APPH20G相噪分析儀相位噪聲測(cè)量

相位噪聲的概念：

相位噪聲是指信號(hào)源中，輸出頻率的短期穩(wěn)定性指標(biāo)。由于相位噪聲的存在，引起載波頻譜的擴(kuò)展。在實(shí)際應(yīng)用，所有信號(hào)源的輸出都存在著幅度、頻率或相位的起伏，這些相位起伏的特征描述通常叫做相位噪聲。

相位噪聲的來(lái)源：

信號(hào)源中的雜散分量一般是由電源紋波、機(jī)械振動(dòng)或系統(tǒng)內(nèi)部鑒相信號(hào)的泄漏或其它電路的信號(hào)蜜擾，具有一定的規(guī)律性。另外一種旱隨機(jī)分布的相位噪聲通常是由振蕩器本身內(nèi)各器件所產(chǎn)生的各種隨機(jī)噪聲引起的。 APPH相噪分析儀是一款一體式緊湊型相位噪聲測(cè)量系統(tǒng)。APPH20G相噪分析儀相位噪聲測(cè)量

隨著電子技術(shù)的發(fā)展，器件的噪聲系數(shù)越來(lái)越低，放大器的動(dòng)態(tài)范圍也越來(lái)越大，增益也大有提高，使得電路系統(tǒng)的靈敏度和選擇性以及線性度等主要技術(shù)指標(biāo)都得到較好的解決。同時(shí)，隨著技術(shù)的不斷提高，對(duì)電路系統(tǒng)又提出了更高的要求，這就要求電路系統(tǒng)必須具有較低的相位噪聲，在現(xiàn)代技術(shù)中，相位噪聲已成為限制電路系統(tǒng)的主要因素。低相位噪聲對(duì)于提高電路系統(tǒng)性能起到重要作用。相位噪聲指標(biāo)是射頻、微波領(lǐng)域一項(xiàng)非常關(guān)鍵的指標(biāo)，相位噪聲指標(biāo)的測(cè)試是研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、調(diào)試必須進(jìn)行測(cè)試的一項(xiàng)指標(biāo)，測(cè)試準(zhǔn)確度要求較高，需要考慮的因素較多。浙江進(jìn)口相噪分析儀多少錢(qián)APPH系列是是一款功能齊全的高性能信號(hào)源分析儀（相位噪聲分析儀），其型號(hào)范圍為1 MHz至7、26或40 GHz。

相位噪聲一般是指在系統(tǒng)內(nèi)各種噪聲作用下引起的輸出信號(hào)相位的隨機(jī)起伏。通常相位噪聲又分為頻率短期穩(wěn)定度和頻率長(zhǎng)期穩(wěn)定度。所謂頻率短期穩(wěn)定度，是指由隨機(jī)噪聲引起的相位起伏或頻率起伏。至于因?yàn)闇囟?、老化等引起的頻率慢漂移，則稱(chēng)之為頻率長(zhǎng)期穩(wěn)定度。通常我們主要考慮的是頻率短期穩(wěn)定度問(wèn)題，可以認(rèn)為相位噪聲就是頻率短期穩(wěn)定度。AnaPico APPH系列高性能相位噪聲分析儀標(biāo)配互相關(guān)測(cè)試技術(shù)，可在數(shù)秒內(nèi)完成連續(xù)波信號(hào)和極窄脈沖信號(hào)的jue對(duì)相位噪聲、幅度噪聲、加性噪聲等測(cè)量。

