電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

可采用以下幾種定位方式根據(jù)工件的不同情況以“孔/孔”定位，對(duì)于狹長(zhǎng)形的UUT，由于其容易變形，使用上述1和2的方式均需要用到電路板的外緣輪廓，因此并不準(zhǔn)確，此時(shí)應(yīng)采用雙孔定位。注意對(duì)于變形較大的UUT，此孔的位置也不宜選在電路板的兩端，但兩孔間距也不宜過小，設(shè)計(jì)時(shí)定位柱和定位孔的間隙適量放大，一般在0.1mm～0.3mm。綜上可見，電路板的定位對(duì)于治具設(shè)計(jì)極為重要，不同的定位方式直接影響到定位精度及測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu), 因此定位方式的選擇很重要。綜合考慮以上各種現(xiàn)行方案的優(yōu)缺點(diǎn)，設(shè)計(jì)為 “一面兩空”的定位方式，如下如所示，即利用UUT的一個(gè)平面和兩個(gè)（或多個(gè)）定位孔，特點(diǎn)是制取方法容易、夾具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、制造加工容易,、滿足精度要求。單元功能測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試單一功能的設(shè)備。電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

零點(diǎn)漂移自校正:測(cè)量中較常見的問題就是長(zhǎng)期工作時(shí)的不穩(wěn)定性和零點(diǎn)漂移。這主要是由于傳感器和放人器的零漂造成的。在智能儀器中，利用計(jì)算機(jī)對(duì)由于這種零漂而造成的誤差進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償和修正，或?qū)Ψ糯笃鞯脑鲆孢M(jìn)行自動(dòng)調(diào)整。從而可在不采用高成本的電子元器件的情況上解決零點(diǎn)漂移問題。提高信噪比:利用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的計(jì)算和數(shù)據(jù)處理功能，用軟件的方法去除噪聲?？刂茰y(cè)量過程及對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的自動(dòng)和實(shí)時(shí)的處理和分析:通過在智能儀器上的計(jì)算機(jī)來實(shí)現(xiàn)。嘉興電源測(cè)試系統(tǒng)定制小型化趨勢(shì)：隨著電子產(chǎn)品向小型化發(fā)展，功能測(cè)試系統(tǒng)也需要適應(yīng)這一趨勢(shì)，實(shí)現(xiàn)便攜式、高效測(cè)試。

測(cè)試方式選擇（TMS）用來加載控制信息；其次定義了由TAP控制器支持的幾種不同測(cè)試模式，主要有外測(cè)試（EXTEST）、內(nèi)測(cè)試（INTEST）、運(yùn)行測(cè)試（RUNTEST）；較后提出了邊界掃描語(yǔ)言（Boundary Scan Description Language），BSDL語(yǔ)言描述掃描器件的重要信息，它定義管腳為輸入、輸出和雙向類型，定義了TAP的模式和指令集。具有邊界掃描的器件的每個(gè)引腳都和一個(gè)串行移位寄存器（SSR）的單元相接，稱為掃描單元，掃描單元連在一起構(gòu)成一個(gè)移位寄存器鏈，用來控制和檢測(cè)器件引腳。其特定的四個(gè)管腳用來完成測(cè)試任務(wù)。

測(cè)試對(duì)象的功能測(cè)試應(yīng)側(cè)重于所有可直接追蹤到用例或業(yè)務(wù)功能和業(yè)務(wù)規(guī)則的測(cè)試需求。這種測(cè)試的目標(biāo)是核實(shí)數(shù)據(jù)的接受、處理和檢索是否正確，以及業(yè)務(wù)規(guī)則的實(shí)施是否恰當(dāng)。測(cè)試目標(biāo) 確保測(cè)試的業(yè)務(wù)功能正常，其中包導(dǎo)航性質(zhì)菜單，數(shù)據(jù)輸入，處理和檢索等功能。功能系統(tǒng)測(cè)試，根據(jù)產(chǎn)品特性、操作描述和用戶方案，測(cè)試一個(gè)產(chǎn)品的特性和可操作行為以確定它們滿足設(shè)計(jì)需求。本地化軟件的功能測(cè)試，用于驗(yàn)證應(yīng)用程序或網(wǎng)站對(duì)目標(biāo)用戶能正確工作。各種功能測(cè)試系統(tǒng)：涵蓋各類電子設(shè)備，為不同領(lǐng)域提供專業(yè)測(cè)試解決方案。

PCBA通用型自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)ETE-A100，是針對(duì)滯后的手工測(cè)試以及為了滿足PCBA測(cè)試在操作簡(jiǎn)便性上的需求而誕生的 。由于測(cè)試系統(tǒng)的強(qiáng)大，可對(duì)各種PCBA進(jìn)行測(cè)試，成為通用化測(cè)試系統(tǒng)。檢測(cè)原理人性化：通過對(duì)樣板的參數(shù)采集，設(shè)定誤差范圍，與被測(cè)板進(jìn)行比較并判斷是否合格。測(cè)試操作簡(jiǎn)易化：只需手動(dòng)將針床壓合，系統(tǒng)就會(huì)自動(dòng)化處理，并得出產(chǎn)品好壞結(jié)果，免去人為判斷因素，其速度是手動(dòng)測(cè)試無法比擬的。系統(tǒng)由采集、控制板卡及測(cè)試軟件組成，外接可編程AC/DC電源和直流負(fù)載，高采樣率產(chǎn)品可選配外接示波器。驗(yàn)收功能測(cè)試系統(tǒng)用于驗(yàn)證產(chǎn)品符合規(guī)格要求。上海單元測(cè)試系統(tǒng)服務(wù)商

功能測(cè)試系統(tǒng)有利于產(chǎn)品上市前的全方面驗(yàn)收。電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

操作系統(tǒng)，可供電路板測(cè)試選擇的操作系統(tǒng)很多，例如UNIX、OS、Windows、Solaris等，選擇操作系統(tǒng)時(shí)受限于硬件設(shè)備的支持、程序人員的技術(shù)水平、操作系統(tǒng)的普及程度和操作系統(tǒng)本身特點(diǎn)等諸多因素，趨于采用廣為普及的Windows操作系統(tǒng)?？偩€技術(shù)，電路板測(cè)試技術(shù)的發(fā)展與儀器控制總線的發(fā)展永遠(yuǎn)是密切相關(guān)的，儀器控制總線的每一次更新都促進(jìn)電路板測(cè)試技術(shù)的更新。儀器控制總線有GPIB總線、VXI總線和PXI總線三種，它們是發(fā)展過程中依次出現(xiàn)的總線技術(shù)，表示著電路板測(cè)試技術(shù)的發(fā)展歷程。GPIB總線是早期出現(xiàn)的儀器接口控制總線，多用于常見的臺(tái)式儀器上，采用該總線集成的系統(tǒng)體積大、數(shù)據(jù)傳輸速率低（較大數(shù)據(jù)傳輸速率為1MB/s）且同一系統(tǒng)總線上較多可連15臺(tái)儀器。電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)