實(shí)驗(yàn)室冷熱沖擊試驗(yàn)箱品牌如何對(duì)冷熱沖擊試驗(yàn)箱進(jìn)行維修及日常保養(yǎng)?
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
特點(diǎn):
1、200(60)°C~(-10)-65°C測(cè)試范圍;
2、冷熱沖擊溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間在8秒鐘以內(nèi),恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi);
3、待測(cè)品靜止自動(dòng)引導(dǎo)預(yù)冷區(qū)、室溫、預(yù)熱區(qū)溫度沖擊。
適用領(lǐng)域:
用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),航天、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,都需要用到它。
兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用須知:
1.在使用前,先對(duì)電源進(jìn)行檢查,必須要有良好的接地線;
2.冷熱沖擊箱試驗(yàn)箱測(cè)試前,要確保試驗(yàn)的物品不是易燃物品和揮發(fā)性比較強(qiáng)的物品;
3.切勿對(duì)冷熱沖擊箱試驗(yàn)箱內(nèi)部的器件進(jìn)行改動(dòng),防止產(chǎn)生一些故障,影響設(shè)備的使用壽命時(shí)間;
4.您需要特別注意;冷熱沖擊箱試驗(yàn)箱在測(cè)試前/后都需要對(duì)試驗(yàn)箱內(nèi)進(jìn)行清潔、必要的維修保養(yǎng)需要定期進(jìn)行操作;
5.維修冷熱沖擊箱試驗(yàn)箱的時(shí)候,一定要切斷電源,防止出現(xiàn)觸電事故;
6.周圍不要放置易燃易爆物品,確保試驗(yàn)環(huán)境的安全性。 冷熱沖擊試驗(yàn)箱分為哪兩種?
在如今的技術(shù)發(fā)展日新月異的時(shí)代,芯片作為電子設(shè)備的重要部件,其穩(wěn)定性和可靠性的保障顯得尤為重要。為了確保芯片在不良環(huán)境下仍能正常運(yùn)行,冷熱沖擊試驗(yàn)箱成為了不可少的工具。本文將為您詳細(xì)介紹芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱的原理、功能和應(yīng)用!
芯片冷熱沖擊試驗(yàn)箱是用于模擬不良環(huán)境下的溫度變化,來(lái)測(cè)試芯片在這些條件下的穩(wěn)定性和可靠性的設(shè)備。它具有在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行溫度變化、快速恢復(fù)溫度的特點(diǎn),可以模擬芯片在不良溫度條件下的工作狀態(tài)。這種試驗(yàn)箱通常由控制系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度傳感器等部分組成,能夠在一定范圍內(nèi)無(wú)需人為干預(yù)地實(shí)現(xiàn)溫度的循環(huán)變化,來(lái)滿足芯片冷熱沖擊試驗(yàn)的需求。
有關(guān)于冷熱沖擊試驗(yàn)箱的一些知識(shí)點(diǎn)。廣東實(shí)驗(yàn)室冷熱沖擊試驗(yàn)箱品牌
冷熱沖擊試驗(yàn)箱在汽車零部件制造領(lǐng)域的應(yīng)用。江西大型冷熱沖擊試驗(yàn)箱哪家好
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。
主要分為三廂和兩廂的試驗(yàn)箱,這兩種試驗(yàn)箱區(qū)別在于內(nèi)部結(jié)構(gòu)和實(shí)驗(yàn)方式不同,三廂可滿足三槽(高溫、常溫、低溫)和兩槽(高溫,低溫)兩種試驗(yàn)且測(cè)試產(chǎn)品是靜止的。
兩廂只可滿足于兩槽(高溫、低溫)一種試驗(yàn),測(cè)試品隨著吊籃(測(cè)試槽)高低溫區(qū)移動(dòng)。 江西大型冷熱沖擊試驗(yàn)箱哪家好