頻譜分析儀測(cè)量相位噪聲，但有很多局限性。測(cè)量靈敏度不高，受光譜固有相位噪聲的限制。由于頻譜是超外差接收機(jī)結(jié)構(gòu)，接收機(jī)本振的相位噪聲限制了頻譜測(cè)量?jī)x測(cè)量相位噪聲的靈敏度。無(wú)法區(qū)分幅度調(diào)制噪聲和相位噪聲。因?yàn)閮烧叨紩?huì)產(chǎn)生光譜的擴(kuò)張。無(wú)法測(cè)量非常接近的載波的相位噪聲。頻偏受分辨率濾波形狀因素的限制。頻譜分析儀的動(dòng)態(tài)范圍也限制了相位噪聲測(cè)量靈敏度。由于噪聲功率和載波功率之間的巨大差異，頻譜分析儀的動(dòng)態(tài)范圍也限制了相位噪聲測(cè)量靈敏度。AnaPico APPH系列高性能相位噪聲分析儀,其不同型號(hào)的頻率范圍覆蓋了從1MHz到65GHz.其標(biāo)配互相關(guān)測(cè)試功能。

直接頻譜分析法:直接頻譜儀法基于頻譜測(cè)量結(jié)果進(jìn)行相噪計(jì)算，優(yōu)勢(shì)在于測(cè)試設(shè)置簡(jiǎn)單、頻率偏移范圍大，除相噪外還可測(cè)試雜散、鄰信道功率泄漏(ACLR)、高次諧波和信號(hào)解調(diào)等。但該測(cè)量方法也受限于無(wú)法區(qū)分調(diào)幅(AM)噪聲和相位噪聲，無(wú)載波抑制動(dòng)態(tài)范圍有限，頻譜儀固有相噪，以及1HzRBW帶來(lái)小頻偏1Hz限制等。鑒相器法:是采用被測(cè)振蕩器與同頻的參考信號(hào)源進(jìn)行鑒相，鑒相器輸出信號(hào)經(jīng)低通濾波器和低噪聲放大器后輸入到頻譜儀或接收機(jī)中。鑒相器法測(cè)試相位噪聲優(yōu)點(diǎn)是鑒相后信號(hào)的載波被抑制，因此可以提高相位噪聲的測(cè)試靈敏度。另外，可以采用低噪聲放大器對(duì)鑒相后的信號(hào)進(jìn)行放大，從而可以降低測(cè)量接收機(jī)的噪聲系數(shù)，進(jìn)一步提高其測(cè)試靈敏度。同時(shí)，對(duì)于信號(hào)中同時(shí)存在的AM噪聲和相位噪聲，可以通過(guò)調(diào)整兩路信號(hào)的相位差，使鑒相器可以分辨AM噪聲和相位噪聲。如果兩路鑒相信號(hào)相位相差90°，則鑒相后輸出對(duì)AM噪聲的抑制可以高達(dá)40dB，當(dāng)兩路鑒相信號(hào)相位相差0°時(shí)，則輸出結(jié)果只有AM噪聲。APPH相噪分析儀操作簡(jiǎn)單，緊湊、輕便、易攜帶。廣東操作簡(jiǎn)單相噪分析儀銷(xiāo)售企業(yè)

相噪分析儀哪家公司好？可以與安鉑克了解一下，安鉑克是Anapico的原廠廠家，在電子測(cè)量方面深耕很久。APPH20G相噪分析儀相位噪聲測(cè)量

相位噪聲是許多現(xiàn)代電子系統(tǒng)和設(shè)備的一項(xiàng)重要技術(shù)指標(biāo)和關(guān)鍵性技術(shù)問(wèn)題，通過(guò)相位噪聲的表征和測(cè)試的研究，找到影響頻率源穩(wěn)定性的因素，可應(yīng)用于測(cè)控系統(tǒng)，衡量其頻率源的質(zhì)量。相位噪聲是許多現(xiàn)代電子系統(tǒng)和設(shè)備(包括測(cè)控、雷達(dá)、通信、導(dǎo)航、干涉儀、射電天文、電子測(cè)量和近代物理實(shí)驗(yàn)等)的一項(xiàng)重要技術(shù)指標(biāo)和關(guān)鍵性技術(shù)問(wèn)題，通過(guò)相位噪聲的表征和測(cè)試的研究，找到影響頻率源穩(wěn)定性的因素，可應(yīng)用于頻率源的設(shè)計(jì)和研制提高頻率源的質(zhì)量。APPH20G相噪分析儀相位噪聲測(cè)量

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