PCBA功能測(cè)試系統(tǒng)有什么用

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-09-03

80年代由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地,于上世紀(jì)80年代后期,90年代初期,***開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀,并推出眾多品牌的壓床式ICT,其價(jià)格更加低廉,迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng),并因電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始,國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類似的靜態(tài)測(cè)試儀,1993年,中國(guó)本土品牌更先進(jìn)日本韓國(guó)***及香港開(kāi)發(fā)出全亞洲頭一臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至這里,美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是先進(jìn)品牌,成為事實(shí)上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)! 優(yōu)點(diǎn)小型功能測(cè)試系統(tǒng)適用于空間受限的環(huán)境。PCBA功能測(cè)試系統(tǒng)有什么用

PCBA功能測(cè)試系統(tǒng)有什么用,測(cè)試系統(tǒng)

測(cè)試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來(lái),存入計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)中,然后與同類有故障的電路板進(jìn)行比較,從而準(zhǔn)確地找出故障部位。VI特性測(cè)試分析該項(xiàng)測(cè)試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上,可用于模擬、數(shù)字、專門使用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測(cè)試。測(cè)試儀通過(guò)測(cè)試探棒或測(cè)試夾自動(dòng)把被測(cè)點(diǎn)的特征曲線提取出來(lái),顯示在微機(jī)屏幕上,較后存入計(jì)算機(jī)。進(jìn)特故障診斷時(shí),將實(shí)測(cè)到的VI曲線與事先存貯的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行比較,進(jìn)而發(fā)現(xiàn)故障。嘉興變壓器綜合測(cè)試系統(tǒng)哪家好無(wú)線綜合功能測(cè)試系統(tǒng)適用于測(cè)試無(wú)線設(shè)備功能。

PCBA功能測(cè)試系統(tǒng)有什么用,測(cè)試系統(tǒng)

示例,提供了分別對(duì)應(yīng)ICT和FCT的硬件及軟件模塊,可以測(cè)試空調(diào)、冰箱等家電控制板,使電路板的ICT和FCT 測(cè)試可以在同一個(gè)針床和同一道工序上完成。而且即使客戶需要更高的吞吐量、更寬的產(chǎn)品種類、更自動(dòng)的流水線方式,都依然可以通過(guò)這種低成本方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。這些特點(diǎn)為本身具有更高測(cè)試需求同時(shí)不希望增加測(cè)試成本的客戶提供了較好的解決方案。良品/不良品分揀功能:通過(guò)對(duì)HD-1000進(jìn)行輕松編程,可以根據(jù)電路板的OK/NG測(cè)試結(jié)果,自動(dòng)使NG的不良品組件流入收納箱或暫存軌道,使OK的良品組件流入正常的下一道工序。

測(cè)試儀主要功能,測(cè)試儀采用電路在線測(cè)試技術(shù),可以用來(lái)在線或離線測(cè)試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見(jiàn)故障,測(cè)試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。數(shù)字芯片的功能測(cè)試測(cè)試的基本原理是檢測(cè)并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài),將其記錄的狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表進(jìn)行比較,從而判斷被測(cè)芯片功能是否正確。數(shù)字芯片的狀態(tài)測(cè)試電路板上每個(gè)數(shù)字器件,在加電后都有三種狀態(tài)特征:各管腳的邏輯狀態(tài)(電源、地、高阻、信號(hào)等)、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當(dāng)器件發(fā)生故障后,其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。電路板功能測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)電路板的各項(xiàng)功能。

PCBA功能測(cè)試系統(tǒng)有什么用,測(cè)試系統(tǒng)

測(cè)試對(duì)象的功能測(cè)試應(yīng)側(cè)重于所有可直接追蹤到用例或業(yè)務(wù)功能和業(yè)務(wù)規(guī)則的測(cè)試需求。這種測(cè)試的目標(biāo)是核實(shí)數(shù)據(jù)的接受、處理和檢索是否正確,以及業(yè)務(wù)規(guī)則的實(shí)施是否恰當(dāng)。測(cè)試目標(biāo) 確保測(cè)試的業(yè)務(wù)功能正常,其中包導(dǎo)航性質(zhì)菜單,數(shù)據(jù)輸入,處理和檢索等功能。功能系統(tǒng)測(cè)試,根據(jù)產(chǎn)品特性、操作描述和用戶方案,測(cè)試一個(gè)產(chǎn)品的特性和可操作行為以確定它們滿足設(shè)計(jì)需求。本地化軟件的功能測(cè)試,用于驗(yàn)證應(yīng)用程序或網(wǎng)站對(duì)目標(biāo)用戶能正確工作。功能測(cè)試系統(tǒng)有助于提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品一致性。上海單元測(cè)試系統(tǒng)定制價(jià)格

環(huán)保型測(cè)試:功能測(cè)試系統(tǒng)在保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時(shí),降低能源消耗和環(huán)境污染。PCBA功能測(cè)試系統(tǒng)有什么用

接口技術(shù)。針對(duì)不同電路板的的測(cè)試,已出現(xiàn)多種通用接口標(biāo)準(zhǔn)。如商用領(lǐng)域的ARINC,jun工領(lǐng)域的CASS,航空領(lǐng)域的MATE等。在商業(yè)領(lǐng)域大量使用的ARINC接口發(fā)展較快,指令完備,但成本較高,適用于大、中型企業(yè)和機(jī)構(gòu)的使用。電路板測(cè)試已經(jīng)向通用化、標(biāo)準(zhǔn)化、開(kāi)放式、模塊化、系列化的方向發(fā)展,相關(guān)技術(shù)發(fā)展也緊跟世界高新技術(shù)保持同步,充分利用了工業(yè)界多年來(lái)所取得的成果,成為跨學(xué)科、跨領(lǐng)域、跨專業(yè)的一門綜合技術(shù)學(xué)科。在線測(cè)試,主要進(jìn)行測(cè)量控制板的R/L/C等元器件的電氣數(shù)值,以確定有無(wú)反插、漏件、錯(cuò)插件等;功能測(cè)試,主要檢測(cè)主板整體運(yùn)行性能參數(shù)是否達(dá)標(biāo),各模塊工作是否正常等;只有成功經(jīng)過(guò)以上兩步測(cè)試的控制板才算是合格產(chǎn)品。PCBA功能測(cè)試系統(tǒng)有什么用