福建高精密多通道電阻測(cè)試機(jī)怎么調(diào)

一種多通道數(shù)字輸出模塊 [0006]在本實(shí)用新型中，推薦的，所述驅(qū)動(dòng)電路包括場(chǎng)效應(yīng)管，所述場(chǎng)效應(yīng)管的柵極接所述隔離器，源極為輸出端接入插座P4，源極接24V電源，同時(shí)柵極通過(guò)電阻R17也接24V電源。[0007]在本實(shí)用新型中，推薦的，所述場(chǎng)效應(yīng)管的柵極與源極之間還串接有保護(hù)二極管，所述保護(hù)二極管實(shí)現(xiàn)對(duì)場(chǎng)效應(yīng)管的過(guò)壓保護(hù)。[0008]在本實(shí)用新型中，推薦的，所述主控電路包括主控芯片U1，所述主控芯片U1連接所述隔離器，所述主控芯片U1將控制信號(hào)輸出傳遞給所述隔離器。高精密多通道LCR測(cè)試機(jī)。福建高精密多通道電阻測(cè)試機(jī)怎么調(diào)

一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域[0001]  本發(fā)明涉及LCR測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng)。背景技術(shù)[0002]LCR電感(L)、電容(C)和電阻(R)作為基本元器件，在電子產(chǎn)品中被使用。隨著電子產(chǎn)品的技術(shù)與性能不斷發(fā)展和提高，國(guó)內(nèi)相關(guān)行業(yè)對(duì)元器件的檢測(cè)技術(shù)的要求也在不斷的提高，LRC測(cè)試儀是用于測(cè)量電容、電阻、電感元件的相應(yīng)物理參數(shù)的儀器。與常用的萬(wàn)用表相比較，LRC測(cè)試儀不但測(cè)量精度更高，而且可以測(cè)量元件的多種參數(shù)，比如阻抗、品質(zhì)因素等等。然而，由于現(xiàn)有的LRC測(cè)試儀只有一對(duì)測(cè)試頭，因此，一次只能與一個(gè)元件的兩極連接，也即一次只能測(cè)量一個(gè)元件的參數(shù)。而在工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中，很多時(shí)候都需要一次對(duì)系統(tǒng)中的多個(gè)電容、電阻或者電感元件的物理參數(shù)進(jìn)行測(cè)量，以監(jiān)控這些元件的參數(shù)變化，從而判斷系統(tǒng)工作是否正常。在這種情況下，現(xiàn)有的一次只能測(cè)量一個(gè)元件參數(shù)的這種LRC測(cè)試儀就無(wú)法滿足需要了。天津TP觸摸屏功能片多排版測(cè)試機(jī)生產(chǎn)廠家高精密多通道電阻測(cè)試機(jī)價(jià)格。

[0044]本發(fā)明通過(guò)MCU模塊控制測(cè)量CPLD產(chǎn)生測(cè)量信號(hào)，測(cè)量信號(hào)經(jīng)過(guò)DDS合成單元合成正弦信號(hào)，正弦信號(hào)通過(guò)信號(hào)測(cè)量單元進(jìn)行同步采集，經(jīng)過(guò)處理后的正弦信號(hào)終分別傳輸至測(cè)量卡和掃描卡中，在測(cè)量卡上進(jìn)行測(cè)量，經(jīng)過(guò)掃描卡傳輸至產(chǎn)品上，用于驅(qū)動(dòng)產(chǎn)品。[0045]具體的，MCU模塊包括主控芯片U100，型號(hào)為TMS320F2812PGFA，該芯片作為整個(gè)系統(tǒng)的控制，用于對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的邏輯控制。其中，主控芯片U100的XA端口、XD端口與測(cè)量CPLD的IO端口連接，用于實(shí)現(xiàn)主控芯片U100與測(cè)量CPLD之間的數(shù)據(jù)傳輸。

一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng) [0007]在本發(fā)明中，進(jìn)一步的，所述主控板包括MCU模塊、測(cè)量CPLD、DDS合成單元以及信號(hào)測(cè)量單元，所述MCU模塊與所述測(cè)量CPLD連接，所述MCU模塊用于控制所述測(cè)量CPLD進(jìn)行LCR測(cè)試，所述測(cè)量CPLD與所述DDS合成單元電連接，所述測(cè)量CPLD用于控制DDS合成單元合成正弦信號(hào)，所述DDS合成單元與所述信號(hào)測(cè)量單元連接，所述信號(hào)測(cè)量單元用于同步采集所述正弦信號(hào)。[0008]在本發(fā)明中，進(jìn)一步的，所述DDS合成單元連接有濾波電路和差分電路，所述濾波電路和差分電路用于濾除信號(hào)的諧波和高頻干擾。多路LCR測(cè)試系統(tǒng) 測(cè)試機(jī)。

根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述通道切換單元包括若干結(jié)構(gòu)相同的通道切換電路，所述通道切換電路包括與所述通道數(shù)量相對(duì)應(yīng)的繼電器，所述繼電器與所述掃描CPLD連接。 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述掃描卡和測(cè)量卡至多可設(shè)置13張。10.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種多通道高精密LCR測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述MCU模塊包括主控芯片U100，所述主控芯片U100連接有USB單元以及網(wǎng)絡(luò)通訊單元，所述USB單元用于實(shí)現(xiàn)主控芯片U100與外界的USB通訊，所述網(wǎng)絡(luò)通訊單元用于實(shí)現(xiàn)組網(wǎng)?？焖貺CR測(cè)試機(jī)具體操作原理。重慶高精密多通道電阻測(cè)試機(jī)價(jià)格

蘇州茂鼎電子的多路電阻測(cè)試機(jī)怎么使用？福建高精密多通道電阻測(cè)試機(jī)怎么調(diào)

一種多通道數(shù)字輸出模塊 [0009]在本實(shí)用新型中，推薦的，所述主控芯片U1還連接有通訊電路，所述通訊電路包括通訊接口RJ1和通訊芯片U2，所述通訊芯片U2與所述主控芯片U1連接，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的交互，所述通訊芯片U2與所述通訊接口RJ1連接，所述通訊接口RJ1用于與外設(shè)連接，所述通訊芯片U2通過(guò)所述通訊接口RJ1實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的收發(fā)。[0010]在本實(shí)用新型中，推薦的，所述主控芯片U1還連接有復(fù)位電路，所述復(fù)位電路包括復(fù)位按鈕，所述復(fù)位按鈕的2號(hào)端口通過(guò)電阻R2接3.3V電源，同時(shí)通過(guò)電阻R3接入主控芯片U1，所述復(fù)位按鈕的1號(hào)端口接地，通過(guò)復(fù)位按鈕實(shí)現(xiàn)對(duì)主控芯片U1的重置。福建高精密多通道電阻測(cè)試機(jī)怎么調(diào)

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